一种LIN接口芯片的阈值电压检测系统和方法

    公开(公告)号:CN119001409B

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202411463140.2

    申请日:2024-10-21

    Abstract: 本申请公开了一种LIN接口芯片的阈值电压检测系统和方法,设置直流电源、信号发生器、数据生成模块和测试设备,直流电源给被测芯片提供电压,信号发生器给被测芯片提供波形信号,数据生成模块给被测芯片提供隐性电平和显性电平,数据生成模块包括RX引脚和TX引脚,测试设备检测被测芯片接收信号后的响应信号波形;即利用信号发生器或数据生成模块给被测芯片提供波形信号或隐性电平和显性电平,以实现多种规格的LIN接口芯片的阈值电压检测,从而降低不同规格LIN接口芯片的阈值电压检测电路的搭建繁琐性、提高LIN接口芯片的阈值电压检测效率,同时还能够减少多次搭建检测电路所引入的误差,从而提高LIN接口芯片的阈值电压检测精度。

Patent Agency Ranking