一种SiGe/Si外延片生长方法
    19.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106298457A

    公开(公告)日:2017-01-04

    申请号:CN201610841188.1

    申请日:2016-09-22

    Inventor: 王文庆

    Abstract: 本发明涉及半导体材料技术领域,特别涉及一种SiGe/Si外延片生长方法,包括以下步骤:提供并清洗单晶Si衬底;在单晶Si衬底的外延生长面设置一碳纳米管层;在碳纳米管层的表面形成掺碳缓冲层,所述掺碳缓冲层中碳含量小于1%;在所述掺碳缓冲层的表面形成晶种缓冲层;在所述晶种缓冲层表面形成SiGe外延层。本发明通过引入碳纳米管层以及掺碳缓冲层共同作用,减少了外延生长过程中的位错,减少了外延片缺陷,提高了锗硅外延片质量。

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