光刻用冲洗液
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102591160B

    公开(公告)日:2014-02-26

    申请号:CN201210078008.0

    申请日:2005-04-20

    CPC分类号: G03F7/322 G03F7/32 G03F7/40

    摘要: 本发明涉及一种新型光刻用冲洗液,及使用其的抗蚀图案的形成方法,所述光刻用冲洗液是,对于光致抗蚀图案,可以减少制品的表面缺陷,即所谓缺陷,并赋予抗蚀剂对电子射线照射的耐性,抑制图案收缩所使用的。调制包括含有在分子结构中具有氮原子的水溶性树脂的溶液的光刻用冲洗液,使用其通过以下工序形成抗蚀图案:(A)在基板上设置光致抗蚀膜的工序、(B)通过掩模图案对该光致抗蚀膜进行选择性曝光处理工序、(C)曝光后加热(PEB)处理工序、(D)碱性显影处理工序,及(E)使用上述光刻用冲洗液的处理工序。

    防反射膜形成用组合物、以及使用该组合物的光刻胶图案形成方法

    公开(公告)号:CN101681112B

    公开(公告)日:2012-05-30

    申请号:CN200880015584.2

    申请日:2008-05-16

    IPC分类号: G03F7/11 G03F7/004 H01L21/027

    摘要: 本发明提供具有特定pH值的防反射膜形成用组合物,该组合物保存稳定性、与光刻胶膜的配合性、以及涂布性优异,可以形成具有充分的光学特性的防反射膜。用于形成设置于光刻胶膜上的防反射膜的防反射膜形成用组合物,该防反射膜形成用组合物包含水溶性膜形成成分和特定氟化合物。该防反射膜形成用组合物通过添加特定氟化合物,可以容易地调整pH值而不会使涂布性降低,因而可以提供保存稳定性、以及与光刻胶膜的配合性优异的防反射膜形成用组合物。并且,该氟化合物也有助于提高防反射膜的光学特性,因此可以提供可形成具有优异光学特性的防反射膜的防反射膜形成用组合物。

    光蚀刻用清洗液及使用其的清洗方法

    公开(公告)号:CN101084473B

    公开(公告)日:2010-07-21

    申请号:CN200580043768.6

    申请日:2005-12-26

    IPC分类号: G03F7/42 H01L21/027

    CPC分类号: G03F7/168

    摘要: 本发明提供一种光蚀刻用清洗液,其对于用于i线、KrF、ArF的各种抗蚀剂、含硅抗蚀剂、化学放大型正型抗蚀剂等各式各样组成的抗蚀剂显示同样优良的清洗性,处理后的干燥性良好,不会由于清洗而损害抗蚀剂特性。该清洗液含有(A)选自乙酸或丙酸的低级烷基酯中的至少1种和(B)选自1分子中的碳原子数为5~7的酮中的至少1种,并且(A):(B)的质量比为4:6~7:3的范围。

    光蚀刻用冲洗液和抗蚀图案形成方法

    公开(公告)号:CN101010639A

    公开(公告)日:2007-08-01

    申请号:CN200580028703.4

    申请日:2005-08-29

    IPC分类号: G03F7/32 H01L21/027

    CPC分类号: H01L21/0273 G03F7/32

    摘要: 本发明提供一种新型光蚀刻用冲洗液,其对于光致抗蚀图案来说,不会损坏产品品质,减少其表面缺陷(即Defect),赋予其对于电子射线照射的抗性,并可用于抑制抗蚀图案的收缩;本发明还提供一种使用该冲洗液的抗蚀图案形成方法。本发明涉及一种光蚀刻用冲洗液,其包括含有(A)分子结构中具有氮原子的水溶性和/或碱可溶聚合物,及(B)至少一种选自脂肪族醇类及其烷基醚化物的水溶液;使用该冲洗液,通过(1)在基板上设置抗蚀膜的步骤;(2)通过掩模图案对该光致抗蚀膜选择性地进行曝光处理的步骤;(3)进行曝光后加热处理的步骤;(4)碱性显影处理的步骤;以及(5)以前述光蚀刻用冲洗液加以处理的步骤,形成抗蚀图案。

    光蚀刻用清洗液及抗蚀图案的形成方法

    公开(公告)号:CN101076759B

    公开(公告)日:2010-12-01

    申请号:CN200580042542.4

    申请日:2005-11-29

    IPC分类号: G03F7/32 H01L21/027

    CPC分类号: G03F7/40

    摘要: 本发明提供一种新颖的光蚀刻用清洗液,该清洗液对抗蚀图案而言,是为了减少制品的表面缺陷的所谓瑕疵、防止水冲洗时的图案破坏的发生、又赋予抗蚀剂对电子射线照射的耐受性、抑制图案的收缩而使用的,且在储存中又不会发生因细菌造成的污染。该光蚀刻用清洗液,包括含有下述通式(式中的R1为可被氧原子中断的碳原子数8~20的烷基或羟烷基;R2及R3为碳数1~5的烷基或羟烷基)所示的含氧化胺化合物的水性溶液。[化学式1]

    光刻用冲洗液
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1947067B

    公开(公告)日:2012-05-30

    申请号:CN200580012690.1

    申请日:2005-04-20

    IPC分类号: G03F7/32 H01L21/027

    CPC分类号: G03F7/322 G03F7/32 G03F7/40

    摘要: 本发明涉及一种新型光刻用冲洗液,及使用其的抗蚀图案的形成方法,所述光刻用冲洗液是,对于光致抗蚀图案,可以减少制品的表面缺陷,即所谓缺陷,并赋予抗蚀剂对电子射线照射的耐性,抑制图案收缩所使用的。调制包括含有在分子结构中具有氮原子的水溶性树脂的溶液的光刻用冲洗液,使用其通过以下工序形成抗蚀图案:(A)在基板上设置光致抗蚀膜的工序、(B)通过掩模图案对该光致抗蚀膜进行选择性曝光处理工序、(C)曝光后加热(PEB)处理工序、(D)碱性显影处理工序,及(E)使用上述光刻用冲洗液的处理工序。

    防反射膜形成用组合物、以及使用该组合物的光刻胶图案形成方法

    公开(公告)号:CN101681112A

    公开(公告)日:2010-03-24

    申请号:CN200880015584.2

    申请日:2008-05-16

    IPC分类号: G03F7/11 G03F7/004 H01L21/027

    摘要: 本发明提供具有特定pH值的防反射膜形成用组合物,该组合物保存稳定性、与光刻胶膜的配合性、以及涂布性优异,可以形成具有充分的光学特性的防反射膜。用于形成设置于光刻胶膜上的防反射膜的防反射膜形成用组合物,该防反射膜形成用组合物包含水溶性膜形成成分和特定氟化合物。该防反射膜形成用组合物通过添加特定氟化合物,可以容易地调整pH值而不会使涂布性降低,因而可以提供保存稳定性、以及与光刻胶膜的配合性优异的防反射膜形成用组合物。并且,该氟化合物也有助于提高防反射膜的光学特性,因此可以提供可形成具有优异光学特性的防反射膜的防反射膜形成用组合物。