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公开(公告)号：CN114003976B
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202111211820.1
申请日：2021-10-18
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种鸟弹几何形状的设计方法及其鸟弹，鸟弹几何形状的设计方法包括以下步骤：确定所需模拟的鸟类，测量鸟类的成年鸟体在第一状态下的最大圆周长并计算出最大直径，第一状态为成年鸟体在双翅自然合并下的状态；测量成年鸟体在第一状态下的各部位长度，并计算出躯干长度；以最大直径和躯干长度设计鸟弹的几何尺寸。本申请所提供的鸟弹几何形状的设计方法基于真实鸟体的形貌数据进行，所设计出的鸟弹能够最大限度地接近于鸟体的真实形貌，鸟弹真实度高，可有效地提供相关鸟撞试验或者鸟撞仿真分析结果的真实性，从而切实提升飞机或者飞机发动机的抗鸟击能力。
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公开(公告)号：CN119469677A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202411384876.0
申请日：2024-09-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种局部控温的激光扫描振镜寿命试验装置及试验方法，局部控温的激光扫描振镜寿命试验装置包括试验台、激光振镜组件、温度调节机构、激光器和位置探测器，温度调节机构包括加热风扇和热风管，通过将热风管一端与加热风扇的输出端固定连通，热风管的另一端套设在激光振镜组件外，实现对激光振镜组件的集中加热，并且通过不同规格的加热管配合不同规格的激光振镜组件，从而实现对激光振镜组件的温度进行调节，进而配合激光器和位置探测器检测激光振镜组件的耐环境适应能力。
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公开(公告)号：CN118821498B
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202411303690.8
申请日：2024-09-19
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F30/15 , G06F111/08
Abstract: 本发明公开了一种外来异物穿越螺旋桨概率分析计算方法和计算机设备，所述方法包括：针对不同形状的异物，通过异物的形状特征参数构建异物模型；确定螺旋桨桨叶撞击半径处的翼型，构建桨叶翼型外轮廓边界平行线，确定撞击半径处翼型外轮廓特征弧长；利用撞击半径处翼型外轮廓的特征弧长、撞击半径、螺旋桨桨叶数量、异物相对运动矢量方向与撞击半径处螺旋桨的相对线速度方向的夹角以及异物的形状特征参数，计算得到异物穿越螺旋桨的概率。本发明不需要利用计算机仿真的方式，即可在螺旋桨真实三维形貌基础上，计算得到典型工况条件下异物穿越螺旋桨的概率，可减少穿越概率计算的时间和计算资源，有效提高穿越概率的分析效率。
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公开(公告)号：CN114323354B
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202111492571.8
申请日：2021-12-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种压力变送器的补偿方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取所述传感组件中金属传感膜片在腐蚀环境下腐蚀预设时间后，所述金属传感膜片的腐蚀剩余厚度；确定所述压力变送器在所述腐蚀环境下的输出模型；根据所述输出模型分别获取所述金属传感膜片在初始厚度和在所述腐蚀剩余厚度下所述压力变送器的输出值，并构建所述压力变送器的漂移模型；根据所述漂移模型确定所述金属传感膜片在所述腐蚀环境下的补偿值，并对所述压力变送器的输出值进行补偿。采用本方法能够对压力变送器的输出值进行补偿，从而提高压力变送器的测量精度。
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公开(公告)号：CN112084688B
公开(公告)日：2023-10-03
申请号：CN202010830078.1
申请日：2020-08-18
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/23 , G06F113/10 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及电子束选区熔化增材制造技术领域，公开了一种阴极寿命预测方法。所述阴极寿命预测方法通过对所述EBSM打印设备进行打印试验，获取所述阴极在不同气压环境下，所述阴极的中毒深度与打印时间的变化关系，以建立所述阴极的中毒深度模型。在所述EBSM打印设备的实际使用过程中，通过对打印时间、电子枪内部的气压以及成形腔内部的气压进行监测，结合试验获得的所述阴极的中毒深度模型，获取所述阴极在打印过程中的中毒深度。通过中毒深度获取所述阴极的剩余寿命，以完成对所述阴极的寿命预测。本发明提供的所述阴极寿命预测方法是基于阴极的中毒失效机理来实现对实际EBSM打印过程中阴极的剩余寿命进行预测的，预测效果较为精准可靠。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111660559A
公开(公告)日：2020-09-15
申请号：CN202010364675.X
