公开(公告)号：CN115171739A

公开(公告)日：2022-10-11

申请号：CN202210919356.X

申请日：2022-08-02

申请人： 全南英创电子有限公司

发明人： 戴小兵 ,  张少君

IPC分类号： G11B5/455

摘要： 本发明涉及一种磁头测试工装，包括机架，所述机架上方由下往上依次设置有圆板I与圆板II，其中圆板I中间处设置有圆管，且圆管底部外套有滚动轴承，所述机架顶部设有固定滚动轴承的环形座，其中机架底部设通过导柱与圆板II连接的气缸及驱动圆管的电机I，所述圆板I顶部径向设有多组屏蔽板，其中任意相邻两组屏蔽板之间均构有测试单元，所述测试单元内的圆板I顶端均设置有两组安装板，其中两组安装板之间设有支撑板，且支撑板顶端面设有磁条，所述支撑板底部中间处设有旋转轴，所述安装板一侧的圆板I顶部还设置有驱动旋转轴的电机II，所述圆板II上设有对应每组测试单元的固定机构，其中固定机构内放置有磁头。本发明结构简单，使用方便。

公开(公告)号：CN113168846A

公开(公告)日：2021-07-23

申请号：CN202080006433.1

申请日：2020-03-30

申请人： 西部数据技术公司

发明人： H·H·吉 ,  S·拉贾里亚 ,  E·施雷克

IPC分类号： G11B5/455 ,  G11B5/31

摘要： 公开一种数据存储装置，其包括在磁盘上方致动的磁头，其中所述磁头包括写辅助元件。使用所述写辅助元件将数据写入所述磁盘。周期性地测量所述磁头朝向所述磁盘的突起，并且当突起测量的斜率指示所述突起增加时，检测到所述写辅助元件异常。

公开(公告)号：CN105336345B

公开(公告)日：2019-06-14

申请号：CN201410385326.0

申请日：2014-08-06

申请人： 深圳长城开发科技股份有限公司

发明人： 杜浩 ,  徐增会 ,  王沛

IPC分类号： G11B5/455

摘要： 本发明公开了一种磁头加载力测试设备，其包括磁头定位机构、分隔机构和称重机构，所述称重机构包括多个盘片称重单元，各盘片称重单元均包括一盘片和一用于测量搭载在所述盘片上的磁头加载力的电子称，各盘片称重单元的盘片依次叠加形成一梳齿状。本发明的磁头加载力测试设备通过设置多个盘片称重单元，使得该磁头加载力测试设备可一次性测试一个磁头的多个头向，降低了设备成本，提高了测试效率。

公开(公告)号：CN105654967B

公开(公告)日：2018-09-14

申请号：CN201510973814.8

申请日：2015-10-28

申请人： HGST荷兰公司

发明人： J·康特雷拉斯 ,  S·Y·加佐 ,  R·A·扎凯

IPC分类号： G11B5/455 ,  G11B5/012 ,  G11B20/18

CPC分类号： G11B5/455 ,  G11B5/02 ,  G11B27/36 ,  G11B2005/0005 ,  G11B2005/0024

摘要： 提供了一种用于实现基于噪声检测用于微波辅助磁记录(MARM)硬盘驱动(HDD)的自旋转矩振荡器(STO)上电的方法、装置及系统。检测自旋转矩振荡器产生的低频噪声，例如10kHz和100MHz间频率范围内的噪声。将检测的(STO)噪声与预定义阈值相比较，以标识STO上电操作。

公开(公告)号：CN104143343B

公开(公告)日：2018-08-10

申请号：CN201310169758.3

申请日：2013-05-09

申请人： 新科实业有限公司

发明人： 林浩基 ,  李文杰 ,  雷卓文 ,  陈华俊 ,  丁菊仁 ,  倪荣光 ,  梁卓荣 ,  关韵妍

IPC分类号： G11B5/455

CPC分类号： G11B5/455

摘要： 本发明公开一种磁头的测试方法，包括以下步骤：（1）以与所述纵向偏压场相同的第一方向向所述磁头施加具有恒定强度的第一磁场，同时以穿过所述空气承载面的第二方向施加具有变化强度的第二磁场，并测量第一噪声；（2）以与所述第一方向相反的第三方向向所述磁头施加具有恒定强度的第三磁场，同时施加具有所述第二方向的所述第二磁场，并测量第二噪声；（3）分析所述第一噪声和所述第二噪声之间的噪声变化。本发明能准确检测出具有不良噪声特性及不稳定性能的缺陷磁头。

