垂直FET栅极长度控制技术

    公开(公告)号:CN111954920A

    公开(公告)日:2020-11-17

    申请号:CN201980008379.1

    申请日:2019-01-18

    Abstract: 提供了用于VFET栅极长度控制的技术。在一个方面,一种形成VFET器件的方法包括:在衬底中图案化鳍片;缘着所述鳍片的相对侧壁形成第一聚合物隔离物;通过所述第一聚合物隔离物形成与所述鳍片偏置的第二聚合物隔离物;去除对所述第二聚合物隔离物有选择性的所述第一聚合物隔离物;使所述第二聚合物隔离物回流以闭合与所述鳍片的间隙;在所述第二聚合物隔离物上方形成覆层;去除所述第二聚合物隔离物;沿着暴露于所述底部隔离物和所述覆层之间的所述鳍片的相对侧壁形成栅极,其中所述栅极具有通过去除所述第二聚合物隔离物而设定的栅极长度Lg;在所述覆层上方形成所述顶部隔离物;在所述顶部隔离物上方形成顶部源极和漏极。还提供了VFET器件。

    图案化节距线的结构和方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118140307A

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202280071008.X

    申请日:2022-10-11

    Abstract: 一种半导体制造方法,其包括形成多个第一芯轴作为多层硬掩模的顶层,及在多个第一芯轴中的每个周围形成第一间隔物。去除多个第一芯轴并切割第一间隔物以形成多个第二芯轴。在多个第二芯轴中的每个周围形成第二间隔物,且形成包含多个第三芯轴的第一自对准图案。去除多个第二芯轴及第二间隔物且蚀刻多层硬掩模以将第一自对准图案转移到多层硬掩模的下层。形成第二自对准图案,其中第二自对准图案与第一自对准图案混合,以及将第一自对准图案和第二自对准图案蚀刻到导电金属层中。

Patent Agency Ranking