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公开(公告)号：CN117572221A
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN202311544980.7
申请日：2023-11-20
Applicant: 中汽研软件测评(天津)有限公司
IPC: G01R31/3181 , G06F11/07 , G06F11/22 , G01R31/3183 , G01R31/28
Abstract: 本申请公开了一种芯片模型运行精度测试方法、设备和存储介质，涉及芯片测试技术领域，方法包括：将图像处理模型和测试集导入待测试的智能汽车计算芯片；所述测试集为不同应用场景下的图像；智能汽车计算芯片调用所述测试集，执行精度测试程序，并运行所述图像处理模型，输出图像处理结果；根据所述图像处理结果得到不同应用场景和不同图像处理模型在芯片上的运行精度。
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公开(公告)号：CN116400205B
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202310664603.0
申请日：2023-06-07
Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 , 中汽研软件测评(天津)有限公司
IPC: G01R31/3183 , G01R31/317 , G06F11/22 , G06F1/04 , G06F11/263
Abstract: 本发明涉及一种芯片时钟网络延时交叉验证测试方法，涉及芯片测试技术领域，通过将测试向量输入至N颗同批次、同型号的待测芯片；控制OCC电路At‑speed模式提供的时钟信号作为待测芯片内各触发器的控制时钟；将来自各待测芯片的触发器输出信号进行异或运算，实现批量交叉验证。
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公开(公告)号：CN116381469B
公开(公告)日：2023-08-15
申请号：CN202310664607.9
申请日：2023-06-07
Applicant: 中汽研软件测评(天津)有限公司
Abstract: 本发明涉及一种芯片功耗测信道信息交叉验证测试方法和装置，涉及芯片测试技术领域，通过将q种不同汉明重量的测试明文均输入至M颗同批次同型号的待测芯片中执行加密运算，采集每颗待测芯片运行时的功耗泄露曲线；每种汉明重量测试明文下的功耗泄露曲线进行平均，对平均功耗泄露迹进行离散傅里叶变换得到功率谱密度曲线；对功率谱密度曲线进行峰值特征提取得到峰值功率关键点；通过对不同待测芯片同种汉明重量测试明文下的峰值功率关键点进行异或操作，对各待测芯片进行批量交叉验证，实现基于功耗信号的批量的交叉验证，有利于提高测试效率。
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公开(公告)号：CN119358616A
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202411895674.2
申请日：2024-12-23
Applicant: 中汽研软件测评(天津)有限公司
IPC: G06N3/063 , B60W40/08 , G06N3/045 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本申请提供了一种基于PYNQ‑Z2的方向盘掌控监测方法、装置、介质及设备，通过获取驾驶员对方向盘的第一掌控数据；将第一掌控数据输入监测模型，得到驾驶员对方向盘的掌控状态；其中，监测模型布置于PYNQ‑Z2开发板上，监测模型的网络结构布置于处理器端，多个卷积层和多个池化层分别布置于PYNQ‑Z2开发板的多个可编程逻辑单元上；即通过将监测模型的网络结构和卷积层、池化层分别布置在PYNQ‑Z2开发板的处理器端和可编程逻辑端，利用多个可编程逻辑单元同步计算以提高计算速度，从而减少延时，并且利用多个可编程逻辑单元上的多个卷积层和池化层对掌控数据进行计算并综合得到掌控状态，从而利用多个卷积层和池化层优势互补以提高监测精度。
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公开(公告)号：CN118777844B
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202411244330.5
申请日：2024-09-06
Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 , 中汽研软件测评(天津)有限公司
Abstract: 本发明涉及集成电路安全和电磁故障注入技术领域，公开了一种针对密码芯片的高时间精度电磁故障注入方法及装置，方法包括：通过上位机对待攻击密码芯片进行初始化；根据电磁脉冲信号的尖峰时间和上升时间确定故障注入时间；在故障注入时间对待攻击密码芯片的目标位置进行故障注入；待完成一次故障注入后，判断该次故障注入是否为有效故障注入；将待攻击密码芯片初始化，改变待攻击密码芯片的输入明文；重新执行上述步骤；根据待攻击密码芯片在不同的明文下输出的有效错误密文，通过差分故障分析法破解待攻击密码芯片的密钥信息。本发明能够更加精准地控制故障注入的时间，提高差分故障分析的分析效率和效果，提高有效故障注入的成功率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119181747A