公开(公告)号：CN108242243A

公开(公告)日：2018-07-03

申请号：CN201711439496.2

申请日：2017-12-27

申请人： 富士胶片株式会社

发明人： 笠田成人 ,  小泽荣贵 ,  金子徹也

IPC分类号： G11B5/455 ,  G11B5/39

摘要： 本发明提供一种搭载有TMR磁头作为再生磁头的磁带装置及磁再生方法。所述磁带装置包含磁带和再生磁头，所述磁带装置中，上述再生磁头为包含隧道磁阻效应型元件作为再生元件的磁头，上述磁带在非磁性支撑体上具有包含强磁性粉末及粘结剂的磁性层，且在上述磁性层的表面上通过摆式粘弹性试验求出的对数衰减率为0.050以下。

公开(公告)号：CN108242242A

公开(公告)日：2018-07-03

申请号：CN201611221080.9

申请日：2016-12-26

申请人： 广州嵘源科技有限公司

发明人： 不公告发明人

IPC分类号： G11B5/455

CPC分类号： G11B5/455

摘要： 磁头仪包括隔热外壳、隔热盖体、型件、温度件、阀件、输送件、感应件、测件和主控件；隔热盖体安装于隔热外壳的前门，隔热盖体和隔热外壳之间构成一密闭隔热的收容空腔；温度件、型件和测件均电性连接主控件；温度件用于检测收容空腔内的温度值，并将温度值发送给主控件；型件用于在主控件的控制下在多个时间段内分别以不同功率工作，以调节收容空腔内的温度，使得测件在不同温度下检测收容空腔内的磁头的数据读取速度，并将各温度下的数据读取速度发送给主控件。本发明可在不同温度下检测收容空腔内的磁头的数据读取速度，使得磁头检测效果更为客观有效。

公开(公告)号：CN103514893B

公开(公告)日：2017-11-10

申请号：CN201210199510.7

申请日：2012-06-18

申请人： 新科实业有限公司

发明人： 藤井隆司 ,  王全保 ,  张振飞

IPC分类号： G11B5/455

摘要： 本发明公开了一种半导体光源条在老化测试中的冷却系统，包括用于夹持半导体光源条的夹具，所述夹具包括一壳体，所述壳体具有相互连通的进水通道和出水通道；与所述进水通道相连的第一水槽，所述水槽中装有冷却液;与所述出水通道相连的第二水槽；以及与所述出水通道相连的抽吸装置，所述抽吸装置至少将所述第一水槽中的冷却液抽吸至所述第二水槽，从而冲刷所述半导体光源条的底部以降低其温度。本发明能将半导体光源条在老化测试过程中产生的热量散退，并将其局部温度均匀化，从而保持老化测试所需的温度并提高HAMR头的热稳定性。本发明还公开了一种相应的冷却方法。

公开(公告)号：CN102779531B

公开(公告)日：2016-07-20

申请号：CN201110123075.5

申请日：2011-05-12

申请人： 新科实业有限公司

发明人： 梁钊明 ,  李文杰 ,  关韵妍 ,  梁卓荣 ,  丁菊仁 ,  倪荣光

IPC分类号： G11B5/455

摘要： 本发明公开了一种闭路式测量磁头信噪比的方法，适用于具有记录媒介和磁头的记录装置，所述方法包括以下步骤：(a)将磁头加载到媒介上并保持一定的动态飞行高度；(b)测量初始环境温度值T1，并同时测量磁头信号signalload；(c)将磁头从媒介上移走；(d)调整用于控制动态飞行高度的动力，直到实时环境温度值T2等于初始环境温度T1；(e)测量磁头噪声值noiseunload；(f)通过以下方程式计算磁头信噪比：本发明的方法为信号和噪声的测量提供公平一致的条件，由此获得可靠的、精确的磁头信噪比，本发明同时提供了一种闭路式测量媒介信噪比的方法。

公开(公告)号：CN102760449B

公开(公告)日：2016-06-08

申请号：CN201110109622.4

申请日：2011-04-29

申请人： 新科实业有限公司

发明人： 梁钊明 ,  雷卓文 ,  李文杰 ,  林浩基 ,  梁国锦 ,  梁卓荣 ,  丁菊仁 ,  倪荣光

IPC分类号： G11B5/455

摘要： 本发明公开一种测试磁头耐高温性能的方法，所述磁头包括空气承载面及两屏蔽层，所述方法包括：以第一方向向所述磁头施加多个不同强度的第一磁场，并测量第一输出参数曲线；重复以第二方向施加不同强度的第二磁场，同时以第一方向施加变化的第一磁场，并测量多个第二输出参数曲线；以及判断所述第一输出参数曲线和所述第二输出参数曲线中是否存在超出容许值的变化，从而筛选出不良磁头，所述第一方向垂直于所述磁头的空气承载面，所述第二方向垂直于所述磁头的屏蔽层。本发明能够在不对磁头加热的情况下高精度地筛选出具有不佳的耐高温性能的不良磁头。