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公开(公告)号:CN117133743A
公开(公告)日:2023-11-28
申请号:CN202311386811.5
申请日:2023-10-25
Applicant: 宁波中车时代传感技术有限公司
IPC: H01L23/488 , H01L23/495 , H10N52/80
Abstract: 本发明公开了一种减弱涡流效应的焊盘、引线框架及传感器封装结构,应用于半导体制备领域,该焊盘包括:第一焊盘部件和第二焊盘部件,第一焊盘部件和第二焊盘部件设置在芯片放置区域的相邻的两侧,且第一焊盘部件和第二焊盘部件导连,以使第一焊盘部件和第二焊盘部件,对芯片放置区域在相邻的两侧形成包围。本发明中通过将焊盘设置为沿芯片相邻的两侧布置,能够进一步减少金属框架内形成闭合涡流回路,削弱反向磁场的影响,进而提高传感器检测的灵敏度以及检测精度,同时通过减少金属焊盘的面积,在封装芯片时提高芯片与塑封体的接触面积,进而降低结构产生的应力,避免产生分层现象,提高了结构的稳固性。
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公开(公告)号:CN116068239A
公开(公告)日:2023-05-05
申请号:CN202310325433.3
申请日:2023-03-30
Applicant: 宁波中车时代传感技术有限公司
IPC: G01R1/04 , G01R15/20 , G01R19/00 , B29C45/00 , B29C45/14 , B29C71/02 , H10N52/00 , H10N52/80 , H10N52/01
Abstract: 本发明提供了一种电流传感器的封装结构及封装工艺,该电流传感器的封装结构安装有具有开口的磁芯和磁敏感器件,包括基体,其上设置有第一安装部与第二安装部以及设于两者之间的第一连接部,其中,第一安装部用于安装磁芯,且磁芯的开口端穿过第一连接部朝第二安装部方向延伸并与第二安装部形成容纳腔,磁敏感器件安装于容纳腔内,分别与磁芯和第二安装部连接;涂抹层,设置于基体、磁芯以及磁敏感器件三者之间,对基体与磁芯以及磁敏感器件三者之间连接处的缝隙进行填充,实现基体与磁芯以及磁敏感器件之间的无间隙连接。本发明提供的一种电流传感器的封装结构及封装工艺,适用于大电流检测、性能稳定且可批量生产的电流传感器。
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公开(公告)号:CN113904632A
公开(公告)日:2022-01-07
申请号:CN202111186593.1
申请日:2021-10-12
Applicant: 宁波中车时代传感技术有限公司
Abstract: 本申请公开了一种运算放大电路失调电压的校准方法、装置、系统及计算机可读存储介质,补偿电路由电流校准电路和电阻校准电路构成,在根据实际失调电压和待补偿放大电路的允许失调电压的差值确定待补偿电压之后,根据待补偿电压的大小和极性确定补偿电路的电流校准电路中可变电流源的单位补偿电流的大小和方向,根据单位补偿电流和待补偿电压确定补偿电路的电阻校准电路的接入电阻,从接入电阻和流经接入电阻的电流两个角度进行修调,相较于传统的仅采用分压电阻修调的二进制电流补偿方案,校准手段更加灵活,明显减少了所需分压电阻的数量,即在同样的补偿精度下减小了补偿电路面积,可以获得更高的补偿精度,进而提高了对失调电压校准的线性度。
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公开(公告)号:CN112992808A
公开(公告)日:2021-06-18
申请号:CN202110178693.3
申请日:2021-02-09
Applicant: 宁波中车时代传感技术有限公司
Abstract: 本发明公开了一种磁场探测传感装置及其磁通门芯片封装结构。该磁通门芯片封装结构包括磁通门裸芯片、导电引脚插针以及封裹于所述磁通门裸芯片和所述导电引脚插针的针尾二者外周的封装层;所述磁通门裸芯片和所述针尾电连接。该磁通门芯片封装结构以磁通门裸芯片为基础,形成一种能够应用于磁通门式电流传感器的通用式探头,使用时可通过导电引脚插针实现磁通门裸芯片与磁通门式电流传感器的快速连接,能够匹配现有磁通门式电流传感器的内部结构,用于实现传感器磁场检测;能够完全替代传统式的漆包线探头,从而大幅缩小探头的尺寸。
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公开(公告)号:CN112526192A
公开(公告)日:2021-03-19
申请号:CN202011322153.X
申请日:2020-11-23
Applicant: 宁波中车时代传感技术有限公司
Abstract: 本申请公开了一种一体化芯片式电流传感器及其制造方法,涉及电流传感器技术领域,该一体化芯片式电流传感器包括钣金引线框导体装置与铁芯;所述钣金引线框导体装置粘接有磁感应探头,并设置有包裹所述磁感应探头的塑封体;所述铁芯呈U状并形成有U型槽,所述塑封体插接在所述铁芯的U型槽内;所述塑封体的外侧设置有包裹所述铁芯的壳体。本申请具有将霍尔ASIC芯片、铁芯和母排进行一体化注塑,极大减小传感器的重量尺寸并有效提高了抗振动和抗热冲击能力;与此同时,霍尔ASIC芯片组装用引线框架和母排一体化设置,间距精确,实现提高原边与次边的隔离电压的目的,具有简化设计难度、加工简单、适用于自动化生产以及提高批量化制造工艺水平的效果。
