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公开(公告)号：CN118740366B
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202411225117.X
申请日：2024-09-03
Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 , 中汽研软件测评(天津)有限公司
Abstract: 本发明涉及集成电路安全和电源毛刺故障注入技术领域，公开了针对密码芯片的高时间精度电源毛刺故障注入方法及装置，设置电源毛刺故障注入装置的参数，通过电脑对待测试密码芯片进行初始化配置，根据电源毛刺电压和目标指令，确定电源毛刺的故障注入时间；通过电脑设置电源毛刺的故障注入时间，控制高压脉冲发生器产生电源毛刺故障，并注入所述待测试密码芯片，判断并记录有效错误密文；通过多次电源毛刺故障注入，获取待测试密码芯片在输入不同的明文时产生的有效错误密文；根据差分故障分析有效错误密文，破解待测试密码芯片的密钥信息，能够在对密码芯片进行电源毛刺故障注入时，更加精准的控制注入时间点。
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公开(公告)号：CN117270493A
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202311030710.4
申请日：2023-08-16
Applicant: 中汽研软件测评(天津)有限公司 , 中汽研汽车检验中心(天津)有限公司 , 中国汽车技术研究中心有限公司
IPC: G05B23/02 , G01M17/007
Abstract: 本申请提供一种自动驾驶汽车功能安全测试方法，方法包括如下步骤：响应于外部输入的遮挡指令，遮挡测试车辆的毫米波雷达并控制测试车辆置于第一工况；第一工况为：自动驾驶功能关闭，并以满足第一车速范围的车速行驶第一路程；判断是否检测到报警信号；报警信号用于表征毫米波雷达被遮挡；若否，则输出测试不通过结果；若是，则执行激活自动驾驶功能操作，并判断自动驾驶功能激活失败时，输出测试通过结果。本申请提供的测试方法可对车辆的安全机制进行测试，通过检测毫米波雷达是否被遮挡，以及被遮挡时是否能开启自动驾驶功能，进而判断车辆安全机制是否有效，减少车辆行驶过程中的安全隐患。
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公开(公告)号：CN119001409B
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202411463140.2
申请日：2024-10-21
Applicant: 中汽研软件测评(天津)有限公司
Abstract: 本申请公开了一种LIN接口芯片的阈值电压检测系统和方法，设置直流电源、信号发生器、数据生成模块和测试设备，直流电源给被测芯片提供电压，信号发生器给被测芯片提供波形信号，数据生成模块给被测芯片提供隐性电平和显性电平，数据生成模块包括RX引脚和TX引脚，测试设备检测被测芯片接收信号后的响应信号波形；即利用信号发生器或数据生成模块给被测芯片提供波形信号或隐性电平和显性电平，以实现多种规格的LIN接口芯片的阈值电压检测，从而降低不同规格LIN接口芯片的阈值电压检测电路的搭建繁琐性、提高LIN接口芯片的阈值电压检测效率，同时还能够减少多次搭建检测电路所引入的误差，从而提高LIN接口芯片的阈值电压检测精度。
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公开(公告)号：CN119254407A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202411779519.4
申请日：2024-12-05
Applicant: 中汽研软件测评(天津)有限公司
Abstract: 本申请涉及芯片测试技术领域，具体而言，涉及一种针对SM4‑XTS高阶侧信道分析抵抗能力的安全评估方法和设备。该方法包括：根据假设的tweak调整值、输入SM4‑XTS加密电路的明文和高阶泄露模型，得到相邻轮次的tweak调整值对应的汉明重量的差值序列；持续向SM4‑XTS加密电路发送随机激励，获取侧信道数据集；根据汉明重量的差值序列与所述侧信道信息差序列是否具有相同的统计学分布，对SM4‑XTS加密电路进行安全性评估。本申请实现对SM4‑XTS加密电路的抗高阶侧信道分析的能力进行测试，验证安全芯片的物理安全性，从而推动防护技术的进一步发展。
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公开(公告)号：CN116400202B
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202310664604.5
申请日：2023-06-07
Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 , 中汽研软件测评(天津)有限公司
IPC: G01R31/28 , G01R31/317 , G06F11/22 , G06F11/263
Abstract: 本发明涉及一种芯片逻辑功能交叉验证测试方法，涉及芯片测试技术领域，按照测试参数将测试向量按照时序顺序输入至各待测芯片中，采集各待测芯片的输出信号；对N颗待测芯片相同时钟周期的输出信号进行异或运算实现批量交叉验证，从而实现了批量化的芯片逻辑功能交叉验证。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117572221A
