磁头污点检测方法和装置

    公开(公告)号:CN1573940A

    公开(公告)日:2005-02-02

    申请号:CN200410063945.4

    申请日:2004-05-28

    CPC classification number: G11B5/41 G01R27/08 G11B5/60

    Abstract: 提供一种检测磁头的污点的方法和装置,其中通过测量在集成有磁头主体部分的滑块的垫片和防护装置之间的电阻值,使得有可能在磁头装配之前检测污点产生,并且另外,吞吐量也会增加。检测磁头污点的方法包括:测量在具有集成磁头主体部分的滑块的垫片之间的,或者在垫片和与磁头主体部分的防护装置相连的导体部分之间的电阻值,以由此检测污点产生。

    照明装置
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100460987C

    公开(公告)日:2009-02-11

    申请号:CN200410073905.8

    申请日:2004-08-27

    CPC classification number: G03B15/05 F21Y2115/10 G01N21/8806 G03B2215/0539

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种安装于彩色照相机的照明装置,该照明装置能够从诸如LED的光源提供稳定的光量,并且能够稳定用彩色照相机捕捉的图像的色调。为了实现此目的,在根据本发明的照明装置中,通过使用传热构件增强了用于LED箱温度控制的珀耳帖元件与内置LED及LED箱之间的传热,同时实现了对照相机的温度控制。

    立体相机的校准模具及所述相机的校准方法

    公开(公告)号:CN1603944A

    公开(公告)日:2005-04-06

    申请号:CN200410080529.5

    申请日:2004-09-28

    CPC classification number: H04N13/246

    Abstract: 本发明的目的是,在具有从多方向拍摄主体的相机以识别主体的位置,提供用于对这些相机进行位置校准或类似处理的模具。将用于校准的模具放置为接近多个相机的拍摄中心,并且,所述模具包括用于固定和支持的部分,例如,真球形,其中从由拍摄模具的相机获得的拍摄图像找出的中心在空间上相互重合。

    照明装置
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1591160A

    公开(公告)日:2005-03-09

    申请号:CN200410073905.8

    申请日:2004-08-27

    CPC classification number: G03B15/05 F21Y2115/10 G01N21/8806 G03B2215/0539

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种安装于彩色照相机的照明装置,该照明装置能够从诸如LED的光源提供稳定的光量,并且能够稳定用彩色照相机捕捉的图像的色调。为了实现此目的,在根据本发明的照明装置中,通过使用传热构件增强了用于LED箱温度控制的珀耳帖元件与内置LED及LED箱之间的传热,同时实现了对照相机的温度控制。

    检查装置和检查方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1576777A

    公开(公告)日:2005-02-09

    申请号:CN200410054665.7

    申请日:2004-07-27

    Abstract: 本发明的一个目的是提供一种在安装电子器件过程中,获取用于安装的底板、被安装部件和包含例如一部分透射光的粘合剂的固定剂的图像,从而对安装状态进行检查的方法。为了实现上述目的,在按照本发明的方法中,照相机,第一光源和第二光源被集成为一个单元,所述照相机被设置在所述用于安装的底板正上方,所述第一光源被设置在该底板的斜上方,所述第二光源被设置在该底板的斜上方但位于与第一光源不同的位置上,它们沿与该用于安装的底板基本上平行的方向移动,以确定所述第一光源等的位置,在该位置上,光透射部分可以被理想地拍照。

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