一种垂直高压发光二极管芯片及其制作方法

    公开(公告)号:CN110085619B

    公开(公告)日:2021-04-27

    申请号:CN201910360845.4

    申请日:2019-04-30

    Abstract: 本发明公开了一种垂直高压发光二极管芯片及其制作方法,其中。通过垂直高压发光二极管芯片的设计,将第一芯片区处的背面电极通过开孔和键合层与导电基板电连接,进而无需在第一芯片区进行刻蚀而裸露其背面电极,保证垂直高压发光二极管芯片的有效发光面积较大;以及,第一芯片区的背面电极不需要打线,节省了成本,提高了可靠性;另外,每一芯片区电流扩展都为垂直方向,且第一芯片区的背面电极与第N芯片区的正面电极形成垂直结构,使得垂直高压发光二极管芯片的电流扩展较好,进而能够避免电流拥堵而提高电流耐受能力;此外,垂直高压发光二极管芯片的光型较好,符合朗伯分布而更易于配光。

    一种大尺寸LED芯片及其制作方法

    公开(公告)号:CN112652686A

    公开(公告)日:2021-04-13

    申请号:CN202110001890.8

    申请日:2021-01-04

    Abstract: 本发明提供了一种大尺寸LED芯片及其制作方法,通过在所述外延叠层背离所述衬底的一侧表面设置隧穿结与若干个电流扩展复合层,其中,所述电流扩展复合层层叠于所述隧穿结背离所述外延叠层的一侧表面,且各所述电流扩展复合层包括沿第一方向依次堆叠的第二N型半导体层和欧姆接触层;所述电流扩展复合层具有第一通孔,所述第一通孔从顶层的欧姆接触层贯穿至部分所述第一N型半导体层,且裸露所述第一N型半导体层的部分表面;使所述P型半导体层与最底层的第二N型半导体层之间形成隧穿效应。从而实现通过外延材料层(即N型半导体层)替代传统结构的透明导电层,在保证其电流扩展效果的同时,可较好地实现稳定可靠的芯片结构。

    一种垂直高压发光二极管芯片及其制作方法

    公开(公告)号:CN111564543B

    公开(公告)日:2021-03-23

    申请号:CN202010396450.2

    申请日:2020-05-12

    Abstract: 本发明提供了一种垂直高压发光二极管芯片及其制作方法,通过垂直高压发光二极管芯片的设计,将第一芯片区处的子背面电极开孔并通过键合层与导电基板电连接,避免了水平电极结构中电极的遮光问题,进而保证了发光二极管芯片的有效发光面积较大;由于该高压发光二极管呈成垂直结构,使得高压发光二极管芯片的电流扩展较好,可避免电流的横向拥堵问题,从而提高电流耐受能力;此外,所述第k连接电极通过所述凸起台面连接第k芯片区的第一类型导电层和与第k+1芯片区接触的子背面电极,可增大金属与第一型半导体层的接触面积,从而降低接触电阻,同时可增大电流注入的面积,进一步地降低了高压发光二极管芯片的工作电压。

    一种倒装薄膜LED芯片结构及其制备方法

    公开(公告)号:CN111261766A

    公开(公告)日:2020-06-09

    申请号:CN202010069720.9

    申请日:2020-01-21

    Abstract: 本申请提供一种倒装薄膜LED芯片结构及其制备方法,所述制备方法包括:提供带有第一电极和第二电极的倒装LED芯片结构和具有第一导电层和第二导电层的导电衬底,其中,导电衬底的面积比倒装LED芯片的面积大,从而使第一电极与第一导电层对应电性连接,第二电极与第二导电层对应电性连接,其中,第二导电层的面积大于第二电极的面积,第二导电层与第二电极连接的区域之外的区域作为第二电极层,用于与外部电路电性连接。通过上述制备方法形成的倒装薄膜LED芯片结构,即保证了LED芯片最大化的发光面积;还能够对去除生长衬底的表面进行粗化处理,从而改善LED芯片的发光分布以及进一步提高LED芯片的发光效率。