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN202311544980.7
申请日：2023-11-20
Applicant: 中汽研软件测评(天津)有限公司
IPC: G01R31/3181 , G06F11/07 , G06F11/22 , G01R31/3183 , G01R31/28
Abstract: 本申请公开了一种芯片模型运行精度测试方法、设备和存储介质，涉及芯片测试技术领域，方法包括：将图像处理模型和测试集导入待测试的智能汽车计算芯片；所述测试集为不同应用场景下的图像；智能汽车计算芯片调用所述测试集，执行精度测试程序，并运行所述图像处理模型，输出图像处理结果；根据所述图像处理结果得到不同应用场景和不同图像处理模型在芯片上的运行精度。
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公开(公告)号：CN116400205B
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202310664603.0
申请日：2023-06-07
Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 , 中汽研软件测评(天津)有限公司
IPC: G01R31/3183 , G01R31/317 , G06F11/22 , G06F1/04 , G06F11/263
Abstract: 本发明涉及一种芯片时钟网络延时交叉验证测试方法，涉及芯片测试技术领域，通过将测试向量输入至N颗同批次、同型号的待测芯片；控制OCC电路At‑speed模式提供的时钟信号作为待测芯片内各触发器的控制时钟；将来自各待测芯片的触发器输出信号进行异或运算，实现批量交叉验证。
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公开(公告)号：CN116381469B
公开(公告)日：2023-08-15
申请号：CN202310664607.9
申请日：2023-06-07
Applicant: 中汽研软件测评(天津)有限公司
Abstract: 本发明涉及一种芯片功耗测信道信息交叉验证测试方法和装置，涉及芯片测试技术领域，通过将q种不同汉明重量的测试明文均输入至M颗同批次同型号的待测芯片中执行加密运算，采集每颗待测芯片运行时的功耗泄露曲线；每种汉明重量测试明文下的功耗泄露曲线进行平均，对平均功耗泄露迹进行离散傅里叶变换得到功率谱密度曲线；对功率谱密度曲线进行峰值特征提取得到峰值功率关键点；通过对不同待测芯片同种汉明重量测试明文下的峰值功率关键点进行异或操作，对各待测芯片进行批量交叉验证，实现基于功耗信号的批量的交叉验证，有利于提高测试效率。
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公开(公告)号：CN119358616A
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202411895674.2
申请日：2024-12-23
Applicant: 中汽研软件测评(天津)有限公司
IPC: G06N3/063 , B60W40/08 , G06N3/045 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本申请提供了一种基于PYNQ‑Z2的方向盘掌控监测方法、装置、介质及设备，通过获取驾驶员对方向盘的第一掌控数据；将第一掌控数据输入监测模型，得到驾驶员对方向盘的掌控状态；其中，监测模型布置于PYNQ‑Z2开发板上，监测模型的网络结构布置于处理器端，多个卷积层和多个池化层分别布置于PYNQ‑Z2开发板的多个可编程逻辑单元上；即通过将监测模型的网络结构和卷积层、池化层分别布置在PYNQ‑Z2开发板的处理器端和可编程逻辑端，利用多个可编程逻辑单元同步计算以提高计算速度，从而减少延时，并且利用多个可编程逻辑单元上的多个卷积层和池化层对掌控数据进行计算并综合得到掌控状态，从而利用多个卷积层和池化层优势互补以提高监测精度。
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公开(公告)号：CN118777844B
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202411244330.5
申请日：2024-09-06
Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 , 中汽研软件测评(天津)有限公司
Abstract: 本发明涉及集成电路安全和电磁故障注入技术领域，公开了一种针对密码芯片的高时间精度电磁故障注入方法及装置，方法包括：通过上位机对待攻击密码芯片进行初始化；根据电磁脉冲信号的尖峰时间和上升时间确定故障注入时间；在故障注入时间对待攻击密码芯片的目标位置进行故障注入；待完成一次故障注入后，判断该次故障注入是否为有效故障注入；将待攻击密码芯片初始化，改变待攻击密码芯片的输入明文；重新执行上述步骤；根据待攻击密码芯片在不同的明文下输出的有效错误密文，通过差分故障分析法破解待攻击密码芯片的密钥信息。本发明能够更加精准地控制故障注入的时间，提高差分故障分析的分析效率和效果，提高有效故障注入的成功率。
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