-
公开(公告)号：CN118604468A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410995473.3
申请日：2024-07-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请提供一种电磁场复合探头、电磁测量方法和电磁测量装置，涉及电磁测量技术领域，该电磁场复合探头包括第一感应线圈和第二感应线圈，第一感应线圈具有第一端口和第二端口，第二感应线圈具有第三端口和第四端口，第一端口、第二端口、第三端口和第四端口分别用于输出两个感应线圈共同感应探测区域沿两个方向的电磁场生成的第一电信号、第二电信号、第三电信号和第四电信号，第一电信号、第二电信号、第三电信号和第四电信号用于确定沿两个方向的电磁场强度。本申请的电磁场复合探头可探测两个方向的电磁场分量，能够提高电磁场测量时的探测效率。
-
公开(公告)号：CN118033497A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410156024.X
申请日：2024-02-02
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁场测量探头、方法、装置和系统。属于电磁探测技术领域，所述电磁场测量探头包括：连接器和叠层设置的多层电路板；其中，多层电路板包括第一环路板和第二环路板。本申请中的第一环路板上具有第一差分环路，第一差分环路用于探测干扰源的第一电磁信号，并将第一电磁信号输出至连接器。本申请中的第二环路板上具有第二差分环路，第二差分环路用于探测干扰源的第二电磁信号，并将第二电磁信号输出至连接器。基于本申请的电磁场测量探头可同时测量电场分量和磁场分量，降低了测量电场分量和磁场分量时的复杂度，提高了测量效率。
-
公开(公告)号：CN114324548B
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202111657715.0
申请日：2021-12-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N27/62
Abstract: 本发明公开一种内部气氛含量测试装置及测试方法，内部气氛含量测试装置包括真空腔室、质谱仪以及电离源，真空腔室作为气体电离的腔体，气体进样装置向真空腔室的测试腔内输入待检测气体，设于测试腔内的电离源将待检测气体电离形成离子束，离子束在电离源的驱动下进入质谱仪以检测分析气体成分和含量。测试方法是用于该内部气氛含量测试装置的测试方法。使用该内部气氛含量测试装置对小腔体气密封器件的进行部气氛测试，可以在测试腔内营造高真空环境对微量气体进行气体成分及含量的测试，气体在测试腔内直接扩散而不存在流导差异，即不存在传统内部气氛检测仪的毛细管质量歧视效应，提高了对小腔体气密封器件进行内部气氛测试时的测试准确度。
-
公开(公告)号：CN113568031B
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202110654904.6
申请日：2021-06-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01T1/36
Abstract: 本发明涉及电子器件可靠性技术领域，公开了一种α粒子发射率测试方法，包括获取测试样品；对测试设备的背底噪声进行调试，使得测试设备的α粒子发射率小于设定值；利用完成调试的测试设备对测试样品进行α粒子发射率测试，并对测试到的α粒子进行计数；当α粒子的计数达到目标计数时结束测试，并获取测试数据；对测试数据进行分析和处理。通过在对测试过程前通过背底噪声调试来降低环境噪声和设备自身发射α粒子本底对测试结果的影响，在测试完成后通过数据分析来进一步确定超低本底电子材料的测试样品的实际α粒子发射率。利用上述α粒子发射率测试方法可以实现对超低本底电子材料的测试样品α粒子发射率、能谱的准确测量，提高试验准确度。
-
公开(公告)号：CN115032476A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202210435547.9
申请日：2022-04-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种射频器件的数据处理方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取目标射频器件中封装基板的基板测试数据，基板测试数据为对封装基板的第一测试点进行测试后得到的数据；获取装设于封装基板的射频元件的射频测试数据，射频测试数据为对射频元件的第二测试点进行测试后得到的数据，第二测试点所对应的第二测试路径中的至少一部分子路径、与第一测试点所对应的第一测试路径中的至少一部分子路径重合；根据基板测试数据，对射频测试数据进行去嵌入处理，得到目标射频器件的射频特性数据。采用本方法能够提高射频器件的数据处理效率。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113484894A