公开(公告)日：2024-12-24
申请号：CN202411688357.3
申请日：2024-11-25
Applicant: 中汽研软件测评(天津)有限公司
Abstract: 本发明涉及紫外探测器领域，具体而言，提供了一种日盲紫外光电探测器及其制备方法和应用。所述制备方法包括以下步骤：S1、在衬底上第一旋涂氧化镓前驱体溶液，第一热处理后得到氧化镓多晶薄膜；S2、在所述氧化镓多晶薄膜表面沉积金属电极；S3、在所述金属电极上第二旋涂氧化铟镓锌前驱体溶液，第二热处理后得到日盲紫外光电探测器。本发明工艺可靠、可重复性好，所得日盲紫外光电探测器至少具有响应度较高、探测率较高、光暗电流比较高的优点。
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公开(公告)号：CN119044545A
公开(公告)日：2024-11-29
申请号：CN202411437993.9
申请日：2024-10-15
Applicant: 中汽研软件测评(天津)有限公司
Abstract: 本发明涉及扫描探针领域，具体而言，提供了一种扫描隧道显微镜Pt‑Ir针尖制备装置及方法。所述制备装置包括：待腐蚀Pt‑Ir金属丝、交流电源、腐蚀溶液、激光传感器、激光发射器和高度调节组件；所述待腐蚀Pt‑Ir金属丝连接于所述高度调节组件的微悬臂；所述交流电源分别与所述待腐蚀Pt‑Ir金属丝和所述腐蚀溶液相连；所述高度调节组件还包括步进马达，所述步进马达用于控制所述待腐蚀Pt‑Ir金属丝按规定速率下降；所述激光发射器用于向所述微悬臂发射激光；所述激光传感器用于检测所述微悬臂处反射的激光信号。采用本发明的装置和方法制成的Pt‑Ir针尖质量稳定、可重复性高。
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公开(公告)号：CN118740366A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202411225117.X
申请日：2024-09-03
Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 , 中汽研软件测评(天津)有限公司
Abstract: 本发明涉及集成电路安全和电源毛刺故障注入技术领域，公开了针对密码芯片的高时间精度电源毛刺故障注入方法及装置，设置电源毛刺故障注入装置的参数，通过电脑对待攻击密码芯片进行初始化配置，根据电源毛刺电压和目标指令，确定电源毛刺的故障注入时间；通过电脑设置电源毛刺的故障注入时间，控制高压脉冲发生器产生电源毛刺故障，并注入所述待攻击密码芯片，判断并记录有效错误密文；通过多次电源毛刺故障注入，获取待攻击密码芯片在输入不同的明文时产生的有效错误密文；根据差分故障分析有效错误密文，破解待攻击密码芯片的密钥信息，能够在对密码芯片进行电源毛刺故障注入时，更加精准的控制注入时间点。
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公开(公告)号：CN116990035A
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202310940377.4
申请日：2023-07-28
Applicant: 中汽研软件测评(天津)有限公司 , 中汽研汽车检验中心(天津)有限公司 , 中国汽车技术研究中心有限公司
IPC: G01M17/007
Abstract: 本发明提供了一种自动驾驶汽车功能安全测试用超声波传感器遮挡装置，包括：固定支架、转动模块和控制系统。本发明有益效果：本发明在自动泊车辅助驾驶过程中注入超声波雷达遮挡故障，进行整车级功能安全测试中具有较强的可执行性，并且故障注入时机及时间可控性强，实现对自动泊车系统安全目标的验证，具有较高的可靠性。
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公开(公告)号：CN116400199A
公开(公告)日：2023-07-07
申请号：CN202310651538.8
申请日：2023-06-05
Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 , 中汽研软件测评(天津)有限公司
IPC: G01R31/28 , G06F11/22 , G06F11/263
Abstract: 本发明涉及一种芯片时钟毛刺故障注入交叉验证测试方法和装置，涉及芯片测试领域，在有限时间内将毛刺时钟信号输入至各待测芯片，使各待测芯片在系统时钟信号和毛刺时钟信号之间切换，将来自各待测芯片的输出信号进行异或运算，实现批量交叉验证，本发明基于时钟毛刺故障注入的批量级测试；而且，实现了毛刺时钟信号与系统时钟信号切换过程中，以及周期变化的毛刺时钟信号的批量测试。
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