半导体装置及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN106952882B

    公开(公告)日:2021-06-15

    申请号:CN201610855486.6

    申请日:2016-09-27

    Inventor: 丸山力宏

    Abstract: 本发明能够缩减半导体装置的封装结构的组装步骤和组装时间,提高该半导体装置的封装结构的强度。半导体装置的端子紧固框(10)设置成在与外部端子(6)的L形脚部(6a)的底面之间部分地存在第一间隙(11)并且在与树脂壳体(5)的内侧的面之间存在第二间隙(12)。在组装金属基底1时的压力下,粘接剂(15)进入第二间隙(12),再进入与第二间隙(12)连结的第一间隙(11)。通过使粘接剂(15)进入第一间隙(11),从而对外部端子(6)的L形脚部(6a)和端子紧固框(10)之间进行固定,通过使粘接剂(15)挤入第二间隙(12),从而对树脂壳体(5)和端子紧固框(10)之间进行固定。

    半导体装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109216286A

    公开(公告)日:2019-01-15

    申请号:CN201810165948.0

    申请日:2018-02-28

    Abstract: 本发明提供一种半导体装置,其能够抑制构成部件相对于电路图案的接合强度的下降。在半导体装置(10)中,电路图案(12b、12e、12h)在彼此对置的侧面分别形成有保护膜(12b2、12e1、12e4、12h2),不对形成了这些保护膜(12b2、12e1、12e4、12h2)的侧面以外的面进行电镀处理等。因此,如果将半导体元件(15a、15b、15d)和接触部件(16b、16f)直接经由焊料(18h、18i、18l、18b、18f)接合到电路图案(12b、12e、12h),则抑制焊料(18h、18i、18l、18b、18f)相对于多个电路图案(12b、12e、12h)的润湿性的下降。

    半导体装置、金属部件以及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN106169453A

    公开(公告)日:2016-11-30

    申请号:CN201610206064.6

    申请日:2016-04-05

    Abstract: 本发明提供一种能够消除组装不良的半导体装置、金属部件以及半导体装置的制造方法。通过焊料将筒状接触部件的一个开放端的凸缘接合于绝缘基板的导电性板上。外部电极用端子嵌合在筒状接触部件的主体筒部。筒状接触部件具有从主体筒部的内壁朝内侧突出的突起部。突起部设置为在筒状接触部件的一个开放端侧遍及主体筒部的内壁的整个周。突起部具有根据将外部电极用端子压入主体筒部时的负重而变形的厚度(t1)。将突起部的配置高度(h1)设定为以下高度,即通过在主体筒部的内壁与插入到主体筒部的预定深度为止的外部电极用端子的下端部之间形成间隙的方式,能够尽可能地拦截爬升至主体筒部的内壁的焊料。

    半导体装置
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109216286B

    公开(公告)日:2023-09-19

    申请号:CN201810165948.0

    申请日:2018-02-28

    Abstract: 本发明提供一种半导体装置,其能够抑制构成部件相对于电路图案的接合强度的下降。在半导体装置(10)中,电路图案(12b、12e、12h)在彼此对置的侧面分别形成有保护膜(12b2、12e1、12e4、12h2),不对形成了这些保护膜(12b2、12e1、12e4、12h2)的侧面以外的面进行电镀处理等。因此,如果将半导体元件(15a、15b、15d)和接触部件(16b、16f)直接经由焊料(18h、18i、18l、18b、18f)接合到电路图案(12b、12e、12h),则抑制焊料(18h、18i、18l、18b、18f)相对于多个电路图案(12b、12e、12h)的润湿性的下降。

    半导体装置
    8.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN115700915A

    公开(公告)日:2023-02-07

    申请号:CN202210593444.5

    申请日:2022-05-27

    Abstract: 本发明提供能够降低振荡现象的产生的半导体装置。半导体装置通过电阻芯片来减小从控制端子起控制电极为止的布线电阻以及电感的相对差。在导通(或关断)针对控制电极的控制电压时,能够抑制多个半导体芯片的上升时间(或下降时间)的差。由此,输出电极(源极)的电压不会紊乱。因此,能够向外部的控制装置输出稳定的电压。此外,半导体装置通过引线而使配置于不同的绝缘电路基板的半导体芯片的输出电极间的电位均匀化。由此,能够从输出电极(源极)向外部的控制装置稳定地输出电压。因此,半导体装置能够抑制振荡现象以及由其引起的误动作的产生,并且能够抑制可靠性的降低。

    外壳、半导体装置和外壳的制造方法

    公开(公告)号:CN108141976B

    公开(公告)日:2020-05-05

    申请号:CN201780002961.8

    申请日:2017-02-07

    Inventor: 丸山力宏

    Abstract: 在通过粘合剂将外壳主体和盖体固定的情况下,需要涂布粘合剂并使外壳主体和盖体粘合,通过加热等使粘合剂硬化的工序,装置的制造花费时间。另外,在通过卡合爪将外壳主体和盖体固定的情况下,如果形成卡合爪这样的细微的形状,则装置的制造花费时间。本发明提供外壳和具备该外壳的半导体装置,所述外壳具备:第1部件;和,与第1部件卡合而在内部形成容纳空间的第2部件,并且第1部件具有从第1部件向第2部件侧延伸,并且使端部从与第1部件侧相反的一侧溃缩而将第2部件固定于第1部件的突起部。

    半导体装置
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111052510A

    公开(公告)日:2020-04-21

    申请号:CN201980004079.6

    申请日:2019-02-05

    Abstract: 能够防止接合构件在接触部件的中空孔中爬升。半导体装置(10)具有层叠基板(14)和接触部件(17),层叠基板(14)具备电路板(13a)和形成有电路板(13a)的绝缘板(11),接触部件(17)在内部形成有筒状的中空孔(17f)且其开口端部(17f2)介由接合构件(19)而与电路板(13a)的正面的接合区(A2)接合。而且,在这样的半导体装置(10)中,接触部件(17)的与接合构件(19)的接触区(A1)的对接合构件(19)的润湿性与电路板(13a)的至少接合区(A2)的对接合构件(19)的润湿性大致相等。因此,能够抑制因将接触部件(17)与电路板(13a)接合时的加热导致的接合构件(19)在接触部件(17)的中空孔(17f)中的爬升。

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