半导体集成电路
    72.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100576508C

    公开(公告)日:2009-12-30

    申请号:CN200410057877.0

    申请日:2004-08-20

    发明人: 逸见卓也

    摘要: 在具有用与半导体衬底(4)和层间绝缘膜(7)中的至少某一方的热膨胀系数不同的材料形成的屏蔽膜(1)的半导体集成电路(100)中,屏蔽膜(1)具有屏蔽部(9)和开口部(12),此外,被屏蔽部(9)包围了其周围的独立开口部(12a)和被开口部(12)包围了其周围的独立屏蔽部(11)中的至少某一方存在多个,分散配置在芯片的整个表面上。或者,在通过屏蔽屏蔽部(9)内的电路元件(21)和电路布线(16)的部分的与上述半导体衬底(4)的表面(4a)平行的任意的直线上开口部(12)存在多个。

    用于集成电路的封环结构
    73.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101593745A

    公开(公告)日:2009-12-02

    申请号:CN200910000930.6

    申请日:2009-01-22

    IPC分类号: H01L23/552

    摘要: 本发明提供一种用于集成电路的封环结构,所述用于集成电路的封环结构包含:封环,沿集成电路的周边排列,其中封环至少包含第一部分和第二部分,以及其中第二部分位于模拟和/或射频电路块的外侧,且第二部分屏蔽模拟和/或射频电路块免受噪声影响;以及深N阱,形成于P型衬底中,且深N阱位于第二部分的底部。利用本发明可以降低衬底噪声耦合,消除对敏感模拟和/或射频电路块的性能的不利影响。

    改良的金属-绝缘体-金属电容器

    公开(公告)号:CN101461060A

    公开(公告)日:2009-06-17

    申请号:CN200780020220.9

    申请日:2007-06-01

    申请人: 肯奈特公司

    IPC分类号: H01L23/522

    摘要: 本发明揭示一种指状叉合的金属-绝缘体-金属(MIM)电容器,其提供自屏蔽作用以及具有小额电容数值的精确电容比例。该MIM电容器包含两个终端,它们是延伸至通过一绝缘体来分离的多个指状叉合的指状部。金属平板占据该指状部上方与下方的层并且连接至其中一个终端的指状部。因此,该MIM电容器对一个终端提供自屏蔽作用。通过与该电容器隔离的一系列额外屏蔽层便可运用额外的屏蔽作用。该自屏蔽作用与该额外屏蔽作用亦可实施在一MIM电容器数组处。

    集成电路结构
    79.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1858909A

    公开(公告)日:2006-11-08

    申请号:CN200510104805.1

    申请日:2005-09-21

    发明人: 陈宪伟 陈学忠

    IPC分类号: H01L27/04

    摘要: 本发明提供一种集成电路结构,用以防止集成电路中的耦合噪声,包括:耦接于接地信号的封环包括多个金属线,每一金属线分别对应每一金属层且环绕其晶片的电路区;电性连接各金属线的多个穿孔;以及隔绝各金属层于其他金属层之外的多个介电层。封环可能额外包括由封环内部或外部所形成的封环。半导体结构可能包括激光熔丝及保护环。保护环以耦接于接地信号为佳。通过在子电路间形成封环延伸物可降低在晶片中介于子电路间的串音。