成膜方法
    1.
    发明公开
    成膜方法 审中-公开

    公开(公告)号:CN118639213A

    公开(公告)日:2024-09-13

    申请号:CN202410285176.X

    申请日:2024-03-13

    IPC分类号: C23C16/40 C23C16/44

    摘要: 本发明提供量产性优异的成膜方法。该成膜方法使用在同一或不同水溶液中含有金属络合物及镓化合物的水溶液,所述金属络合物为具有两个以上的不同配体的金属络合物及具有相同的配体并具有取代基的金属络合物中的至少一种,所述具有两个以上的不同配体的金属络合物具有氮原子,所述具有相同的配体并具有取代基的金属络合物具有卤素原子。

    半导体元件及半导体装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116114061A

    公开(公告)日:2023-05-12

    申请号:CN202180057395.7

    申请日:2021-08-10

    IPC分类号: H01L23/48

    摘要: 本发明提供一种对功率器件特别有用且顺向特性得到改善的半导体元件及半导体装置。一种半导体元件及具备该半导体元件的半导体装置,所述半导体元件为具备包含结晶性氧化物半导体(例如,α‑Ga2O3等)作为主成分的半导体层、层叠于该半导体层上的电极层以及直接或隔着其他层而层叠于该电极层上的导电性基板的层叠结构体,所述导电性基板至少含有选自元素周期表第11族金属中的第一金属以及线性热膨胀系数与所述第一金属的线性热膨胀系数不同的第二金属。

    半导体装置
    6.
    发明公开
    半导体装置 审中-公开

    公开(公告)号:CN115885390A

    公开(公告)日:2023-03-31

    申请号:CN202180050849.8

    申请日:2021-08-20

    IPC分类号: H01L29/872

    摘要: 提供一种能够在谋求小型化及高密度化的同时提高对过电流的耐久性的半导体装置。本发明的半导体装置具有:多个PN结二极管,具备负温度特性而串联连接;肖特基势垒二极管,具备正温度特性而与所述多个PN结二极管并联连接;以及芯片焊盘,共同载置所述多个PN结二极管中的至少一个与所述肖特基势垒二极管。

    半导体装置
    9.
    发明公开
    半导体装置 审中-公开

    公开(公告)号:CN115943498A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202180050839.4

    申请日:2021-08-20

    IPC分类号: H01L29/872

    摘要: 提供一种能够在谋求小型化及高密度化的同时提高对过电流的耐久性的半导体装置。本发明的半导体装置具有:多个PN结二极管,具备负温度特性而串联连接;多个电阻元件,与所述多个PN结二极管分别并联连接,并且相互被串联连接;以及肖特基势垒二极管,具备正温度特性而与所述多个PN结二极管并联连接。