光半导体元件
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104916748A

    公开(公告)日:2015-09-16

    申请号:CN201410454176.4

    申请日:2014-09-05

    CPC classification number: H01L33/24 H01L33/007 H01L33/04 H01L33/32

    Abstract: 实施方式提供一种结晶缺陷的影响经抑制的高效率的光半导体元件。实施方式的光半导体元件包含第一导电型的第一氮化物半导体层、第二导电型的第二氮化物半导体层、及设置在所述第一氮化物半导体层与所述第二氮化物半导体层之间的活性层。所述光半导体元件具有凹坑,该凹坑在所述活性层中具有始点,且沿从所述始点朝向所述第二氮化物半导体层的第一方向扩展。

    半导体发光元件
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101232068B

    公开(公告)日:2011-10-19

    申请号:CN200810008868.0

    申请日:2008-01-25

    CPC classification number: H01L33/32 H01L33/02 H01L33/16

    Abstract: 一种半导体发光元件,包括:由III-V族半导体形成的{0001}n型半导体衬底,其相对于(1-100)方向的倾斜角在0°到45°的范围内,其相对于(11-20)方向的倾斜角在0°到10°的范围内;在所述n型半导体衬底上由III-V族半导体形成的n型层;在所述n型层之上由III-V族半导体形成的n型引导层;在所述n型引导层之上由III-V族半导体形成的有源层;在所述有源层之上由III-V族半导体形成的p型第一引导层;在所述p型第一引导层之上由III-V族半导体形成的p型接触层;以及在所述p型第一引导层和所述p型接触层之间由III-V族半导体形成的凹凸层。所述凹凸层在其顶面上具有交替且规则设置的凹部和凸部,并具有比所述p型接触层低的p型杂质浓度。

    半导体发光器件
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102157648A

    公开(公告)日:2011-08-17

    申请号:CN201010275566.7

    申请日:2010-09-08

    CPC classification number: H01L33/12 B82Y20/00 H01L33/04 H01L33/32 H01S5/34333

    Abstract: 本发明涉及半导体发光器件。根据一个实施例,一种半导体发光器件包括:n型和p型半导体层、发光部、多层结构体以及n侧中间层。所述发光部被设置在所述半导体层之间。所述发光部包括包含GaN的势垒层以及被设置在所述势垒层之间的阱层。所述阱层包含Inx1Ga1-x1N。所述体被设置在所述n型半导体层与所述发光部之间。所述体包括:包含GaN的第一层以及被设置在所述第一层之间的第二层。所述第二层包含Inx2Ga1-x2N。第二In组成比x2不小于第一In组成比x1的0.6倍且低于所述第一In组成比x1。所述中间层被设置在所述体与所述发光部之间并包括包含Aly1Ga1-y1N(0<y≤0.01)的第三层。

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