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公开(公告)号：CN118746738B
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202410752317.4
申请日：2024-06-12
Applicant: 深圳市灏之海科技有限公司
Inventor： 傅义敏
Abstract: 本发明公开了一种贴片电容质量检测方法及系统，属于电性能的测试领域，本发明将获取的发射测试信号的信号信息和接收信号的信号信息代入去噪性能评估模型中进行去噪性能评估，将获取的发射测试信号的信号信息和接收信号的信号信息代入截留性能评估模型中进行截留性能异常值计算，将计算得到的去噪性能异常值和截留性能异常值代入质量分析模型中进行贴片电容的质量分析，根据贴片电容的质量分析结果进行贴片电容的质量预警，综合噪声信息的去除情况和截留信息的失真情况对贴片电容的整体质量进行综合分析，提高了对贴片电容的整体质量的分析效率和分析准确性。
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公开(公告)号：CN118625089B
公开(公告)日：2024-11-01
申请号：CN202411054456.6
申请日：2024-08-02
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明提供了一种功率转换电路开关器件退化机制监测方法，在单独判断开关器件内部缺陷的退化机制时，通过电流变化率的变化趋势，确认为氧化层缺陷密度增加或界面缺陷密度增加引起开关器件内部缺陷退化。而开关器件还会出现封装退化，封装出现退化时，会导致开关器件的串联电阻增加，电流变化率增大，进而在判断开关器件封装和内部缺陷的退化机制时，通过电流变化率减小确认为氧化层缺陷密度增加引起开关器件内部缺陷退化；电流变化增大时，通过导通电阻和低频噪声检测二次检测，确认出准确封装和/或界面缺陷密度增加引起开关器件出现退化。
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公开(公告)号：CN118209839B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410302104.1
申请日：2024-03-14
Applicant: 睢宁摩尔科技有限公司
Abstract: 本发明提供一种半导体集成电路加工缺陷检测方法和系统，涉及半导体集成电路检测技术领域。所述方法包括：控制半导体集成电路使用最大功率运行第一预设时间段；在第一预设时间段结束时，通过双目摄像头拍摄半导体集成电路的第一待测图像和第一红外图像；确定第一红外图像的第一异常发热区域，以及待测半导体器件的位置信息；控制半导体集成电路使用最大功率继续运行第二预设时间段；在第二预设时间段结束时，通过红外摄像头拍摄半导体集成电路的第二红外图像；确定第二红外图像的第二异常发热区域；确定待测半导体器件的加工缺陷评分；确定存在加工缺陷的目标半导体器件。根据本发明，可对存在加工缺陷目标半导体器件准确定位，提高检测效率。
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公开(公告)号：CN117406059B
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202311727112.2
申请日：2023-12-15
Applicant: 国网天津市电力公司电力科学研究院 , 国网天津市电力公司 , 国家电网有限公司
Abstract: 本发明提供了一种功率开关管风险定位方法及装置，可应用于电力电子技术领域。该方法包括：获取目标设备包括的多个功率开关管各自的量测值；基于多个功率开关管各自的量测值，确定多个功率开关管各自在目标伏安平面的运行工作点，其中，目标伏安平面包括基于功率开关管的量测值来确定；基于多个功率开关管各自的标称运行参数，确定多个功率开关管各自在目标伏安平面的安全工作区；基于多个功率开关管各自的运行工作点与多个功率开关管各自的安全工作区的相对位置，确定多个功率开关管各自的健康状态；以及基于多个功率开关管各自的健康状态，得到目标设备的风险定位结果。
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公开(公告)号：CN113721122B
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202010450275.0
申请日：2020-05-25
Applicant: 中车永济电机有限公司
Inventor： 曹琳
IPC: G01R31/27
Abstract: 本发明提供了一种焊层寿命失效的测试方法。该焊层寿命失效的测试方法包括：对标定功率模块中的同一预设位置处的全新碳化硅器件和失效碳化硅器件分别进行升温降温操作，获取全新碳化硅器件和失效碳化硅器件在降温过程中的预设时间的失效结温差值；对待测功率模块的预设位置处的碳化硅器件进行升温降温操作，获取使用前的碳化硅器件和使用过程中的碳化硅器件在降温过程中的预设时间的待测结温差值；根据待测结温差值和失效结温差值确定待测功率模块中预设位置处的碳化硅器件的焊层是否失效。本发明的测试方法不需要将待测功率模块中的碳化硅器件拆解下来即可完成对焊层寿命是否失效的测试，降低了焊层寿命失效测试的难度，提高了测试效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116149410A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202211339547.5
