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公开(公告)号:CN119437650A
公开(公告)日:2025-02-14
申请号:CN202411379675.1
申请日:2024-09-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种全局控温的激光扫描振镜寿命试验装置及试验方法,全局控温的激光扫描振镜寿命试验装置包括安装夹具、控温装置、激光器和位置探测器,控温装置包括箱体和控温单元,安装夹具位于箱体内,通过安装夹具将扫描振镜组件固定于箱体内,控制单元对箱体内进行加热控温,从而实现对扫描振镜组件所处的温度环境进行调整,进而配合激光器和位置探测器检测扫描振镜组件的耐环境适应能力,从而保证扫描振镜组件的产品质量。
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公开(公告)号:CN119469677A
公开(公告)日:2025-02-18
申请号:CN202411384876.0
申请日:2024-09-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种局部控温的激光扫描振镜寿命试验装置及试验方法,局部控温的激光扫描振镜寿命试验装置包括试验台、激光振镜组件、温度调节机构、激光器和位置探测器,温度调节机构包括加热风扇和热风管,通过将热风管一端与加热风扇的输出端固定连通,热风管的另一端套设在激光振镜组件外,实现对激光振镜组件的集中加热,并且通过不同规格的加热管配合不同规格的激光振镜组件,从而实现对激光振镜组件的温度进行调节,进而配合激光器和位置探测器检测激光振镜组件的耐环境适应能力。
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