一种改善FDSOI外延生长的薄膜工艺优化方法

    公开(公告)号:CN114121613A

    公开(公告)日:2022-03-01

    申请号:CN202210096866.1

    申请日:2022-01-27

    Abstract: 本发明公开了一种改善FDSOI外延生长的薄膜工艺优化方法,其可减少栅极区与顶层硅相连接拐角处的残留薄膜,晶体管包括衬底,衬底上分布有主动区域、沟槽隔离区、栅极区,衬底包括N型硅衬底、P型硅衬底,主动区域上表面沉积第一层顶层硅,薄膜加工包括:在N型硅衬底、P型硅衬底上表面均沉积第一层薄膜,在P型硅衬底的第一层薄膜的上方设置掩膜版,对N型硅衬底上方的第一层薄膜进行刻蚀,在第一层顶层硅的表面沉积第二层顶层硅,在第二层顶层硅表面沉积第二层薄膜,刻蚀N型硅衬底上方的第二层薄膜,对第二层薄膜刻蚀后,在第二层顶层硅的外表面沉积第三层顶层硅,第一层顶层硅、第二层顶层硅、第三层顶层硅组合形成第一组合顶层硅。

    一种绝缘体上硅衬底及其制备方法、应用

    公开(公告)号:CN113471289A

    公开(公告)日:2021-10-01

    申请号:CN202110548328.7

    申请日:2021-05-19

    Abstract: 本发明涉及一种绝缘体上硅衬底及其制备方法。一种绝缘体上硅衬底的制备方法,包括:在背衬硅层上形成掩蔽层;进行光刻和蚀刻,使掩蔽层形成多条沟槽,并且沟槽贯穿掩蔽层且深入背衬硅层中,使背衬硅层的表面被分隔成多个硅线条;去除掩蔽层;沉积第一氧化硅层,第一氧化硅层填充沟槽并覆盖硅线条;减薄第一氧化硅层,使硅线条曝露;形成硅顶层;对硅顶层进行热氧化处理,使其表面形成第二氧化硅层;进行退火处理;在退火之后去除第二氧化硅层。本发明制作的衬底能减小寄生电容,提高运行速度;还能降低漏电,具有更低的功耗;还能消除闩锁效应;还能抑制衬底脉冲电流干扰;同时引入应变。

    激光直写及其仿真的方法、装置

    公开(公告)号:CN113031390A

    公开(公告)日:2021-06-25

    申请号:CN202110274061.7

    申请日:2021-03-15

    Abstract: 本发明涉及一种激光直写仿真的方法、激光直写的方法、激光直写仿真的装置及激光直写的装置,包括:获取待刻蚀材料的激光直写能量分布模型;利用二分法确定各个焦平面的位置;根据各个焦平面的位置和激光直写能量分布模型,得到多束激光束对待刻蚀材料进行激光直写时在待刻蚀材料内产生的能量分布仿真结果;多束激光束对所述待刻蚀材料进行激光直写后在待刻蚀材料上产生预设的立体图案,立体图案的高宽比大于预设值。上述激光直写仿真的方法可以得到利用二分法确定各个焦平面的位置后,可以提高图案化后形成图像的保真度的结果,从而提高了在待刻蚀材料上书写高宽比图像的可行性,使得激光直写可以被用用到更多的交叉学科和领域。

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