申请日：2022-10-26
Applicant: 群创光电股份有限公司
Abstract: 本公开提供一种电子装置，包含电子组件、驱动电路以及偏置电流电路。驱动电路电连接在节点与第一电压之间。电子组件电连接在节点与第二电压之间。偏置电流电路电连接在节点与第三电压之间。第一电压不同于第二电压和第三电压。本公开的电子装置可基于稳定的偏置电压且以大操作范围来操作电子组件。
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公开(公告)号：CN115856712A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202211536128.0
申请日：2022-12-01
Applicant: 宁波力斗智能技术有限公司
Abstract: 本发明公开了一种T型三电平变换器通态电压在线监测电路的故障诊断与状态监测方法，属于电力电子设备核心部件故障诊断与可靠性领域，该通态电压在线监测电路，包含电压限幅器电路、绝对值电路，最小值电路和电压比较电路；基于所提出的通态电压在线监测电路，提出了一种两倍开关频率的数据采集方法，能够以最少的器件和采样通道数实现通态电压的精确采集和开关状态信息的获取；基于该通态电压的T型三电平变换器开路故障诊断只需要简单的查找表，无需复杂的特征提取和阈值设置步骤，能够同时实现功率器件故障诊断和状态监测，有利于全面保证3L‑T逆变器的可靠性。实验结果表明，该方法具有测量精度高、响应速度快、故障诊断时间短等优点。
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公开(公告)号：CN115588973B
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211482546.6
申请日：2022-11-24
Applicant: 苏州浪潮智能科技有限公司
Inventor： 胡兆弟
Abstract: 本发明公开一种瞬态二极管失效监控电路，涉及电路保护技术领域。电路的差分放大模块、电压采样模块与瞬态二极管电性连接，当瞬态二极管由高阻态切换至低阻态时，差分放大模块中的运算放大器获取二极管活跃信号，统计模块与差分放大模块电性连接，该统计模块根据二极管活跃信号统计瞬态二极管的工作次数信号，输出瞬态二极管的老化信号。通过上述瞬态二极管失效监控电路，及时获悉瞬态二极管的使用状态，及时排除瞬态二极管的失效风险。
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公开(公告)号：CN115754536A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202211450965.1
申请日：2022-11-18
Applicant: 许继集团有限公司 , 许继电气股份有限公司
Abstract: 本发明属于换流阀测试领域，具体涉及一种换流阀测试装置及方法。本发明在进行功能测试之前，先进行预检测试，筛选出符合功能测试条件的换流阀子模块继续进行功能测试，避免了非功能问题导致的功能正常的换流阀子模块被误识别为功能异常的子模块，提高了功能检测结果的可靠性，对换流阀的检测也更加全面；且设置了三个开关并通过阀控测试后台控制配合，实现换流阀子模块的中控板上电和电容充放电的自动流程，并且在一组子模块功能检测结束后能够自动切换至下一组，无需人工操作即可实现换流阀中大量子模块的检测；还设置了电源排插和防护连接器，方便换流阀子模块的中控板上电所需电源线的连接与拆卸以及避免相邻子模块交叉取电时对电源造成影响。
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公开(公告)号：CN112748321B
公开(公告)日：2023-01-24
申请号：CN202011400417.9
申请日：2020-12-04
Applicant: 深圳供电局有限公司
IPC: G01R31/27
Abstract: 本申请涉及一种剩余电流保护装置的试验装置。该装置包括：试验电流生成模块、剩余电流保护装置中的处理器和剩余电流保护装置中的磁通门电流传感器；其中，处理器通过试验电流生成模块与磁通门电流传感器电连接；处理器，用于产生不同类型的模拟电压信号以及控制试验电流生成模块与磁通门电流传感器的通断；模拟电压信号包括直流电压信号、交流电压信号以及高频电压信号中的任一种；试验电流生成模块，用于根据模拟电压信号产生试验电流信号；其中，试验电流信号用于模拟与剩余电流保护装置连接的待测电路中的剩余电流信号；磁通门电流传感器，用于感应试验电流信号，并将试验电流信号传输给处理器。该装置易于操作，安全性好，且节约了资源。
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