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公开(公告)号:CN119727273A
公开(公告)日:2025-03-28
申请号:CN202510237685.X
申请日:2025-03-03
Applicant: 广州和信实业有限责任公司
Abstract: 本发明涉及电机组装技术领域,具体地说,涉及一种电机组装用具有可调节结构的零部件夹持装置及其方法,包括用来运输电机底座的输送装置、若干规则设置于输送装置右侧的固定平台、能够在固定平台顶面上移动的夹持装置、用来放置零部件的放置机构、随着夹持装置移动而带动放置机构内部结构转动的翻转装置以及驱动输送装置运输的驱动机构。该电机组装用具有可调节结构的零部件夹持装置及其方法,根据不同零部件的型号可以直接更换放置机构中采用模块化设计的部件放置架,并调整液压夹具的高度而改变夹持的位置,使得整体结构能够满足不同型号的电机的组装工作,而确保运输零部件时的稳定性。
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公开(公告)号:CN119716469A
公开(公告)日:2025-03-28
申请号:CN202411763708.2
申请日:2024-12-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及一种芯片故障检测方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。所述方法包括:在预先构建的电测平台上采用预先开发的电测程序,对待测芯片的各个待测试项进行测试,得到测试结果;若所述测试结果指示所述待测芯片存在故障,则基于所述测试结果,定位所述待测芯片中的故障模块;基于所述故障模块,确定所述故障模块的电路分析方式;对所述故障模块进行动态应力激发,并基于所述电路分析方式对所述动态应力激发后的故障模块进行电路故障检测,确定所述故障模块中出现故障的电路。采用本方法能够对芯片的异常故障进行高效且精细化的检测。
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公开(公告)号:CN119716303A
公开(公告)日:2025-03-28
申请号:CN202411740525.9
申请日:2024-11-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种低电平直接驱动试验系统和试验方法,该系统包括信号处理设备、信号发生装置、功放保护装置和信号采集装置;信号处理设备分别连接信号发生装置和功放保护装置,信号发生装置中的功率放大器的输出端连接功放保护装置,功放保护装置与待测飞行器的测试端连接,信号采集装置设置于待测飞行器上,并与信号处理设备连接;信号处理设备用于控制信号发生装置输出测试信号,并对信号采集装置采集的待测飞行器上的状态数据进行处理和分析,得到测试结果;功放保护装置用于对功率放大器输出端的信号进行监测,并对功率放大器进行保护处理。通过对功率放大器进行保护处理,使功率放大器输出稳定的测试信号,提高了试验结果的稳定性。
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公开(公告)号:CN119714393A
公开(公告)日:2025-03-28
申请号:CN202411862129.3
申请日:2024-12-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种近红外光电探测器性能测试方法、装置以及设备。所述方法包括:在对目标探测器进行性能测试的过程中,获取多种测试策略对应的测试参数,根据各测试参数分别对目标探测器进行性能测试,可以得到各测试参数对应的性能参数,根据各性能参数能够确定目标探测器的性能测试结果,其中,多种测试策略包括应力测试、脉冲光响应测试以及噪声测试中的至少两种。采用本方法能够提高测试的准确性。
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公开(公告)号:CN119555711B
公开(公告)日:2025-03-28
申请号:CN202510120710.6
申请日:2025-01-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种材料均匀性的自动化检测方法和计算机设备,所述方法包括:设置X射线发射器的电压、电流和曝光时间条件,并且设置待测材料的观察区域和均匀性判定标准;对探测器表面直接照射X射线,获得空场探测图像像素点灰度值:将待测材料放置在探测器表面,对探测器表面照射X射线,获得满场探测图像像素点灰度值;根据空场探测图像的像素点灰度值和满场探测图像的像素点灰度值,计算获取待测材料在观察区域的变异系数;将观察区域的变异系数与所设置的均匀性判定标准进行对比,当变异系数低于判定标准时判断材料均匀性满足要求,否则判断材料均匀性不合格。本发明能够对材料不同区域的致密性、厚度的一致性等进行快速检验判断。