    垂直结构芯片及制作方法
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110112274A

    公开(公告)日:2019-08-09

    申请号:CN201910428186.3

    申请日:2019-05-22

    Abstract: 本发明提供了一种垂直结构芯片及制作方法,涉及光电子技术领域,垂直结构芯片包括导电基板、P面金属层、外延层、透明导电层以及金属电极,其中,外延层通过P面金属层固定在导电基板的一面,外延层沿背离导电基板的方向依次包括P型半导体、有源层以及N型半导体,透明导电层和金属电极均固定在N型半导体背离导电基板的一面,且金属电极同时与透明导电层和N型半导体电连接。缓解了现有技术中的垂直结构芯片中N型金属电极容易影响外量子效率的技术问题。

    一种LED及其制作方法
    17.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106784219B

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201710053445.X

    申请日:2017-01-22

    Abstract: 本发明公开了一种LED及其制作方法,所述制作方法包括:提供衬底;在所述衬底表面形成缓冲层;在所述缓冲层背离所述衬底的一侧形成N型半导体层;在所述N型半导体层背离所述缓冲层的一侧形成多量子阱层;通过PVD工艺在所述多量子阱层背离所述N型半导体层的一侧形成电子阻挡层,所述电子阻挡层为AlN层;在所述电子阻挡层背离所述多量子阱层的一侧形成P型半导体层。本发明技术方案在一次外延长完多量子阱层后,用PVD长一层较薄的AlN层,作为电子阻挡层,然后再二次外延生长P型半导体层,较薄的电子阻挡层即可较好的阻挡电子溢流效果,能够有效提高发光效率,同时可以降低LED的工作电压,进而降低功耗。

    一种LED的外延结构及其制作方法

    公开(公告)号:CN107731978B

    公开(公告)日:2019-03-08

    申请号:CN201710919143.6

    申请日:2017-09-30

    Abstract: 本申请公开了一种LED的外延结构及其制作方法,该制作方法包括:提供一图形化的衬底,所述衬底具有一用于形成氮化物外延层的第一表面,所述第一表面具有平面区域以及凸起区域;形成覆盖所述第一表面的牺牲层;去除位于所述平面区域的所述牺牲层;形成覆盖所述牺牲层以及所述平面区域的氮化物缓冲层;在位于所述凸起区域顶部的所述氮化物缓冲层形成开口,露出位于所述凸起区域顶部的所述牺牲层;去除覆盖所述凸起区域的所述牺牲层,去除位于所述凸起区域浮离的所述氮化物缓冲层,仅保留位于所述平面区域的氮化物缓冲层;以位于所述平面区域的所述氮化物缓冲层为基核沉积氮化物外延层。本发明技术方案提高了LED的外延结构的均匀性以及可靠性。

    一种不易发生翘曲的大尺寸发光二极管外延片制作方法

    公开(公告)号:CN105789396B

    公开(公告)日:2018-09-04

    申请号:CN201610273690.7

    申请日:2016-04-28

    Abstract: 本发明公开一种不易发生翘曲的大尺寸发光二极管外延片制作方法,在衬底上表面蒸镀AlN缓冲层;在AlN缓冲层上外延生长GaN缓冲层;在GaN缓冲层上外延生长复合缓冲层,反应温度至1000℃左右;复合缓冲层由GaN缓冲层和多层缓冲层构成;生长完复合缓冲层再升高外延生长温度至1050℃以上依次进行外延生长非故意掺杂层及第一型导电层;降低外延生长温度至低于800℃在第一型导电层上外延生长有源层;升高温度至900℃以上,在有源层上依次生长第二型导电层及欧姆接触层。本发明解决采用大尺寸衬底生长外延片过程中因温度变化导致翘曲变大而引起外延表面异常及电性能异常问题。

    一种不易发生翘曲的大尺寸发光二极管外延片

    公开(公告)号:CN105870279B

    公开(公告)日:2018-08-21

    申请号:CN201610273818.X

    申请日:2016-04-28

    Abstract: 本发明公开一种不易发生翘曲的大尺寸发光二极管外延片,衬底上生长AlN缓冲层,AlN缓冲层上生长复合缓冲层,复合缓冲层上生长非故意掺杂层,非故意掺杂层上生长第一型导电层,第一型导电层上生长有源层,有源层上生长第二型导电层,第二型导电层上生长欧姆接触层;复合缓冲层由GaN缓冲层和多层缓冲层构成,GaN缓冲层生长在AlN缓冲层上,多层缓冲层生长在GaN缓冲层上,多层缓冲层包括GaInN/GaN/AlGaN。本发明解决采用大尺寸衬底生长外延片过程中因温度变化导致翘曲变大而引起外延表面异常及电性能异常问题。

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