微波器件驻波比测量方法及测量终端

    公开(公告)号:CN114252701B

    公开(公告)日:2024-08-23

    申请号:CN202111493657.2

    申请日:2021-12-08

    IPC分类号: G01R27/06

    摘要: 本发明适用于通信设备技术领域,提供了一种微波器件驻波比测量方法及测量终端,上述方法包括:应用于驻波比检测设备;上述设备包括:信号源、定向耦合器及信号检测仪;定向耦合器的输入端与信号源连接,定向耦合器的输出端用于与待测件、全匹配标准件或全反射标准件连接,定向耦合器的耦合端与信号检测仪连接;上述方法包括:分别获取定向耦合器的输出端连接全匹配标准件、全反射标准件及待测件时的电压幅值,根据上述三个电压幅值确定待测件的驻波比。本发明采用全匹配标准件和全反射标准件对检测设备进行校准,进而计算得到待测件的驻波比,无需使用网络分析仪或测量线,大大降低了测量成本。

    一种磷化铟合成与VGF晶体制备的装置及方法

    公开(公告)号:CN115198369B

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202210829113.7

    申请日:2022-07-15

    IPC分类号: C30B29/40 C30B11/00 C30B30/00

    摘要: 一种磷化铟合成与VGF晶体制备的装置及方法,涉及化合物半导体的制备,首先将铟元素置于坩埚中,将磷元素置于辅助坩埚区域中心,然后加热并施加离心力,在离心力作用下,铟熔体围绕主坩埚区域形成筒状,铟元素与磷元素处于表面接触的分离状态。通过多温区加热,将铟与磷加热至不同的温度,易挥发元素磷升华后与金属元素铟化合。合成完毕后降低坩埚转速,合成熔体处于水平状态,置入氧化硼实现晶体生长。使用本发明提出的装置和方法,磷元素的注入装置没有加热器,简化了合成设备;合成期间,铟溶体与磷气体的接触面积大,合成速度快;化合物生成前所有材料装料完成,外界沾污减少;实现晶体在原位生长,提高效率。

    热反射温度计算方法、系统、装置及终端设备

    公开(公告)号:CN115574956A

    公开(公告)日:2023-01-06

    申请号:CN202211067141.6

    申请日:2022-09-01

    IPC分类号: G01J5/60 G01J5/80

    摘要: 本申请适用于显微热成像技术领域,提供了热反射温度计算方法、系统、装置及终端设备,该方法包括:获取被测器件在未加电的情况下的参考温度、彩色相机参考图像和在待测温度下的彩色相机测量图像,以及第一预设温度下彩色相机第一图像和第二预设温度下彩色相机第二图像;对彩色相机参考图像、彩色相机测量图像、彩色相机第一图像和彩色相机第二图像进行向量化处理,得到参考向量、测量向量、第一向量和第二向量;基于第一预设温度、第二预设温度、参考温度、第一向量、第二向量、参考向量和测量向量,得到待测温度。本申请可以对不同材料同时进行测温。