用于先进集成电路结构制造的过孔轮廓收缩

    公开(公告)号:CN116230681A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202211369192.4

    申请日:2022-11-03

    申请人: 英特尔公司

    摘要: 本公开的实施例属于集成电路结构制造的领域。在示例中,一种集成电路结构包括:在导电互连线之上的层间电介质(ILD)层,ILD层在其中具有沟槽,沟槽暴露导电互连线的一部分。电介质衬层沿着ILD层的顶表面并且沿着沟槽的侧壁,电介质衬层在其中具有开口,开口在导电互连线的一部分之上。导电过孔结构在沟槽中并且在电介质衬层的沿着沟槽的侧壁的部分之间,导电过孔结构具有在电介质衬层之下垂直延伸并且与导电互连线的部分接触的部分。