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公开(公告)号：CN119254407A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202411779519.4
申请日：2024-12-05
Applicant: 中汽研软件测评(天津)有限公司
Abstract: 本申请涉及芯片测试技术领域，具体而言，涉及一种针对SM4‑XTS高阶侧信道分析抵抗能力的安全评估方法和设备。该方法包括：根据假设的tweak调整值、输入SM4‑XTS加密电路的明文和高阶泄露模型，得到相邻轮次的tweak调整值对应的汉明重量的差值序列；持续向SM4‑XTS加密电路发送随机激励，获取侧信道数据集；根据汉明重量的差值序列与所述侧信道信息差序列是否具有相同的统计学分布，对SM4‑XTS加密电路进行安全性评估。本申请实现对SM4‑XTS加密电路的抗高阶侧信道分析的能力进行测试，验证安全芯片的物理安全性，从而推动防护技术的进一步发展。
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公开(公告)号：CN117572221A
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN202311544980.7
申请日：2023-11-20
Applicant: 中汽研软件测评(天津)有限公司
IPC: G01R31/3181 , G06F11/07 , G06F11/22 , G01R31/3183 , G01R31/28
Abstract: 本申请公开了一种芯片模型运行精度测试方法、设备和存储介质，涉及芯片测试技术领域，方法包括：将图像处理模型和测试集导入待测试的智能汽车计算芯片；所述测试集为不同应用场景下的图像；智能汽车计算芯片调用所述测试集，执行精度测试程序，并运行所述图像处理模型，输出图像处理结果；根据所述图像处理结果得到不同应用场景和不同图像处理模型在芯片上的运行精度。
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公开(公告)号：CN116400205B
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202310664603.0
申请日：2023-06-07
Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 , 中汽研软件测评(天津)有限公司
IPC: G01R31/3183 , G01R31/317 , G06F11/22 , G06F1/04 , G06F11/263
Abstract: 本发明涉及一种芯片时钟网络延时交叉验证测试方法，涉及芯片测试技术领域，通过将测试向量输入至N颗同批次、同型号的待测芯片；控制OCC电路At‑speed模式提供的时钟信号作为待测芯片内各触发器的控制时钟；将来自各待测芯片的触发器输出信号进行异或运算，实现批量交叉验证。
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公开(公告)号：CN119254407B
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411779519.4
申请日：2024-12-05
Applicant: 中汽研软件测评(天津)有限公司
Abstract: 本申请涉及芯片测试技术领域，具体而言，涉及一种针对SM4‑XTS高阶侧信道分析抵抗能力的安全评估方法和设备。该方法包括：根据假设的tweak调整值、输入SM4‑XTS加密电路的明文和高阶泄露模型，得到相邻轮次的tweak调整值对应的汉明重量的差值序列；持续向SM4‑XTS加密电路发送随机激励，获取侧信道数据集；根据汉明重量的差值序列与所述侧信道信息差序列是否具有相同的统计学分布，对SM4‑XTS加密电路进行安全性评估。本申请实现对SM4‑XTS加密电路的抗高阶侧信道分析的能力进行测试，验证安全芯片的物理安全性，从而推动防护技术的进一步发展。
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公开(公告)号：CN118777844A
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202411244330.5
申请日：2024-09-06
Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 , 中汽研软件测评(天津)有限公司
Abstract: 本发明涉及集成电路安全和电磁故障注入技术领域，公开了一种针对密码芯片的高时间精度电磁故障注入方法及装置，方法包括：通过上位机对待攻击密码芯片进行初始化；根据电磁脉冲信号的尖峰时间和上升时间确定故障注入时间；在故障注入时间对待攻击密码芯片的目标位置进行故障注入；待完成一次故障注入后，判断该次故障注入是否为有效故障注入；将待攻击密码芯片初始化，改变待攻击密码芯片的输入明文；重新执行上述步骤；根据待攻击密码芯片在不同的明文下输出的有效错误密文，通过差分故障分析法破解待攻击密码芯片的密钥信息。本发明能够更加精准地控制故障注入的时间，提高差分故障分析的分析效率和效果，提高有效故障注入的成功率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116400199B
公开(公告)日：2023-09-15
申请号：CN202310651538.8