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公开(公告)号:CN119463372B
公开(公告)日:2025-03-28
申请号:CN202510053268.X
申请日:2025-01-14
Applicant: 浦江和信塑胶制品有限公司
IPC: C08L25/06 , C08L75/04 , C08L23/16 , C08K5/00 , C08K9/10 , C08K3/04 , C08K9/06 , C08J5/18 , B32B27/30
Abstract: 本发明涉及一种双面导电片材的制备方法,属于导电塑料片材技术领域。该方法包括制备A面材料和B面材料的步骤,A面材料由聚苯乙烯、橡胶和色粉混合得到,B面材料由聚苯乙烯、导电母料和橡胶混合得到。通过双层挤出机进行挤出、干燥、注塑处理,最终得到具有双面导电性能的片材。所制得的双面导电片材具有良好的导电性能、机械强度及耐热性,适用于电子、汽车等领域。
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公开(公告)号:CN114003976B
公开(公告)日:2025-03-25
申请号:CN202111211820.1
申请日:2021-10-18
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种鸟弹几何形状的设计方法及其鸟弹,鸟弹几何形状的设计方法包括以下步骤:确定所需模拟的鸟类,测量鸟类的成年鸟体在第一状态下的最大圆周长并计算出最大直径,第一状态为成年鸟体在双翅自然合并下的状态;测量成年鸟体在第一状态下的各部位长度,并计算出躯干长度;以最大直径和躯干长度设计鸟弹的几何尺寸。本申请所提供的鸟弹几何形状的设计方法基于真实鸟体的形貌数据进行,所设计出的鸟弹能够最大限度地接近于鸟体的真实形貌,鸟弹真实度高,可有效地提供相关鸟撞试验或者鸟撞仿真分析结果的真实性,从而切实提升飞机或者飞机发动机的抗鸟击能力。
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公开(公告)号:CN119667452A
公开(公告)日:2025-03-21
申请号:CN202510200107.9
申请日:2025-02-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28 , G01M11/00 , G06F30/398
Abstract: 本发明公开了一种基于深度学习的硅基光互连芯片动态评估系统,涉及芯片评估技术领域,该系统公开了基本性能分析模块、光学器件筛查模块、光学器件评估模块、动态评估模块,设置光学器件筛查模块、光学器件评估模块以及动态评估模块,在开启光学器件筛查工作后,通过构建一个硅基光互连芯片的模拟模型,可以模拟硅基光互连芯片在当前性能参数下各光学器件可能的性能表现,综合分析每个光学器件的测试评估需求,根据测试评估需求的动态筛选以及排序光学器件的测试评估顺序,不再需要对每个光学器件进行测试评估,可以快速确定硅基光互连芯片中的异常光学器件,提高光学器件的测试评估精度与效率。
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公开(公告)号:CN119664238A
公开(公告)日:2025-03-21
申请号:CN202411776187.4
申请日:2024-12-05
Applicant: 江苏和信石油机械有限公司
Abstract: 本申请公开了一种高强度稳定型海洋钻具,其属于海洋钻具领域。包括:基座;安装架,固接在基座上;固定螺栓,螺纹连接在安装架上;安装板,设置在基座的下方;升降组件,设置在基座和安装板之间;钻杆,转动安装在安装板上;连杆,固接在钻杆上,且连杆贯穿安装板;转动组件,设置在安装板上,用于连杆转动;伸缩件,设置在安装板上;移动组件,设置在安装架上,用于连杆伸缩件相互靠近或者远离;清理板,倾斜设置,且可拆卸式安装在伸缩件的底部,且清理板的底部低于钻杆的底部。本申请的有益效果在于提供了一种高强度稳定型海洋钻具。
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公开(公告)号:CN119605997A
公开(公告)日:2025-03-14
申请号:CN202510060919.8
申请日:2025-01-15
Applicant: 扬州和信食品有限公司
Inventor: 徐爱民
IPC: A23L29/30 , A23L33/21 , A23L29/256 , A23L29/269 , A23L5/30 , A23B2/53 , A23L5/20
Abstract: 本发明涉及面条生产工艺技术领域,且公开了一种具有高纤维含量的魔芋面条生产工艺,包括以下步骤:原料准备、混合搅拌、静置醒发、成型、熟化、冷却和干燥。这种具有高纤维含量的魔芋面条生产工艺具有营养丰富、口感良好、工艺创新和安全性高等诸多优越性,具有广阔的市场前景和应用价值。
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