一种氧化层厚度的测量方法
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118654611A

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202410838262.9

    申请日:2024-06-26

    Abstract: 本发明涉及一种氧化层厚度的测量方法,包括如下步骤:步骤1、样本准备;步骤2、处理好的样本放入电子探针样品室进行分析测试;步骤3、金属元素和氧元素的面扫描分析;步骤4、根据扫描效果选取特征明显的元素的面扫描结果,计算出不规则形状氧化层的面积s,依据氧化层的宽度值计算出其平均厚度d。本发明提供了一种氧化层厚度的测量方法,利用电子探针对样品进行面扫描分析,然后根据特征元素含量的变化精准地描述氧化层的形貌,并对氧化层面积进行计算从而得出氧化层平均厚度,本评价方法准确度高,为氧化行为机理的研究提供了一种更加科学、准确的评价方法。

    一种金属化合物层厚度的扫描电镜测量方法

    公开(公告)号:CN118328915A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202410356388.2

    申请日:2024-03-27

    Abstract: 本发明涉及一种金属化合物层厚度的扫描电镜测量方法,包括:线切割获取包含化合物层的横截面,镶嵌后磨制抛光;在扫描电镜下观察,选取要测量的铜锡合金化合物层,选择背散射电子探头获得成分衬度像,调节图像对比度使得被测量对象与基体有明显差异;选择与金属化合物层厚度匹配的的放大倍数2500倍,在扫描速度28秒/帧时获得高清晰背散射电子图像;利用ImageJ软件对金属化合物层厚度进行定量精细测量。本发明的优点是:经过ImageJ图像处理软件提取出金属化合物层,计算出面积获得平均厚度的膜厚度测量方法,不仅得到精确的合金层厚度信息,还能够获得被测物体的标准差值,用来评价被测物体的均匀程度;该测量方法提高了准确,能够应用到检测分析实践中。

    一种9Ni钢断口纤维率判定方法

    公开(公告)号:CN111141776B

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202010071571.X

    申请日:2020-01-21

    Abstract: 本发明涉及一种9Ni钢断口纤维率判定方法,包括以下步骤:1)用扫描电镜观察9Ni钢冲击断口形貌,拍摄9Ni钢冲击断口低倍数、全断口宏观形貌图片;2)用扫描电镜拍摄9Ni钢冲击断口高倍数照片,分析9Ni钢冲击断口微观形貌,区分结晶区域和纤维区域;3)依据步骤2)区分结果,应用扫描电镜在冲击断口宏观形貌图片上标记出结晶区域,并应用图像分析软件计算出结晶区域面积;再计算9Ni钢冲击断口纤维率。优点是:降低了通过人工比较国家标准中给出的断口纤维率图谱判定断口纤维率的误差,减少了人为因素的影响,具有较高测量精度,提高了断口纤维率判定的准确度,并且图像可保留,具有可追溯性、可验证性。

    一种超高强度包装用钢带及其制备方法

    公开(公告)号:CN102400037B

    公开(公告)日:2014-05-07

    申请号:CN201010276432.7

    申请日:2010-09-07

    Abstract: 本发明提供一种超高强度包装用钢带及其制备方法,钢带的化学成分为:C?0.30%~0.36%、Si?0.10%~0.25%、Mn?1.40%~1.70%、P≤0.025%、S≤0.015%、Nb?0.01%~0.05%、Als?0.015%~0.045%,其余为Fe以及不可避免的杂质。其制备方法包括放卷、剖剪和修边,其特点是钢带经清洗后,以850~900℃的加热温度在线加热,加热时间为15~25S,然后在线水淬,淬火冷却速度为450~550℃/S,之后风冷,再以570~620℃的回火温度在线回火,保温时间为10~20S,最后涂油、收卷、包装入库。本发明工艺取消了金属Pb的排放,无污染,生产工序简单、效率高、成本低,产品强度大,适用于大捆重产品的包装。

    一种超轻元素碳的电子探针线分析定量检验方法

    公开(公告)号:CN103454300A

    公开(公告)日:2013-12-18

    申请号:CN201310401157.0

    申请日:2013-09-06

    Abstract: 本发明提供一种超轻元素碳的电子探针线分析定量检验方法,选取多个化学光谱分析用标样加工制备成10×10mm电子探针线分析用碳标准样品,利用面扫描模式代替点扫描模式获取碳的修正曲线,对待测样品进行线扫描分析,再应用碳的校正曲线对待测样品进行碳含量定量分析。可解决电子探针原有标样因尺寸小而不能用于大面积分析的难题,减少碳污染和微区成分不均匀以及电子束移动方式不同而产生的误差,因此所获得的修正曲线误差明显小于常规方法,从而保证获得的碳元素线分析结果准确可靠,解决了超轻元素碳的电子探针线分析定量不准确的问题,为更好地控制生产工艺和提高产品质量提供了可靠的数据依据。

    一种镀锌层厚度的测量方法

    公开(公告)号:CN103453861A

    公开(公告)日:2013-12-18

    申请号:CN201310401015.4

    申请日:2013-09-06

    Abstract: 本发明提供一种镀锌层厚度的测量方法,将镀锌板样品置于镀膜机中,用碳棒对样品表面进行喷碳处理;将样品放入电子探针样品室,并抽真空,观察样品的背散射电子像,使得镀层厚度占到扫描范围的1/2,从距离镀层外侧1/2镀层厚度的地方开始,垂直镀层向基体方向至距离镀层另一侧1/2镀层厚度为止,采用线扫描得到成分分析曲线,以测得曲线陡峭边处强度最大值的50%作为镀层的两个边界点,测量镀层的厚度;选取不同区域测量若干点的平均值即为镀锌层厚度。本发明通过样品的成分分析曲线测量镀层厚度,边界清晰,可有效解决由于试样表面粗糙、形状复杂、衬度不明显等原因造成的误差,提高镀锌板镀锌层厚度测量准确度。

    一种形变再结晶分数的EBSD表征方法

    公开(公告)号:CN119804516A

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202510011074.3

    申请日:2025-01-03

    Abstract: 本发明涉及一种形变再结晶分数的EBSD表征方法,包括S1、确定待分析样品尺寸,对待分析样品表面进行预处理;S2、将待分析样品置于扫描电镜下观察,选取要测量的区域;S3、应用电子背散射衍射仪EBSD标定晶体取向信息;S4、在Channel5处理软件中解析标定后得到IPF图并分析晶粒尺寸;S5、根据晶粒内取向差分布参数GOS区分再结晶、回复和未再结晶,形成分布图并计算平均晶粒尺寸及形状因子。本发明根据晶粒内取向差分布参数GOS表征再结晶程度,不仅给出再结晶、回复、未再结晶体积分数,还能够计算各自平均晶粒尺寸及形状因子及其分布特征。

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