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公开(公告)号:CN110542870A
公开(公告)日:2019-12-06
申请号:CN201910729983.5
申请日:2019-08-08
Applicant: 宁波中车时代传感技术有限公司
Abstract: 一种霍尔传感器集成芯片中灵敏度和零点温漂的补偿电路,其包括霍尔敏感元件、放大器、加法器、缓冲器、增益调整模块、零点调整模块、温度传感器、应力传感器、ADC(模拟数字转换器)、控制处理电路、第一DAC、第二DAC、出厂温度补偿系数存储器、出厂应力补偿系数存储器、用户增益校正值存储器、用户零点偏移校正值存储器。还相应提供了一种霍尔传感器集成芯片中灵敏度和零点温漂的补偿电路。本发明大大提升了灵敏度和零点温漂补偿的精度,提升了传感器的性能指标,同时满足客户在传感器生产或使用过程中进行灵敏度和零点的温度补偿的需求,不仅实现了灵敏度的温度补偿,而且实现了零点温漂的补偿。还可以快速响应外部磁场的变化。
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公开(公告)号:CN109459715A
公开(公告)日:2019-03-12
申请号:CN201811211444.4
申请日:2018-10-17
Applicant: 宁波中车时代传感技术有限公司
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及一种闭环霍尔效应电流传感器仿真方法,计算结构矩阵C、K、D和梯度矩阵G这些闭环霍尔效应传感器磁芯相关矩阵系数,建立闭环霍尔效应电流传感器的磁芯电路模型,并获取闭环霍尔效应电流传感器的磁芯网表文件,通过线路网表转换器产生闭环霍尔效应电流传感器的电路网表文件,进而在HSPICE软件中输入闭环霍尔效应电流传感器的磁芯网表文件和电路网表文件并进行运算,仿真分析闭环霍尔效应电流传感器。本发明的闭环霍尔效应电流传感器仿真方法,更准确综合反映磁芯结构、气隙位置等因素的影响,未知量少,仿真过程更容易收敛。
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公开(公告)号:CN109360595A
公开(公告)日:2019-02-19
申请号:CN201811008575.2
申请日:2018-08-31
Applicant: 宁波中车时代传感技术有限公司
Abstract: 一种基于熔丝技术的芯片参数多次编程电路,包括:烧断指令器;四根熔丝;四个MOS管,每个MOS管的栅极与烧断指令器连接,接收烧断指令;第一MOS管的漏极与第二MOS管的漏极之间连接第一熔丝,第一MOS管的源极与第二MOS管的源极之间连接第二熔丝,第一MOS管的漏极接第一电阻、第二MOS管的漏极接第二电阻,第一MOS管的源极接第三电阻、第二MOS管的源极接第四电阻合并接入比较器的正极;第三MOS管的漏极与第四MOS管的漏极之间连接第三熔丝,第三MOS管的源极与第四MOS管的源极之间连接第四熔丝,第三MOS管的漏极接第五电阻、第四MOS管的漏极接第六电阻,第三MOS管的源极接第七电阻、第二MOS管的源极接第八电阻合并接入比较器的负极。
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公开(公告)号:CN107643095A
公开(公告)日:2018-01-30
申请号:CN201710729449.5
申请日:2017-08-23
Applicant: 宁波中车时代传感技术有限公司
IPC: G01D18/00
Abstract: 本发明涉及一种传感器芯片的校准方法,采样多组传感器芯片的输入输出数据,增加零点对应数据的权重系数,并使用最小二乘法拟合获取传感器芯片的输入输出关系,进而获取零点和增益的校准值。本发明中的传感器芯片的校准方法,相较于现有技术中的需要分别对零点、增益进行校准,其校准过程更加简单,能够同时获取精确的零点、增益校准值。同时,还可以通过增加零点的权重系数来达到满足传感器芯片对零点更高精度指标的要求,使得烧录入传感器芯片内的零点、增益校准值能够提高传感器芯片的检测精确度。
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公开(公告)号:CN118897239B
公开(公告)日:2024-12-27
申请号:CN202411402058.9
申请日:2024-10-09
Applicant: 宁波中车时代传感技术有限公司
IPC: G01R35/00
Abstract: 一种用于测试电流传感芯片动态响应的测试装置及测试方法,其中测试装置设置有负载模块分别与ATE测试设备、电容模块和待测电流传感芯片连接;开关模块控制电流导通或关断;ATE测试设备对所述负载模块和所述开关模块输出高压信号,对待测电流传感芯片输出恒定电压信号,同时根据预设时序信号驱动所述开关模块;电容模块作为储能电容,与所述ATE测试设备、所述负载模块和所述开关模块连接;采样模块采集待测电流传感芯片的电流波形和第一电压波形,以及采集所述开关模块的第二电压波形。本发明在电流传感芯片动态响应测试时,具有测试时间短和测试精度高的优点,而且测试参数可调。
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