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN202110654439.6
申请日：2021-06-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01T1/16
Abstract: 本发明涉及电子器件可靠性技术领域，公开了一种α粒子发射率测量方法，包括对粉末样品进行定型制样；分别对样品托盘和空的样品容器进行α粒子发射率背底测试，获得所述样品托盘的α粒子发射率和空的所述样品容器的α粒子发射率；对装满所述粉末样品的样品容器进行α粒子发射率测试，根据所述样品托盘的发射率和空的所述样品容器的α粒子发射率，获得所述粉末样品的α粒子发射率。通过根据实验需求对粉末样品进行定型和防沾污制样，来解决粉末样品存在形状不固定、容易被电离室气体吹起、容易污染托盘等问题。所述方法排除了试验设备对测试结果的干扰，解决了粉末样品α粒子发射率测试难题的同时还提高了试验准确度。
-
公开(公告)号：CN111781219A
公开(公告)日：2020-10-16
申请号：CN202010662578.9
申请日：2020-07-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N23/00
Abstract: 本申请涉及一种大气中子辐射效应测试系统以及方法。其中，大气中子辐射效应测试系统包括样品台设备、信号输入设备、测试设备以及分析设备。样品台设备包括试验样品台以及控制模块，试验样品台用于放置电子系统，控制模块用于控制试验样品台运动。分析设备根据测试设备的测试结果分析被测器件的大气中子辐射耐受能力。因此，本申请大气中子辐射效应测试系统以及方法可以对电子系统的组成器件进行大气中子辐射耐受能力分析。同时，样品台设备可以带动电子系统运动，进而使得大气中子辐射效应测试系统在同一试验过程中对多个被测器件进行切换测试。因此，本申请的大气中子辐射效应测试系统以及方法可以有效提高电子系统的安全性、可靠性。
-
公开(公告)号：CN118604467A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410726246.0
申请日：2024-06-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请涉及一种电磁场复合探头。所述电磁场复合探头的探测部分包括：驱动环路和至少两对寄生环路，驱动环路两侧各设置至少两对寄生环路中的至少一对寄生环路，通过利用驱动环路和至少两对寄生环路来探测电磁场信号，通过增加寄生环路数量探测更多的电磁耦合能量，以实现提高电磁场复合探头的灵敏度。
-
公开(公告)号：CN118534380A
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202410620890.X
申请日：2024-05-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁场检测探头、系统、方法和相关产品。探头包括探测环路、多个连接过孔和多层电路板；探测环路和多个连接过孔均设置于多层电路板中的非接地层；且探测环路中的不同信号线之间通过多个连接过孔连接；探测环路，用于检测电子系统的电磁场形成的射频信号，并将射频信号通过信号线传输到频谱分析设备，以进行电子系统的电磁场测量。采用该探头可提高电磁场检测的灵敏度。
-
公开(公告)号：CN118033502A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410158474.2
申请日：2024-02-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及磁场探测技术领域，特别是涉及一种磁场测量探头和系统。磁场测量探头包括目标测量线圈和测量增强电路；目标测量线圈与增强电路连接；目标测量线圈，用于探测干扰源的第一磁场信号和第二磁场信号；测量增强电路，用于配合目标测量线圈探测干扰源的第一磁场信号和第二磁场信号；其中，第一磁场信号用于生成干扰源的电场分量；第二磁场信号用于生成干扰源的磁场分量。本申请相比起现有技术中控制磁场测量探头进行多次测量，实现分别获取干扰源的电场分量和磁场分量的过程，能够有效的提高获取电场分量和磁场分量的效率，防止在对干扰源进行多次测量时引入机械位置误差，从而导致测量结果出现偏差。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
39
records
(took 0.082 seconds)
