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公开(公告)号:CN113767450A
公开(公告)日:2021-12-07
申请号:CN202080031546.7
申请日:2020-04-28
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: H01L21/00
Abstract: 半导体器件和形成半导体器件的方法包括在半导体鳍部周围形成由第一电介质材料形成的第一电介质层,该第一电介质层达到低于半导体鳍部的高度的目标高度。在第一电介质层上沉积第二电介质层,该第二电介质层由第二电介质材料形成。在所述第二电介质层上形成由该第一电介质材料形成的第三电介质层。蚀刻掉该第二电介质层以暴露该半导体鳍部上的间隙。氧化半导体鳍部的在间隙中暴露的部分以形成隔离层。
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