公开(公告)号：CN106847343A

公开(公告)日：2017-06-13

申请号：CN201611122146.9

申请日：2016-12-08

Applicant: 上海精密计量测试研究所 ,  上海航天信息研究所

Inventor： 王立恒 ,  徐导进 ,  刘大鹏 ,  王华铭

IPC: G11C29/56

CPC classification number: G11C29/56 ,  G11C2029/5606

Abstract: 本发明提供一种基于自动测试设备的MARM存储器的测试方法，所述测试方法包括：步骤S1，将自动测试设备与MARM 存储器电连接；步骤S2，对MRAM存储器进行全芯片存储单元读写功能验证；步骤S3，根据MARM存储器工作参数设定要求，对MARM存储器进行直流参数验证和交流参数验证。本发明提供的方法利用自动测试设备针对MARM存储器进行测试，能够发现MARM存储器的故障，所述测试方法能够检测MARM存在的各种可能的失效模式，包括：全芯片存储单元读写功能验证；直流参数验证和交流参数验证。

公开(公告)号：CN106526454A

公开(公告)日：2017-03-22

申请号：CN201611042197.0

申请日：2016-11-24

Applicant: 上海精密计量测试研究所 ,  上海航天信息研究所

Inventor： 刘大鹏 ,  徐导进 ,  王华铭

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2834 ,  G01R31/2868

Abstract: 本发明提供一种基于ATE的FPGA配置芯片的测试方法，其特征在于，包括：设定器件工作电源、输入电平、输出电平、参考电平、负载电流的值，设定器件的上电次序，设定器件的地址信号、控制信号和数据信号的数据格式、时序、通道和控制寄存器的分配，分别进行全芯片的擦除与验证、单个扇区的擦除与验证、写状态寄存器验证、读芯片ID验证、全芯片存储单元的读写功能验证、写保护验证、直流参数验证以及交流参数验证。本发明提出的基于ATE的FPGA配置芯片的测试方法，基于T5385ES超大规模集成电路存储器测试系统，针对EPCS16SI8N编写专用的测试图形，完成对EPCS16SI8N的测试，检测其可能存在的失效模式。

公开(公告)号：CN105551528A

公开(公告)日：2016-05-04

申请号：CN201510906033.7

申请日：2015-12-10

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 王华铭 ,  徐导进 ,  刘大鹏

IPC: G11C29/56

CPC classification number: G11C29/56016

Abstract: 本发明提供了基于ATE的高速大容量多芯片Flash模块的测试装置及方法，本发明提供的基于ATE的高速大容量多芯片Flash模块的测试装置包括：自动测试设备、测试转接电路、测试控制机；所述转接电路用于连接自动测试设备与待测Flash模块，通过所述测试控制机控制自动测试设备测试。

公开(公告)号：CN213042271U

公开(公告)日：2021-04-23

申请号：CN202021356576.9

申请日：2020-07-10

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 王立恒 ,  刘大鹏 ,  王华铭 ,  罗宇华

IPC: G06F11/22

Abstract: 本实用新型提供一种V4型FPGA在线配置测试接口板，所述接口板上设置有I/O接口、电源接口和配置接口；I/O接口连接被测FPGA的I/O引脚与测试设备的数字通道，对FPGA输入信号以及对输出信号进行比较判断；电源接口连接被测FPGA的电源引脚与测试设备的电源模块，对FPGA电源进行供电；配置接口与测试设备的数字通道直接连接。本实用新型解决的问题是提供一种在线配置FPGA的测试接口板，以解决配置程序容量有限的问题，以及每次配置程序加载，操作复杂、无法自动测试、效率不高的问题和减少硬件资源配置，降低测试接口板成本的问题，并且解决J750‑EX测试设备硬件资源与FPGA电源驱动电流无法匹配的问题。