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公开(公告)号：CN101183531A
公开(公告)日：2008-05-21
申请号：CN200610146479.5
申请日：2006-11-13
Applicant: 新科实业有限公司
Abstract: 本发明公开了一种对磁盘驱动器的磁头磁极宽度进行测量的方法，其包括如下步骤：获取磁极表面的原始图像；计算原始图像的光强分布轮廓，确定轮廓的最大及最小光强数据点；将最大光强数据点与最小光强数据点的均值设定为阈值；对轮廓二次微分，从而获得二次微分渐近线；确定二次微分渐近线与阈值的交点；计算交点之间的距离，从而获得初次磁极宽度；对初次磁极宽度进行数据补偿，从而获得补偿后的磁极宽度。本发明方法也可以对其它微观物体的边缘之间的距离进行测量。
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公开(公告)号：CN103247300B
公开(公告)日：2017-07-07
申请号：CN201210027288.2
申请日：2012-02-08
Applicant: 新科实业有限公司
IPC: G11B5/455
Abstract: 本发明公开了一种用于磁头噪声测试的频谱模拟方法，包括以下步骤：(11)，采用一动态测试机在第一频率带宽范围内对若干磁头进行检测，从而获得多个第一噪声观测图；(22)，在一预定频率带宽上将每一所述噪声观测图划分成至少两段噪声曲线，其包括第一噪声曲线和第二噪声曲线，其中每一所述第一噪声曲线的频率带宽低于每一所述第二噪声曲线的频率带宽；(33)，将每一所述第二噪声曲线拟合成数学方程；以及(44)，在多个所述数学方程之间建立一相关方程，从而模拟出每一磁头的所述第二噪声曲线。本发明能模拟噪声观测图的在较高频率带宽范围下的第二噪声曲线，并根据该第二噪声曲线建立相关方程，从而节省测试时间，提高测试效率并提高测试精度。
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公开(公告)号：CN103247300A
公开(公告)日：2013-08-14
申请号：CN201210027288.2
申请日：2012-02-08
Applicant: 新科实业有限公司
IPC: G11B5/455
Abstract: 本发明公开了一种用于磁头噪声测试的频谱模拟方法，包括以下步骤：(11)采用一动态测试机在第一频率带宽范围内对若干磁头进行检测，从而获得多个第一噪声观测图；(22)在一预定频率带宽上将每一所述噪声观测图划分成至少两段噪声曲线，其包括第一噪声曲线和第二噪声曲线，其中所述第一噪声曲线的频率带宽范围低于所述第二噪声曲线的频率带宽范围；(33)将每一所述第二噪声曲线拟合成数学方程；以及(44)在多个所述数学方程之间建立一相关方程，从而模拟出每一磁头的所述第二噪声曲线。本发明能模拟噪声观测图的在较高频率带宽范围下的第二噪声曲线，并根据该第二噪声曲线建立相关方程，从而节省测试时间，提高测试效率并提高测试精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104143343B
公开(公告)日：2018-08-10
申请号：CN201310169758.3
申请日：2013-05-09
Applicant: 新科实业有限公司
IPC: G11B5/455
CPC classification number: G11B5/455
Abstract: 本发明公开一种磁头的测试方法，包括以下步骤：（1）以与所述纵向偏压场相同的第一方向向所述磁头施加具有恒定强度的第一磁场，同时以穿过所述空气承载面的第二方向施加具有变化强度的第二磁场，并测量第一噪声；（2）以与所述第一方向相反的第三方向向所述磁头施加具有恒定强度的第三磁场，同时施加具有所述第二方向的所述第二磁场，并测量第二噪声；（3）分析所述第一噪声和所述第二噪声之间的噪声变化。本发明能准确检测出具有不良噪声特性及不稳定性能的缺陷磁头。
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公开(公告)号：CN102347031B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201010240216.7
申请日：2010-07-23
Applicant: 新科实业有限公司
IPC: G11B5/455
