公开(公告)号：CN104081217A

公开(公告)日：2014-10-01

申请号：CN201280068264.X

申请日：2012-12-13

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 铃木健一 ,  近松努 ,  小川昭雄 ,  崔京九 ,  桥本龙司

IPC: G01R33/12

CPC classification number: G01R33/12 ,  G01R33/10 ,  G01R33/1215

Abstract: 本发明在于提供可以测量薄板状的磁性体试样的微小区域的磁特性的磁场测量装置。其中，在对磁性体试样(5)施加磁场并使之磁化之后，通过由测量部(2)扫描从而检测磁性体试样(5)的泄漏磁通。通过对磁性体试样(5)的第1区域和第2区域在彼此相反的方向上使其磁化并减小退磁场(Hd)，从而使磁通泄漏到外部。具体而言，由具有一对以上磁极的磁场产生部(6)来进行多极着磁，或者由磁场产生部(6)施加阻尼振荡磁场来进行着磁，或者由一边施加交流磁场一边扫描试样表面的局部磁场产生部(3)来进行着磁。

公开(公告)号：CN104081217B

公开(公告)日：2017-09-01

申请号：CN201280068264.X

申请日：2012-12-13

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 铃木健一 ,  近松努 ,  小川昭雄 ,  崔京九 ,  桥本龙司

IPC: G01R33/12

CPC classification number: G01R33/12 ,  G01R33/10 ,  G01R33/1215

Abstract: 本发明在于提供可以测量薄板状的磁性体试样的微小区域的磁特性的磁场测量装置。其中，在对磁性体试样(5)施加磁场并使之磁化之后，通过由测量部(2)扫描从而检测磁性体试样(5)的泄漏磁通。通过对磁性体试样(5)的第1区域和第2区域在彼此相反的方向上使其磁化并减小退磁场(Hd)，从而使磁通泄漏到外部。具体而言，由具有一对以上磁极的磁场产生部(6)来进行多极着磁，或者由磁场产生部(6)施加阻尼振荡磁场来进行着磁，或者由一边施加交流磁场一边扫描试样表面的局部磁场产生部(3)来进行着磁。

公开(公告)号：CN104081218B

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201280068265.4

申请日：2012-12-13

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 铃木健一 ,  近松努 ,  小川昭雄 ,  崔京九 ,  桥本龙司

IPC: G01R33/12

CPC classification number: G01R33/12 ,  G01R33/10 ,  G01R33/1215

Abstract: 本发明提供一种可以测量薄板状且高矫顽力的磁性体试样的微小区域的矫顽力和矫顽力分布的磁场测量装置。其中，对磁性体试样(5)施加第1方向的磁场并使其大致饱和磁化。接着，在施加了与第1磁场相反的方向的第2磁场之后，由测量部(2)扫描磁性体试样(5)的表面，由此检测磁性体试样(5)的起因于剩磁的泄漏磁通。在一边使施加于磁性体试样(5)的第2磁场强度渐增一边重复由测量部(2)进行的测定，并得到从磁性体试样(5)泄漏的磁场强度变为最大的第2磁场，并对磁性体试样(5)施加相当于矫顽力的磁场而大致一半量的磁化反转的情况下，基于退磁场(Hd)为最小且泄漏至外部的磁通为最大的判断来得到磁性体试样(5)的矫顽力。

公开(公告)号：CN104081218A

公开(公告)日：2014-10-01

申请号：CN201280068265.4

申请日：2012-12-13

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 铃木健一 ,  近松努 ,  小川昭雄 ,  崔京九 ,  桥本龙司

IPC: G01R33/12

CPC classification number: G01R33/12 ,  G01R33/10 ,  G01R33/1215

Abstract: 本发明提供一种可以测量薄板状且高矫顽力的磁性体试样的微小区域的矫顽力和矫顽力分布的磁场测量装置。其中，对磁性体试样(5)施加第1方向的磁场并使其大致饱和磁化。接着，在施加了与第1磁场相反的方向的第2磁场之后，由测量部(2)扫描磁性体试样(5)的表面，由此检测磁性体试样(5)的起因于剩磁的泄漏磁通。在一边使施加于磁性体试样(5)的第2磁场强度渐增一边重复由测量部(2)进行的测定，并得到从磁性体试样(5)泄漏的磁场强度变为最大的第2磁场，并对磁性体试样(5)施加相当于矫顽力的磁场而大致一半量的磁化反转的情况下，基于退磁场(Hd)为最小且泄漏至外部的磁通为最大的判断来得到磁性体试样(5)的矫顽力。