一种LIN接口芯片的阈值电压检测系统和方法

    公开(公告)号:CN119001409B

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202411463140.2

    申请日:2024-10-21

    Abstract: 本申请公开了一种LIN接口芯片的阈值电压检测系统和方法,设置直流电源、信号发生器、数据生成模块和测试设备,直流电源给被测芯片提供电压,信号发生器给被测芯片提供波形信号,数据生成模块给被测芯片提供隐性电平和显性电平,数据生成模块包括RX引脚和TX引脚,测试设备检测被测芯片接收信号后的响应信号波形;即利用信号发生器或数据生成模块给被测芯片提供波形信号或隐性电平和显性电平,以实现多种规格的LIN接口芯片的阈值电压检测,从而降低不同规格LIN接口芯片的阈值电压检测电路的搭建繁琐性、提高LIN接口芯片的阈值电压检测效率,同时还能够减少多次搭建检测电路所引入的误差,从而提高LIN接口芯片的阈值电压检测精度。

    扫描隧道显微镜Pt-Ir针尖制备装置及方法

    公开(公告)号:CN119044545A

    公开(公告)日:2024-11-29

    申请号:CN202411437993.9

    申请日:2024-10-15

    Abstract: 本发明涉及扫描探针领域,具体而言,提供了一种扫描隧道显微镜Pt‑Ir针尖制备装置及方法。所述制备装置包括:待腐蚀Pt‑Ir金属丝、交流电源、腐蚀溶液、激光传感器、激光发射器和高度调节组件;所述待腐蚀Pt‑Ir金属丝连接于所述高度调节组件的微悬臂;所述交流电源分别与所述待腐蚀Pt‑Ir金属丝和所述腐蚀溶液相连;所述高度调节组件还包括步进马达,所述步进马达用于控制所述待腐蚀Pt‑Ir金属丝按规定速率下降;所述激光发射器用于向所述微悬臂发射激光;所述激光传感器用于检测所述微悬臂处反射的激光信号。采用本发明的装置和方法制成的Pt‑Ir针尖质量稳定、可重复性高。

    一种LIN接口芯片的阈值电压检测系统和方法

    公开(公告)号:CN119001409A

    公开(公告)日:2024-11-22

    申请号:CN202411463140.2

    申请日:2024-10-21

    Abstract: 本申请公开了一种LIN接口芯片的阈值电压检测系统和方法,设置直流电源、信号发生器、数据生成模块和测试设备,直流电源给被测芯片提供电压,信号发生器给被测芯片提供波形信号,数据生成模块给被测芯片提供隐性电平和显性电平,数据生成模块包括RX引脚和TX引脚,测试设备检测被测芯片接收信号后的响应信号波形;即利用信号发生器或数据生成模块给被测芯片提供波形信号或隐性电平和显性电平,以实现多种规格的LIN接口芯片的阈值电压检测,从而降低不同规格LIN接口芯片的阈值电压检测电路的搭建繁琐性、提高LIN接口芯片的阈值电压检测效率,同时还能够减少多次搭建检测电路所引入的误差,从而提高LIN接口芯片的阈值电压检测精度。

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