-
公开(公告)号：CN118999824B
公开(公告)日：2025-01-28
申请号：CN202411464870.4
申请日：2024-10-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种反射率热成像测试方法和计算机设备，所述方法采用连续波段光源为待测试器件的待测试区域提供入射光，通过热反射校准系数测试步骤获取不同波段光源下器件待测区域所有位置的热反射校准系数；通过反射率测试步骤获取不同波段光源下器件待测区域所有位置的反射率；通过数据处理步骤基于待测试器件所有位置的最大热反射校准系数，以及所有位置在热反射校准系数最大情况下对应波段光源下测试的反射率，计算获得待测试器件所有位置的温度数据，并将温度数据组合形成温度分布。本发明能够解决现有技术中存在的测试时间长、部分区域因材料对光源响应较差而导致温度测试结果出现极大偏离的问题，提高反射率热成像测试的效率和准确度。
-
公开(公告)号：CN119246889A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202411218374.0
申请日：2024-09-02
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01P15/125 , G01P15/08
Abstract: 本发明公开了一种MEMS加速度计及其吸合失效在线自恢复的方法，加速度计包括敏感结构和检测电路，敏感结构包括上固定极板、下固定极板和中间可移动极板，所述上固定极板和下固定极板分别连接一个二选一电路的输出端，所述二选一电路的第一输入端和第二输入端分别连接反馈电压Vf/‑Vf和预设电压Vref2，所述二选一电路的输出端连接上固定极板电压VT/下固定极板电压VB，加速度计固定极板电压VT/VB不再固定的唯一连接反馈电压Vf/‑Vf，而是根据反馈电压状态二选一的自动选择连接反馈电压Vf/‑Vf或者预设电压Vref2。本发明通过实时在线的改变固定极板上的加载电压，进而解除导致吸合失效的静电力，使得MEMS加速度计恢复正常；本发明对出现的吸合失效可以在不断电的情形下自行恢复正常工作。
-
公开(公告)号：CN114371384B
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202111575063.6
申请日：2021-12-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请提供了一种电迁移测试电路，包括测试模块、数据采集模块及控制模块，其中，测试模块用于根据输出控制信号对待测样品施加预设参数的测试信号；数据采集模块与测试模块连接，用于根据开关动作信号动作，控制待测样品接入对应的测试回路，并采集待测样品的电迁移试验参数信息；控制模块，与测试模块及数据采集模块均连接，用于根据接收的测试触发信号生成输出控制信号，以控制测试模块生成测试信号；及/或根据测试触发信号生成开关动作信号，以控制数据采集模块动作，使待测样品接入对应的测试回路。上述测试电路中，基于控制模块与数据采集模块生成待测样品的寿命预测方程，能相对准确的评估样品使用寿命，大大提高了测试效率。
-
公开(公告)号：CN118394301B
公开(公告)日：2024-11-01
申请号：CN202410866938.5
申请日：2024-07-01
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F7/544
Abstract: 本申请涉及一种函数处理电路的构建方法、函数处理电路和硬件加速器，涉及数据处理技术领域。所述方法包括：对目标函数进行连续二阶函数转换处理，得到所述目标函数的第一子函数；其中，所述目标函数为正弦函数或余弦函数；对所述目标函数进行插值处理，得到所述目标函数的第二子函数；其中，所述第一子函数和所述第二子函数之积表征所述目标函数；根据所述第一子函数、所述第二子函数，以及所述第一子函数和所述第二子函数之积对应的连接乘法器，构建所述目标函数对应的函数处理电路。采用本方法能够提高构建的函数处理电路的收敛速度和吞吐量。
-
公开(公告)号：CN118606087A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410740370.2
申请日：2024-06-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F11/07 , G06N3/0455 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本公开提供一种电子板卡故障分析方法、装置、电子设备及存储介质，属于故障诊断技术领域，获取待分析电子板卡的多通道数据；输入所述多通道数据至预先训练完成的混合注意力网络，得到所述多通道数据的特征数据；根据所述多通道数据的特征数据和预设的故障知识字典，得到所述待分析电子板卡的故障类型；其中，所述混合注意力网络基于多通道数据样本训练得到，所述多通道数据样本基于对电子板卡进行故障模拟得到。本公开通过对电子板卡进行故障模拟，解决电子板卡单通道数据的多通道数据的特征数据较少的问题，通过预先训练完成的混合注意力网络提取待分析电子板卡的多通道数据的特征，解决多通道输入的网络特征提取不足的问题。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118445767A