申请日：2023-06-05
Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 , 中汽研软件测评(天津)有限公司
IPC: G01R31/28 , G06F11/22 , G06F11/263
Abstract: 本发明涉及一种芯片时钟毛刺故障注入交叉验证测试方法和装置，涉及芯片测试领域，在有限时间内将毛刺时钟信号输入至各待测芯片，使各待测芯片在系统时钟信号和毛刺时钟信号之间切换，将来自各待测芯片的输出信号进行异或运算，实现批量交叉验证，本发明基于时钟毛刺故障注入的批量级测试；而且，实现了毛刺时钟信号与系统时钟信号切换过程中，以及周期变化的毛刺时钟信号的批量测试。
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公开(公告)号：CN116400205A
公开(公告)日：2023-07-07
申请号：CN202310664603.0
申请日：2023-06-07
Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 , 中汽研软件测评(天津)有限公司
IPC: G01R31/3183 , G01R31/317 , G06F11/22 , G06F1/04 , G06F11/263
Abstract: 本发明涉及一种芯片时钟网络延时交叉验证测试方法，涉及芯片测试技术领域，通过将测试向量输入至N颗同批次、同型号的待测芯片；控制OCC电路At‑speed模式提供的时钟信号作为待测芯片内各触发器的控制时钟；将来自各待测芯片的触发器输出信号进行异或运算，实现批量交叉验证。
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公开(公告)号：CN116068326B
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310272172.3
申请日：2023-03-21
Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 , 中汽研新能源汽车检验中心(天津)有限公司 , 中汽研汽车检验中心(广州)有限公司 , 中汽研汽车检验中心(武汉)有限公司 , 中汽研软件测评(天津)有限公司
Abstract: 本发明涉及智能网联汽车的测试领域，公开了一种车辆电磁抗扰度天线控制方法、设备和存储介质。方法包括：确定电磁抗扰度天线与被测车辆之间的水平测试距离L以及所述被测车辆所安装的传感器的探测角度θ；根据所述水平测试距离L和所述探测角度θ，确定电磁抗扰度天线与被测车辆在水平方向上的距离为L时所述电磁抗扰度天线的高度边界H；在预设坐标系下，确定电磁抗扰度天线的位置为坐标点（M，L，H）时，电磁抗扰度天线对准被测车辆的被测点（x，y，z）时所需的俯仰角ω和航向角φ；根据所述俯仰角ω和航向角φ对电磁抗扰度天线进行控制。本发明能够解决被测车辆将天线识别为障碍物的问题。
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公开(公告)号：CN116068326A
公开(公告)日：2023-05-05
申请号：CN202310272172.3
申请日：2023-03-21
Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 , 中汽研新能源汽车检验中心(天津)有限公司 , 中汽研汽车检验中心(广州)有限公司 , 中汽研汽车检验中心(武汉)有限公司 , 中汽研软件测评(天津)有限公司
Abstract: 本发明涉及智能网联汽车的测试领域，公开了一种车辆电磁抗扰度天线控制方法、设备和存储介质。方法包括：确定电磁抗扰度天线与被测车辆之间的水平测试距离L以及所述被测车辆所安装的传感器的探测角度θ；根据所述水平测试距离L和所述探测角度θ，确定电磁抗扰度天线与被测车辆在水平方向上的距离为L时所述电磁抗扰度天线的高度边界H；在预设坐标系下，确定电磁抗扰度天线的位置为坐标点（M，L，H）时，电磁抗扰度天线对准被测车辆的被测点（x，y，z）时所需的俯仰角ω和航向角φ；根据所述俯仰角ω和航向角φ对电磁抗扰度天线进行控制。本发明能够解决被测车辆将天线识别为障碍物的问题。
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公开(公告)号：CN118777844B
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202411244330.5
申请日：2024-09-06
Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 , 中汽研软件测评(天津)有限公司
Abstract: 本发明涉及集成电路安全和电磁故障注入技术领域，公开了一种针对密码芯片的高时间精度电磁故障注入方法及装置，方法包括：通过上位机对待攻击密码芯片进行初始化；根据电磁脉冲信号的尖峰时间和上升时间确定故障注入时间；在故障注入时间对待攻击密码芯片的目标位置进行故障注入；待完成一次故障注入后，判断该次故障注入是否为有效故障注入；将待攻击密码芯片初始化，改变待攻击密码芯片的输入明文；重新执行上述步骤；根据待攻击密码芯片在不同的明文下输出的有效错误密文，通过差分故障分析法破解待攻击密码芯片的密钥信息。本发明能够更加精准地控制故障注入的时间，提高差分故障分析的分析效率和效果，提高有效故障注入的成功率。
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