一种制备Si基TaSi2纳米尖锥阵列的方法

    公开(公告)号:CN103205809B

    公开(公告)日:2016-04-06

    申请号:CN201310126380.9

    申请日:2013-04-12

    IPC分类号: C30B29/10 C30B13/24 C23F1/24

    摘要: 一种制备Si基TaSi2纳米尖锥阵列的方法,通过激光悬浮区熔定向凝固方法进行定向凝固,得到TaSi2在Si基体上均匀分布的试样棒。采用HNO3/HF腐蚀液,通过刻蚀的方法在试样的表面制备出TaSi2尖锥阵列。得到的TaSi2纳米尖锥阵列的高度为2.5-7.5μm,曲率半径为54-140nm,阵列的长/径比达到了35:1。本发明制备的Si基体上TaSi2的均匀性比较好,面密度达到了1.4×107rod/cm2,直径达到了纳米级别。与现有技术中长/径比为2:1的阵列相比,其场发射性能有了很大的提高,可应用于场发射显示器件,以及场效应二极管,平板显示器,传感器等器件。

    一种制备Si基TaSi2纳米尖锥阵列的方法

    公开(公告)号:CN103205809A

    公开(公告)日:2013-07-17

    申请号:CN201310126380.9

    申请日:2013-04-12

    IPC分类号: C30B29/10 C30B13/24 C23F1/24

    摘要: 一种制备Si基TaSi2纳米尖锥阵列的方法,通过激光悬浮区熔定向凝固方法进行定向凝固,得到TaSi2在Si基体上均匀分布的试样棒。采用HNO3/HF腐蚀液,通过刻蚀的方法在试样的表面制备出TaSi2尖锥阵列。得到的TaSi2纳米尖锥阵列的高度为2.5-7.5μm,曲率半径为54-140nm,阵列的长/径比达到了35:1。本发明制备的Si基体上TaSi2的均匀性比较好,面密度达到了1.4×107rod/cm2,直径达到了纳米级别。与现有技术中长/径比为2∶1的阵列相比,其场发射性能有了很大的提高,可应用于场发射显示器件,以及场效应二极管,平板显示器,传感器等器件。

    激光生长蓝宝石晶体的方法及其装置

    公开(公告)号:CN100374626C

    公开(公告)日:2008-03-12

    申请号:CN200510002279.8

    申请日:2005-01-20

    IPC分类号: C30B13/24 C30B29/20

    摘要: 本发明属晶体生长领域。方法为激光辐照掺杂Al2O3陶瓷棒的下端使其熔融,其下端放籽晶,晶体由下至上快速生长。装置包括真空炉,内壁由侧保温屏(2)、上保温屏(7)、下保温屏(8)围成,炉内包括位于炉体中轴线上的结晶杆(5)、升降杆(1),特征为顶部连接籽晶槽(4)的结晶杆(5)穿过下保温屏(8),连接料夹(10)的升降杆(1)穿过上保温屏(7),炉体一侧开激光入射窗(3),另一侧开与激光入射窗(3)不在同一水平线上的观察窗(9);炉体之外另附真空系统,2套伺服电机及控制系统作为结晶杆(5)及升降杆(1)的升降旋转系统;观察窗(9)外侧测温仪用于温度测量与反馈。本发明可快速生长直径大约为15毫米的蓝宝石晶体。

    薄膜的改进型准分子激光退火

    公开(公告)号:CN104379820A

    公开(公告)日:2015-02-25

    申请号:CN201380032042.7

    申请日:2013-03-14

    发明人: 詹姆斯·S·尹

    IPC分类号: C30B13/24

    摘要: 本公开涉及能以显著增加的有效结晶速率使Si膜结晶用于大型显示器的新一代激光-结晶方法。本公开的此方面示出的特定方案被称为高级准分子激光退火(AELA)方法,并且使用各种可用的并成熟的技术性元件容易地将其用于生产大型OLED TV。如在ELA中,主要是基于部分-/几乎完全-熔融-状态的结晶方法,然而,其在有效结晶速率上最终可获得比利用相同激光源的常规ELA技术高出一个数量级的增加。

    β-Ga2O3单晶生长方法、薄膜单晶生长方法、Ga2O3发光器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN100370065C

    公开(公告)日:2008-02-20

    申请号:CN200480005007.7

    申请日:2004-02-16

    摘要: 公开了生长几乎不开裂、具有弱化的孪晶倾向和改进的结晶性的β-Ga2O3单晶的方法,生长具有高品质薄膜单晶的方法,能够在紫外区发光的Ga2O3发光器件及其制造方法。在红外加热的单晶制造系统中,种晶和多晶材料以相对方向旋转并加热,β-Ga2O3单晶沿选自a轴 方向、b轴 方向和c轴 方向的一个方向生长。β-Ga2O3单晶薄膜由PLD形成。将激光束施加于目标物上以激发构成目标物的原子。Ga原子通过热和光化学作用从目标物释放。游离的Ga原子与室中气体中的自由基结合。因此,β-Ga2O3单晶薄膜生长在β-Ga2O3单晶衬底上。所述的发光器件包括以n型掺杂物掺杂β-Ga2O3单晶产生的n型衬底和以p型掺杂物掺杂β-Ga2O3单晶产生并连接到n型衬底的p型衬底。所述发光器件从结合部分发光。

    结晶制造方法、结晶制造装置及单晶

    公开(公告)号:CN115125608B

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202210252469.9

    申请日:2022-03-15

    申请人: TDK株式会社

    摘要: 本发明提供一种结晶制造方法,其中,首先,将具备前端变细的前端部(1A)的原料(1)配置于结晶生长区域(2U)的上方;接着,将前端部(1A)的侧面在维持前端部(1A)的形状的同时利用向斜上方行进的辐射热选择性地加热使其熔融,从该侧面熔融的材料将前端部(1A)的侧面和结晶生长区域(2U)的上表面物理连接。在结晶制造装置中,原料熔融用辐射热是从电阻加热器(R)放射的。

    Ga2O3系单晶基板
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109056053B

    公开(公告)日:2021-09-14

    申请号:CN201810990934.2

    申请日:2014-02-26

    发明人: 佐佐木公平

    IPC分类号: C30B13/10 C30B13/24 C30B29/16

    摘要: 提供一种Ga2O3系单晶基板,该Ga2O3系单晶基板包括对含有5×1017cm‑3以下的作为施主杂质的Si的Ga2O3系单晶掺杂了规定量的作为受主杂质的Fe而成的掺杂Fe的Ga2O3系单晶,上述掺杂Fe的Ga2O3系单晶中的上述Fe的浓度比上述Si的浓度高,上述掺杂Fe的Ga2O3系单晶中的上述Fe的浓度为5×1017cm‑3~1.5×1019cm‑3。