用于测试电流传感芯片动态响应的测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN118897239B

    公开(公告)日:2024-12-27

    申请号:CN202411402058.9

    申请日:2024-10-09

    Abstract: 一种用于测试电流传感芯片动态响应的测试装置及测试方法,其中测试装置设置有负载模块分别与ATE测试设备、电容模块和待测电流传感芯片连接;开关模块控制电流导通或关断;ATE测试设备对所述负载模块和所述开关模块输出高压信号,对待测电流传感芯片输出恒定电压信号,同时根据预设时序信号驱动所述开关模块;电容模块作为储能电容,与所述ATE测试设备、所述负载模块和所述开关模块连接;采样模块采集待测电流传感芯片的电流波形和第一电压波形,以及采集所述开关模块的第二电压波形。本发明在电流传感芯片动态响应测试时,具有测试时间短和测试精度高的优点,而且测试参数可调。

    用于测试电流传感芯片动态响应的测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN118897239A

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202411402058.9

    申请日:2024-10-09

    Abstract: 一种用于测试电流传感芯片动态响应的测试装置及测试方法,其中测试装置设置有负载模块分别与ATE测试设备、电容模块和待测电流传感芯片连接;开关模块控制电流导通或关断;ATE测试设备对所述负载模块和所述开关模块输出高压信号,对待测电流传感芯片输出恒定电压信号,同时根据预设时序信号驱动所述开关模块;电容模块作为储能电容,与所述ATE测试设备、所述负载模块和所述开关模块连接;采样模块采集待测电流传感芯片的电流波形和第一电压波形,以及采集所述开关模块的第二电压波形。本发明在电流传感芯片动态响应测试时,具有测试时间短和测试精度高的优点,而且测试参数可调。

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