CPC classification number: G11B5/455 , G11B5/39 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10398 , G11B2220/2516
Abstract: 本发明公开了一种测量磁头噪声的方法，该方法包括：设置复数个阈值；施加偏置电流或电压到所述磁头的读元件；施加外部时变横向磁场到所述磁头；放大所述读元件的输出信号以产生放大信号；过滤所述放大信号以产生过滤信号；对于每一所述阈值，在预定时间窗口内通过一计数控制器产生使能信号，所述计数控制器的输入信号包括所述过滤信号和所述阈值；测量每一所述使能信号的累计时长；根据所述累计时长和所述阈值生成幅值时间分布图；及根据所述幅值时间分布图计算复数个参数，并通过分析所述参数与预定标准值而判断所述磁头的瑕疵。根据本发明的方法，与磁头不稳定性有关的噪声和其它固有噪声能够被分别测量和处理，从而精确地辨别磁头的真正瑕疵。相应地，本发明还揭露了测量磁头噪声的系统。
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公开(公告)号：CN104143343A
公开(公告)日：2014-11-12
申请号：CN201310169758.3
申请日：2013-05-09
Applicant: 新科实业有限公司
IPC: G11B5/455
CPC classification number: G11B5/455
Abstract: 本发明公开一种磁头的测试方法，包括以下步骤：（1）以与所述纵向偏压场相同的第一方向向所述磁头施加具有恒定强度的第一磁场，同时以穿过所述空气承载面的第二方向施加具有变化强度的第二磁场，并测量第一噪声；（2）以与所述第一方向相反的第三方向向所述磁头施加具有恒定强度的第三磁场，同时施加具有所述第二方向的所述第二磁场，并测量第二噪声；（3）分析所述第一噪声和所述第二噪声之间的噪声变化。本发明能准确检测出具有不良噪声特性及不稳定性能的缺陷磁头。
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公开(公告)号：CN102347031A
公开(公告)日：2012-02-08
申请号：CN201010240216.7
申请日：2010-07-23
Applicant: 新科实业有限公司
IPC: G11B5/455
CPC classification number: G11B5/455 , G11B5/39 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10398 , G11B2220/2516
Abstract: 本发明公开了一种测量磁头噪声的方法，该方法包括：设置复数个阈值；施加偏置电流或电压到所述磁头的读元件；施加外部时变横向磁场到所述磁头；放大所述读元件的输出信号以产生放大信号；过滤所述放大信号以产生过滤信号；对于每一所述阈值，在预定时间窗口内通过一计数控制器产生使能信号，所述计数控制器的输入信号包括所述过滤信号和所述阈值；测量每一所述使能信号的累计时长；根据所述累计时长和所述阈值生成幅值时间分布图；及根据所述幅值时间分布图计算复数个参数，并通过分析所述参数与预定标准值而判断所述磁头的瑕疵。根据本发明的方法，与磁头不稳定性有关的噪声和其它固有噪声能够被分别测量和处理，从而精确地辨别磁头的真正瑕疵。相应地，本发明还揭露了测量磁头噪声的系统。
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公开(公告)号：CN205079777U
公开(公告)日：2016-03-09
申请号：CN201520536921.X
申请日：2015-07-22
Applicant: 新科实业有限公司
IPC: G01D5/12
Abstract: 本实用新型公开了一种磁编码器，包括中心轴、记录介质、磁传感器固定件和磁传感器；所述记录介质安装于所述中心轴上且随所述中心轴同步转动，所述记录介质包括在与中心轴垂直的外表面上写有伺服记录式样的磁性涂层，所述伺服记录式样包括至少一条与所述中心轴同心设置的圆形磁轨；所述记录介质为HDD磁盘，所述磁性涂层的厚度小于2微米；所述磁传感器固定件安装于所述中心轴上且不随所述中心轴转动；所述磁传感器固定在所述磁传感器固定件上且与所述磁性涂层的伺服记录式样相对。本实用新型公开的磁编码器，采用HDD磁盘作为记录介质，磁层厚度小，精度和分辨率更高。
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