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公开(公告)号：CN116862935A
公开(公告)日：2023-10-10
申请号：CN202310656473.6
申请日：2023-06-05
申请人： 上海航天精密机械研究所
摘要： 本发明提供一种用于筒形三维测量的点云边缘轮廓自动提取方法，包括如下步骤：S1、使用三维激光扫描设备获取筒形三维扫描点云数据并输入；S2、点云数据的一阶分割；S3、建立连接相邻簇的图；S4、添加表示特征线的边缘；S5、构建剪枝图的最小生成树；S6、闭合图最小生成树的特征线；S7、输出轮廓特征线：使用平面曲线演化方法平滑轮廓特征线并输出。本发明通过重构闭合的筒形特征线来区别于现有的特征线算法。该算法的优点为：只使用点云的坐标进行自适应计算，无需框选点云区域，为无网格化的自动化特征提取，能够对点云进行智能聚类，形成一个比原始点云小很多的图，提高计算的实时性。
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公开(公告)号：CN116499359A
公开(公告)日：2023-07-28
申请号：CN202310389881.X
申请日：2023-04-12
申请人： 上海航天精密机械研究所
IPC分类号： G01B11/00 , G01B11/08 , G01B11/24 , G01B11/26 , G01B11/30 , G01M13/00 , G06V10/762 , G06V10/75 , G06T7/13 , G06T7/11 , G06T3/40
摘要： 本发明提供了一种运载火箭舱段智能化检测方法，其特征在于，其使用激光三维扫描技术、图像处理技术和智能控制技术，包括下述步骤：步骤S1：激光三维扫描点云数据的自动采集；步骤S2：上下站位三维点云数据的自动拼接；步骤S3：三维点云数据的自适应裁剪；步骤S4：三维点云数据边缘轮廓的自动识别和提取；步骤S5：航向支架图像自动识别；步骤S6：检测报告的自动生成。本发明测量过程采用非接触自动测量的方法，系统运行和公差评定方法通过编程固化，提高了检测可靠性，减少了人员需求，提高了检测效率，采用数字化测量的方式并自动生成数字化检验报告，测量数字可实现结构化存贮，也为检验数据分析以及数字化工厂建设等提供了必要条件。
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公开(公告)号：CN115128003A
公开(公告)日：2022-09-30
申请号：CN202210704402.4
申请日：2022-06-21
申请人： 上海航天精密机械研究所
IPC分类号： G01N21/01 , G01N21/954
摘要： 本发明公开了针对工业管路内腔检测的光学直杆内窥镜自动检测系统，包括：控制器、内窥镜本体、光源、调节齿轮组；控制器用于控制各执行机构的动作，内窥镜本体用于获取工业管路内部光学图像，光源用于为内窥镜提供均匀的光照，调节齿轮用于配合调节电机完成焦距和镜头角度的调节，焦距调节电机用于调节内窥镜焦距，镜头角度调节电机用于调节内窥镜镜头角度，三爪转台用于夹持工业管路，CCD面阵相机用于将内窥镜采集到的光学影像转换成电信号，升降平台用于调节内窥镜高度，直线导轨用于调节内窥镜轴向进给，图像采集与处理软件用于对检测图像进行分析处理。本发明替代人工内窥镜检测操作，自动获取检测图像、自动进行图像分析处理，提高检测效率。
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公开(公告)号：CN108895941B
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN201810436074.8
申请日：2018-05-09
申请人： 上海航天精密机械研究所
摘要： 本发明提供了一种内挡块类零件测量方法及其测量装置，装置包括倒置的T型块主体、第一柱销、第二柱销、带表高度尺和千分表；倒置的T型块主体的两个肩共面且设为基准面；第一柱销通过过盈配合与倒置的T型块主体连接；第一柱销与内挡块类零件的一个空间孔相匹配；第二柱销与内挡块类零件的另一个空间孔相匹配；测量时，第二柱销搁置在倒置的T型块主体的肩上，第一柱销的中轴线和第二柱销的中轴线共面，且该面与基准面平行；千分表安装在带表高度尺上。本发明解决了内挡块类零件测量时安装定位问题，将被测零件的三维尺寸的计量转换为一个测量平面度的问题，大大降低了测量难度，以基准面为测量基准，提高了测量可靠性。
