R-T-B系永久磁铁
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104124017B

    公开(公告)日:2015-10-28

    申请号:CN201410160457.9

    申请日:2014-04-21

    CPC classification number: H01F1/057 H01F10/126

    Abstract: 本发明提供与现有的R-T-B系永久磁铁相比较,不会显著降低磁特性,并且在温度特性方面表现优异的永久磁铁。在R-T-B系的构造中,通过交替地层叠R1-T-B和(Y、Ce)-T-B,从而形成R1-T-B系结晶层和(Y、Ce)-T-B系结晶层的层叠构造,一边可以维持R1-T-B系结晶层的高的各向异性磁场一边可以得到(Y、Ce)-T-B系结晶层的温度系数的改善效果。通过将晶格畸变小的Ce-T-B系结晶层加到Y-T-B系结晶层从而可以得到高的矫顽力。

    薄膜器件
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101071677B

    公开(公告)日:2011-06-08

    申请号:CN200710092140.6

    申请日:2007-04-02

    CPC classification number: H01F17/0013 G11B5/17 H01F2017/0066

    Abstract: 本发明提供一种在具有缠绕于磁性膜上的薄膜线圈时能够提高Q值的薄膜器件。在缠绕于磁性膜(13)上的薄膜线圈(14)上,由下部磁性膜(12)以及上部磁性膜(13)夹持的下部线圈部分(14A)的厚度TA比没有被下部磁性膜(12)以及上部磁性膜(13)夹持的上部线圈部分(14B)的厚度TB大(厚度比TB/TA<1)。与下部线圈部分(14A)的厚度TA为上部线圈部分(14B)的厚度TB以下的情况(厚度比TB/TA≥1)相比,在下部磁性膜(12)以及上部磁性膜(13)之间,交链下部线圈部分(14A)的过渡磁通的量减少。

    高频用磁性薄膜、复合磁性薄膜和使用它们的磁性元件

    公开(公告)号:CN1333413C

    公开(公告)日:2007-08-22

    申请号:CN03802283.4

    申请日:2003-01-10

    Abstract: 本发明提供一种高频用磁性薄膜,其中,含有由T-L组合物构成的第1层,其中T是Fe或FeCo、L是C、B和N之中的1种、2种或以上、和在上述第1层的任意的面上被配置的由Co系非晶质合金构成的第2层。本发明的高频用磁性薄膜,通过层叠、优选交替地层叠了多个第1层和多个第2层的多层膜结构构成为好。本发明的高频用磁性薄膜,能够得到在1GHz下的复数磁导率的实数部(μ’)为400或以上、并且性能指数Q(Q=μ’/μ”)为4或以上、饱和磁化为14kG(1.4T)或以上的特性。

    R-T-B系永久磁铁
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104124020A

    公开(公告)日:2014-10-29

    申请号:CN201410171646.6

    申请日:2014-04-25

    CPC classification number: H01F1/057 H01F10/126

    Abstract: 本发明提供与现有的R-T-B系永久磁铁相比不会显著降低磁特性并且在温度特性方面表现优异的永久磁铁。在R-T-B系的构造中,通过交替地层叠R1-T-B和Y-T-B,从而形成R1-T-B系结晶层和Y-T-B系结晶层的层叠构造,维持R1-T-B系结晶层的高的各向异性磁场,同时得到Y-T-B系结晶层的温度系数的改善效果。

    磁测量装置
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104081218A

    公开(公告)日:2014-10-01

    申请号:CN201280068265.4

    申请日:2012-12-13

    CPC classification number: G01R33/12 G01R33/10 G01R33/1215

    Abstract: 本发明提供一种可以测量薄板状且高矫顽力的磁性体试样的微小区域的矫顽力和矫顽力分布的磁场测量装置。其中,对磁性体试样(5)施加第1方向的磁场并使其大致饱和磁化。接着,在施加了与第1磁场相反的方向的第2磁场之后,由测量部(2)扫描磁性体试样(5)的表面,由此检测磁性体试样(5)的起因于剩磁的泄漏磁通。在一边使施加于磁性体试样(5)的第2磁场强度渐增一边重复由测量部(2)进行的测定,并得到从磁性体试样(5)泄漏的磁场强度变为最大的第2磁场,并对磁性体试样(5)施加相当于矫顽力的磁场而大致一半量的磁化反转的情况下,基于退磁场(Hd)为最小且泄漏至外部的磁通为最大的判断来得到磁性体试样(5)的矫顽力。

    薄膜器件
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101071677A

    公开(公告)日:2007-11-14

    申请号:CN200710092140.6

    申请日:2007-04-02

    CPC classification number: H01F17/0013 G11B5/17 H01F2017/0066

    Abstract: 本发明提供一种在具有缠绕于磁性膜上的薄膜线圈时能够提高Q值的薄膜器件。在缠绕于磁性膜(13)上的薄膜线圈(14)上,由下部磁性膜(12)以及上部磁性膜(13)夹持的下部线圈部分(14A)的厚度TA比没有被下部磁性膜(12)以及上部磁性膜(13)夹持的上部线圈部分(14B)的厚度TB大(厚度比TB/TA<1)。与下部线圈部分(14A)的厚度TA为上部线圈部分(14B)的厚度TB以下的情况(厚度比TB/TA≥1)相比,在下部磁性膜(12)以及上部磁性膜(13)之间,交链下部线圈部分(14A)的过渡磁通的量减少。

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