申请日：2020-04-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: B29C64/153 , B29C64/20 , B29C64/393 , B33Y30/00 , B33Y50/02
Abstract: 本申请涉及一种增材制造装备及其校准方法。其中，增材制造装备包括能量源，用于发射激光。振镜系统，用于接收且使得激光能够在一定范围内扫描。成形系统，包括底座以及成形台，成形台安装于底座上，用于接收成形材料以及经过振镜系统作用后的激光。校准系统，包括校准尺以及打印面成像装置，校准尺安装在底座上，并与打印面成像装置的相对位置固定，用于对打印面成像装置进行几何标定，打印面成像装置用于校准振镜系统。本申请可以使得振镜系统获得更准确的校准结果。
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公开(公告)号：CN109655490A
公开(公告)日：2019-04-19
申请号：CN201811357637.0
申请日：2018-11-14
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N25/72
Abstract: 本发明公开了一种空调电控部件热性能评价试验方法，包括以下步骤：确定试验监控对象；对所述试验监控对象分别进行变压缩机频率试验、变供电电压试验和变风机转速试验，通过安装在所述试验监控对象的正表面上的热电偶检测所述试验监控对象的温度值；当所述试验监控对象的温度值均满足下述公式时，判断所述受试空调通过试验，否则，判断所述受试空调没有通过试验，需要整改：P*R+T≤0.65*Tjmax，其中，P为热电偶安装面的热功耗；R为所述试验监控对象的结到壳热阻；T为所检测的试验监控对象的温度值；Tjmax为试验监控对象耐受的最高结温。本发明能够有效并高效地发现空调产品电控部件热设计缺陷和拦截次品。
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公开(公告)号：CN119827113A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411860530.3
申请日：2024-12-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01M11/02 , G01M11/04 , G06F30/20 , G06F119/04
Abstract: 本申请涉及一种振镜寿命评估方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品，应用于振镜试验系统。所述方法包括：获取多个试验条件下振镜试验系统中振镜的试验寿命；根据试验寿命、试验温度和试验转速，构建振镜加速模型；根据振镜加速模型、各试验条件和正常工作条件，确定振镜在正常工作条件下的振镜寿命；试验条件包括试验温度和试验转速。上述方法通过振镜的试验寿命、振镜的试验温度和试验转速，先构建振镜加速模型，再基于振镜加速模型、各试验条件和正常工作条件，确定振镜在正常工作条件下的振镜寿命，为确定正常工作条件下的振镜寿命提供了一种方法，填补了无法评估振镜寿命的空白。
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公开(公告)号：CN112395805A
公开(公告)日：2021-02-23
申请号：CN202011164426.2
申请日：2020-10-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/27 , G06F111/10 , G06F113/10 , G06F119/04
Abstract: 本发明涉及电子束选区熔化增材制造技术领域，公开了一种EBSM阴极寿命评估方法。首先对EBSM打印过程设计相应的试验方案，按照所述试验方案开展EBSM打印试验以获取试验组的试验数据。对所述试验数据进行建模，建立映射模型用以表现所述过程参数和采集时间的分布参数之间的映射关系。在EBSM实际打印过程中对实际过程参数与阴极的已使用时间进行采集，根据所述实际过程参数和所述阴极的已使用时间，结合所述映射模型对阴极寿命进行评估，从而获取所述阴极的剩余寿命，还可以计算获取所述阴极寿命的置信区间以及置信度。使用本申请提供的所述EBSM阴极寿命评估方法可以根据EBSM实际打印过程的的过程参数和阴极的已使用时间对所述阴极的剩余寿命进行准确预测。
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公开(公告)号：CN110990999A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911050188.X
申请日：2019-10-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/04
Abstract: 本申请涉及一种中子管寿命测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取待测中子管在工作过程中的若干时刻的中子产额；对各中子产额进行回归建模处理，得到中子管性能退化模型；基于中子管性能退化模型处理待测中子管的名义最高中子产额和名义最低中子产额，得到名义最高中子产额对应的第一等效损伤时刻，以及名义最低中子产额对应的第二等效损伤时刻；根据中子管性能退化模型、第一等效损伤时刻、第二等效损伤时刻和待测中子管的额定产额，得到待测中子管的等效寿命，从而避免了传统技术中需要全时测试的问题，缩短的中子管的测试耗时，还避免了传统技术中因需要数量较多测试样品而造成的投入成本的问题，降低了测试投入成本。
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