薄膜晶体管
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105990448B

    公开(公告)日:2019-06-18

    申请号:CN201510085512.7

    申请日:2015-02-16

    发明人: 王永庆

    IPC分类号: H01L29/786 H01L29/51

    摘要: 本发明公开了一种薄膜晶体管,其包括栅极、第一栅极介电层、第二栅极介电层、通道层、源极和漏极。栅极设置在基板上。第一栅极介电层设置在栅极及基板上,第一栅极介电层的硅氢键含量与氮氢键含量的比值介于0.2与1.0之间。第二栅极介电层设置在第一栅极介电层上,第二栅极介电层的硅氢键含量与氮氢键含量的比值介于0.01与0.2之间。通道层设置在第二栅极介电层上。源极和漏极设置在通道层上且位于通道层的相对两侧。本发明的薄膜晶体管应用在显示面板上,可提升显示面板中像素的反应速度,进而改善画面残影的问题。

    薄膜晶体管及其制备方法

    公开(公告)号:CN109148597A

    公开(公告)日:2019-01-04

    申请号:CN201810946820.8

    申请日:2018-08-20

    发明人: 翟玉浩

    摘要: 本发明提供一种薄膜晶体管及其制备方法,薄膜晶体管包括:一基板;一有源层设置在所述基板上,所述有源层包括沟道区、设置在所述沟道区两侧的一导体化区;一第一栅极设置在所述有源层上方,且所述第一栅极在所述基板上的正投影与所述沟道区在所述基板上的正投影重合;一第二栅极设置在所述第一栅极上方,且与所述第一栅极电连接,所述第二栅极在所述基板上的正投影包含所述沟道区在所述基板上的正投影。本发明的优点在于,利用第二栅极遮挡部分导体化区,形成轻掺杂区和重掺杂区,保证导体化区的氧空缺不会向沟道区内扩散,避免了短沟道效应造成的漏电流过高和稳定性差的问题。