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公开(公告)号:CN104681551A
公开(公告)日:2015-06-03
申请号:CN201310650573.4
申请日:2013-12-03
Applicant: 上海北京大学微电子研究院
IPC: H01L25/16 , H01L23/367 , H01L23/31
CPC classification number: H01L2224/05554 , H01L2224/48091 , H01L2924/19107 , H01L2924/00014
Abstract: 本发明公开了用于照明的一种多芯片QFN(方形扁平无引脚封装,QuadFlatNoLead)封装结构,包括了系统三个主要发热量较大的芯片子模块:PWM(脉冲宽度调制,PulseWidthModulation)控制器,功率MOS(金氧半场效晶体管,MetalOxideSemiconductor)管,肖特基整流二极管。本发明公开的多芯片QFN封装结构,通过加入电连接芯片,为一颗或多颗芯片封装在一个QFN里提供了可行性,减少了封装成本,并且解决了芯片的散热问题,从而大大提高了系统的集成度和可靠性。
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公开(公告)号:CN104681544A
公开(公告)日:2015-06-03
申请号:CN201310631682.1
申请日:2013-12-03
Applicant: 上海北京大学微电子研究院
IPC: H01L25/00 , H01L23/31 , H01L23/495 , H01L23/367
CPC classification number: H01L2224/16225 , H01L2924/15174 , H01L2924/181 , H01L2924/00012
Abstract: 本发明以QFN(QuadFlatNoLead,方形扁平无引脚)封装结构为整体框架,提出了一种多芯片Flipchip(倒装芯片)封装结构。其中包括矩形的封装体;矩形的芯片基岛;芯片基岛底部的导热焊盘为矩形;引线框架底部的导电焊盘在导热焊盘周围环形排布,形状为一边为弧形的矩形;芯片以倒装的形式焊接在导电介质基板上,焊凸通过介质基岛以导电线路与引线框架相连结。这种多芯片封装结构的优点有:采用QFN整体封装结构,内部芯片以Flipchip形式进行连接,不仅克服了单纯使用Flipchip封装结构时由于基板热膨胀系数的限制而带来的焊接可靠性的问题,同时也提高了QFN封装结构的电气性能,还体现出芯片尺寸上的优越性,为系统化封装SIP(SysteminaPackage)提供了一种可能。
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公开(公告)号:CN104681527A
公开(公告)日:2015-06-03
申请号:CN201310638052.7
申请日:2013-12-03
Applicant: 上海北京大学微电子研究院
IPC: H01L23/495
Abstract: 本发明提供一种QFN(QuadFlatNo-leadPackage,方形扁平无引脚封装)封装框架结构,可提高导热焊盘的抗干扰性和对高频信号屏蔽能力,并且可提高封装产品的合格率。其包括塑封体,塑封体为正方形,底面中部为导热焊盘,所述导热焊盘外围排布有导电焊盘,其特征在于:所述导热焊盘为圆形,所述导电焊盘的形状是圆形。
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公开(公告)号:CN104681517A
公开(公告)日:2015-06-03
申请号:CN201310650663.3
申请日:2013-12-03
Applicant: 上海北京大学微电子研究院
IPC: H01L23/488 , H01L25/075
CPC classification number: H01L2224/32245 , H01L2224/45144 , H01L2224/48247 , H01L2224/73265 , H01L2924/181 , H01L2924/00012 , H01L2924/00
Abstract: 本发明公开了用于大功率道路照明的一种多芯片QFN(方形扁平无引脚封装,Quad Flat No Lead)封装结构,包括了占用系统面积较大的芯片子模块:PWM(脉冲宽度调制,Pulse Width Modulation)控制器,功率MOS(金氧半场效晶体管,Metal Oxide Semiconductor)管,基岛,围绕所述基岛布置的多个焊盘,所述封装结构的封装空间内填充的绝缘材质。其中,所述不同芯片设置在基岛上,至少一个所述焊盘与所述基岛连通,其余焊盘通过金线与所述芯片连接。本发明公开的多芯片QFN封装结构,通过加入电连接芯片,为一颗或多颗芯片封装在一个QFN里提供了可行性,减少了封装成本,从而大大提高了系统的集成度和可靠性。
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公开(公告)号:CN104681513A
公开(公告)日:2015-06-03
申请号:CN201310637618.4
申请日:2013-12-03
Applicant: 上海北京大学微电子研究院
IPC: H01L23/467
Abstract: 本发明基于FlipChip(倒装芯片)封装芯片的结构,提出一种利用压电陶瓷风扇实现高效率风冷散热的系统。其特点是:风扇采用压电陶瓷风扇组;两组风扇风向(出风口)相对,每次只有一组风扇工作;系统周围密封;两端出风口有滤尘装置。这种风冷散热装置的优点在于:充分利用FC封装芯片正面及金属触点广大的接触面积和狭小的空间,利用高速气流实现芯片背面的快速散热;此散热系统可配合正面散热系统同时使用,互不影响;双向风扇可在不同时间段相继开启,有利于分别吹去对面除尘装置的灰尘;压电陶瓷风扇组所需电压低,无噪音,风量大,可靠性强;风扇系统的微型化有利于系统的微型化,例如用于个人电脑CPU和GPU的散热,可淘汰占用体积巨大的传统风扇,令硬件更加紧凑,电脑主机更加微型化。
