电子系统加速因子评定方法

    公开(公告)号:CN113393072A

    公开(公告)日:2021-09-14

    申请号:CN202110366001.8

    申请日:2021-04-06

    Abstract: 本发明涉及电子系统可靠性试验技术领域,公开了一种电子系统加速因子评定方法,包括确认令电子系统存在多故障机理协同效应的目标敏感应力;针对所述目标敏感应力开展加速试验,获取加速因子试验数据;选择所述目标敏感应力的第一加速模型,并对所述第一加速模型进行改进,获取第二加速模型;根据所述加速因子试验数据对所述第二加速模型进行参数估计,获得第三加速模型;根据所述第三加速模型获取加速因子。本发明提供的电子系统加速因子评定方法以系统级电子产品整体为对象,考虑在同应力条件下电子系统多种故障机理间存在协同效应的影响对经典加速模型进行改进,可以解决经典加速模型无法应用于系统级电子产品的问题。

    光电检测仪器可靠性评估方法和装置

    公开(公告)号:CN109059988B

    公开(公告)日:2021-04-16

    申请号:CN201810738449.6

    申请日:2018-07-06

    Abstract: 本申请涉及一种光电检测仪器可靠性评估方法包括如下步骤:获取对设定数量个光电检测仪器进行可靠性试验得到的试验数据。其中,试验数据为设定环境条件下,对光电检测仪器进行设定次数的可靠性试验得到的试验数据。设定环境条件为光电检测仪器的应用环境类别对应的试验条件。设定次数为光电检测仪器的MTBF指标对应的试验次数。根据试验数据,对各个光电检测仪器进行可靠性评估,得到可靠性指标。通过根据光电检测仪器的在应用环境类别对应的设定环境条件下,对被测的光电检测仪器开展设定次数的可靠性试验得到的试验数据,进行可靠性评估,有效、准确地试验得到光电检测仪器的可靠性指标,为光电检测仪器的生产或设计,提供产品改进的技术支撑。

    项目技术就绪度的获取方法、装置和存储介质

    公开(公告)号:CN110097265A

    公开(公告)日:2019-08-06

    申请号:CN201910315946.X

    申请日:2019-04-19

    Abstract: 本申请涉及一种项目技术就绪度的获取方法、装置、计算机设备和存储介质。本方法获取待评项目的关键技术元素以及各关键技术元素的技术就绪度初评等级;分别以各关键技术元素作为待评关键技术元素,根据待评关键技术元素的技术就绪度初评等级以及其他关键技术元素的技术就绪度初评等级,确定待评关键技术元素与其他关键技术元素的集成作用系数;根据待评关键技术元素与其他各个关键技术元素的技术就绪度初评等级间的差值计算待评关键技术元素的技术就绪度终评等级,获得各关键技术元素的技术就绪度终评等级;根据各关键技术元素的技术就绪度终评等级确定待评项目的技术就绪度,有效提高待评项目技术就绪度评价的准确性,为用户提供准确的项目评价。

    光电检测仪器可靠性评估方法和装置

    公开(公告)号:CN109059988A

    公开(公告)日:2018-12-21

    申请号:CN201810738449.6

    申请日:2018-07-06

    CPC classification number: G01D18/00

    Abstract: 本申请涉及一种光电检测仪器可靠性评估方法包括如下步骤:获取对设定数量个光电检测仪器进行可靠性试验得到的试验数据。其中,试验数据为设定环境条件下,对光电检测仪器进行设定次数的可靠性试验得到的试验数据。设定环境条件为光电检测仪器的应用环境类别对应的试验条件。设定次数为光电检测仪器的MTBF指标对应的试验次数。根据试验数据,对各个光电检测仪器进行可靠性评估,得到可靠性指标。通过根据光电检测仪器的在应用环境类别对应的设定环境条件下,对被测的光电检测仪器开展设定次数的可靠性试验得到的试验数据,进行可靠性评估,有效、准确地试验得到光电检测仪器的可靠性指标,为光电检测仪器的生产或设计,提供产品改进的技术支撑。

Patent Agency Ranking