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202410626485.9
申请日：2024-05-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F18/27 , G06F30/20 , G06F119/08 , G06F119/14 , G06F119/04
Abstract: 本发明公开了光纤声敏元件可靠性评价方法，涉及光纤声敏元件评价技术领域，基于光纤声敏元件实际应用工况以及可靠性指标要求，提出了一种光纤声敏元件可靠性评价方法，可实现光纤声敏元件热海水加速退化激发和评估，建立考虑海水服役环境下光纤声敏元件加速寿命模型，具有更加贴近实际服役环境和较高效费比的特点，可以更好的满足产品研发、鉴定以及应用等多个环节对于光纤声敏元件可靠性评价需求。
-
公开(公告)号：CN118363712A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410405886.1
申请日：2024-04-07
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F9/455 , G06F40/186 , G06F9/445
Abstract: 本申请涉及一种嵌入式示例工程自动生成方法、装置、设备和存储介质。方法包括：从预设驱动程序库中获取主控芯片和外设芯片分别对应的预设驱动工程模板；并将主控芯片和外设芯片的配置和连接进行硬件抽象描述，得到硬件抽象文件。进一步地，根据硬件抽象文件与主控芯片和外设芯片分别对应的预设驱动工程模板，生成嵌入式示例工程。本申请中，通过硬件抽象文件和预设驱动工程模板，生成完整的嵌入式示例工程，从而可以提高嵌入式软件的开发效率。
-
公开(公告)号：CN112950560B
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202110195319.4
申请日：2021-02-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06T7/00 , G06T7/62 , G06F16/58 , G06V10/774 , G06V10/82 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本公开关于一种电子元器件缺陷检测方法、装置及系统。一个方法实施例中，可以自动检测电子元器件的缺陷，输出缺陷检测结果，可以提高电子元器件缺陷检测的速度。并且，由于公开实施例中，缺陷检测时采用了缺陷检测模型识别出不同的缺陷类型，针对不同的缺陷类型选择更加匹配的缺陷尺寸计算方式，缺陷尺寸计算可以实现对缺陷区域的量化计算，可以减少误判，提高电子元器件缺陷的检测准确率。
-
公开(公告)号：CN113900058B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202111083991.0
申请日：2021-09-14
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本公开涉及一种近场探头的校准方法、装置、系统、设备及存储介质，方法包括对所述近场探头施加近场，获取所述近场探头在第一角度条件下的所述近场的第一特征参数，以及所述近场探头的第一总输出信号和第二总输出信号；将所述第一总输出信号和第二总输出信号通过校准矩阵、所述第一特征参数进行表征，构建第一传递模型；获取所述近场探头在第二角度条件下的所述近场的第二特征参数，以及所述近场探头的第三总输出信号和第四总输出信号；构建第二传递模型；根据所述第一传递模型和第二传递模型计算获得所述校准矩阵的参数因子。本公开消除了第一传输链路和第二传输链路不对称产生的影响，提高了近场探头扫描的准确度。
-
公开(公告)号：CN118011292A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410158778.9
申请日：2024-02-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R33/06
Abstract: 本申请涉及一种磁场检测装置及磁场分析方法、计算机设备、介质和产品，所述装置包括探测环路、第一导线、第二导线、SMA同轴连接器，所述探测环路包括寄生环路和驱动环路，所述寄生环路与所述驱动环路连接；所述第一导线的第一端与所述驱动环路的第一端连接，所述第一导线的第二端与所述SMA同轴连接器的第一端连接；所述第二导线的第一端与所述驱动环路的第二端连接，所述第二导线的第二端与所述SMA同轴连接器的第二端连接；所述探测环路，用于探测电子系统的内部组件之间的磁场信号，并基于所述磁场信号生成感应电流，并通过所述第一导线和所述第二导线向所述SMA同轴连接器传输所述感应电流。采用本装置能提高磁场检测的灵敏度。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
258
records
(took 0.081 seconds)