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公开(公告)号:CN104681507A
公开(公告)日:2015-06-03
申请号:CN201310633344.1
申请日:2013-12-03
Applicant: 上海北京大学微电子研究院
IPC: H01L23/31 , H01L23/367 , H01L23/495
CPC classification number: H01L2224/32245 , H01L2224/45144 , H01L2224/48091 , H01L2224/48247 , H01L2224/49171 , H01L2224/73265 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供了一种QFN(Quad Flat No Lead,方形扁平无引脚)封装结构,在一种圆形扁平无引脚封装结构的基础之上,提出一种多层交叉导电焊盘框架结构。其中包括圆形封装体;芯片基岛为矩形;芯片基岛底部的导热焊盘为圆形;引线框架底部的导电焊盘在导热焊盘周围以圆形轨迹围绕,其特点为:不同层导电焊盘交叉排列,其形状为对边倒圆矩形。这种圆形扁平无引脚多层交叉导电焊盘封装结构的特点有:突破了传统QFN封装的低I/O数量的限制,为多层芯片的封装提供了一种可能,增强了焊接的可靠性,提高了封装结构的散热性能力及抗干扰能力。
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公开(公告)号:CN103137606A
公开(公告)日:2013-06-05
申请号:CN201110397624.8
申请日:2011-12-05
Applicant: 上海北京大学微电子研究院
IPC: H01L23/544 , G01R27/02
CPC classification number: G01R27/02 , H01L22/34 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提出了一种通孔电阻的测试结构和方法,该测试结构包括至少两个子测试结构,所述子测试结构是一条通孔链,所述子测试结构包括有多个通孔及连接各通孔的互连线,所述通孔连通上下两层相邻的金属层,所述互连线由位于相邻两金属层上的互连线组成,且上下两层互连线在通孔连接处有重叠区域,所述各子测试结构有相同的长度,所述各子测试结构有不同的通孔数量,且所述各子测试结构中连接各个通孔的上层(下层)互连线总长度相等。
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公开(公告)号:CN102169895A
公开(公告)日:2011-08-31
申请号:CN201010113496.5
申请日:2010-02-25
Applicant: 上海北京大学微电子研究院
IPC: H01L29/78 , H01L29/417 , H01L29/423
Abstract: 本发明提供了射频MOS管,以提高射频MOS管的工作速度及降低其射频MOS管栅极寄生电阻导致的噪声恶化以及可靠性;该射频MOS管包括:源极、漏极和栅极,衬底,所述栅极由子栅和连接子栅的侧栅构成,还包括连接源极及源端的源金属层、连接漏极及漏端的漏金属层和连接侧栅及栅输入端的侧栅金属层,其中源金属层覆盖并延伸出源极,其在有源区的投影与漏极和子栅无交叠;漏金属层覆盖并延伸出漏极,其在有源区的投影与源极和子栅无交叠;侧栅金属层覆盖并延伸出侧栅,其在有源区的投影与源极和漏极无交叠;以及源金属层、漏金属层及栅金属层中,由相同层金属形成的部分无交叉。
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公开(公告)号:CN102130601A
公开(公告)日:2011-07-20
申请号:CN201110079356.5
申请日:2011-03-30
Applicant: 上海北京大学微电子研究院
CPC classification number: Y02B20/42
Abstract: 本发明提供了一种适用于发光二极管(LED)驱动的原边控制恒流实现电路,以消除传统恒流实现电路中的光藕和分离运算放大器。对于工作于不连续模式的芯片来说,原边控制技术直接在变压器的辅助绕组采样输出电压,用电路采样输出端续流二极管放电的时间和芯片的工作周期,通过设定这两个时间的比值为常数以实现恒流。其中所述原边控制电路包括:电流基准产生模块,电流镜模块,采集输出二极管放电时间的模块,采集芯片工作周期的模块和比较器模块。电流基准产生模块产生电流基准,电流镜模块镜像不同的电流对两个电容充电,这两个电容分别采集续流二级管放电时间和工作周期,当两个电容的电压相等的时候打开功率开关管以实现恒流。
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公开(公告)号:CN101995523A
公开(公告)日:2011-03-30
申请号:CN200910057766.2
申请日:2009-08-19
Applicant: 上海北京大学微电子研究院
Abstract: 本发明提供互连线有源器件测试结构及方法,以减少测试端数量,降低测试成本;该测试结构,包括互连线结构及有源器件结构,所述互连线结构中的互连线和有源器件结构至少共用一个测试端,且共用测试端的互连线未处于回路中。
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