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公开(公告)号：CN106767589A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611065274.4
申请日：2016-11-28
申请人： 上海航天精密机械研究所
IPC分类号： G01B21/00
摘要： 本发明公开了一种夹块类零件的三坐标测量方法及测量装置，该装置包括底板、测量基准块、测量基准孔、测量基准面、左夹钳、右夹钳、左压头、右压头、夹块放置台阶面、夹块放置圆弧面和柱块，底板与测量基准块通过内六角螺栓连接，测量基准块上顶面设有测量基准面，测量基准面上设有测量基准孔，底板与柱块通过内六角螺栓连接，左夹钳、右夹钳通过内六角螺栓与柱块连接；左夹钳上设有左压头，右夹钳上设有右压头，柱块上顶面设有夹块放置台阶面和夹块放置圆弧面，夹块放置台阶面和夹块放置圆弧面一端相连。本发明在产品较为单一和小批量生产的情况下，保证了测量方案的可靠性，缩短了安装固定以及测量时间，提高了检测的效率，大大降低了成本。
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公开(公告)号：CN117686513A
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN202311502576.3
申请日：2023-11-10
申请人： 上海航天精密机械研究所
摘要： 本发明提供了一种陶瓷天线罩外表面缺陷检验装置及方法，包括基座、基座平台、空心转台、转台固定夹、五轴图像采集机构、驱动总成及光源透射机构，光源透射机构包括涡卷弹性件和LED柔性灯带，其中，LED柔性灯带相对五轴图像采集机构采集路径的每列灯珠至陶瓷天线罩内表面的距离相同。本发明通过五轴图像采集机构在陶瓷天线罩外表面的固定距离内采集图像时，透射光源在陶瓷天线罩内表面的较大范围内同样保持固定光照距离，从而提高图像采集精度，避免在图像采集阶段，任何光照条件、拍摄角度或是光照距离等因素影响被检测物体的表观特征，降低图像的差异性变化，减少缺陷类型，有利于提高视觉模型的正确识别及提高检测精度。
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公开(公告)号：CN106482600B
公开(公告)日：2019-06-07
申请号：CN201611067497.4
申请日：2016-11-28
申请人： 上海航天精密机械研究所
IPC分类号： G01B5/00
摘要： 本发明公开了一种舱体典型零件的测量方法及测量装置，该装置包括顶盖、定位连接孔、支架、定位销、底座、侧孔、测量平台和测量销；顶盖与支架通过内六角螺栓连接，支架与底座通过内六角螺栓连接；零件安装时被测量舱体定位销槽与工装上定位连接孔配合，舱体侧孔与工装上顶盖上的侧孔配合。本装置结构简单，制造成本低，使用方便，适用于薄壁筒体类型的零件，对操作技能要求低；检测方法满足了设计原理，把被测零件的三维尺寸的计量变成一个测量试模问题；测量时与测量平台配合，设计了定位基准，解决了零件测量时的基准问题，从而保证了测量原理的实现，提高了测量的可靠性。
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公开(公告)号：CN106482600A
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201611067497.4
申请日：2016-11-28
申请人： 上海航天精密机械研究所
IPC分类号： G01B5/00
CPC分类号： G01B5/00
摘要： 本发明公开了一种舱体典型零件的测量方法及测量装置，该装置包括顶盖、定位连接孔、支架、定位销、底座、侧孔、测量平台和测量销；顶盖与支架通过内六角螺栓连接，支架与底座通过内六角螺栓连接；零件安装时被测量舱体定位销槽与工装上定位连接孔配合，舱体侧孔与工装上顶盖上的侧孔配合。本装置结构简单，制造成本低，使用方便，适用于薄壁筒体类型的零件，对操作技能要求低；检测方法满足了设计原理，把被测零件的三维尺寸的计量变成一个测量试模问题；测量时与测量平台配合，设计了定位基准，解决了零件测量时的基准问题，从而保证了测量原理的实现，提高了测量的可靠性。
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公开(公告)号：CN106767589B
公开(公告)日：2020-04-24
申请号：CN201611065274.4
申请日：2016-11-28
申请人： 上海航天精密机械研究所
IPC分类号： G01B21/00
摘要： 本发明公开了一种夹块类零件的三坐标测量方法及测量装置，该装置包括底板、测量基准块、测量基准孔、测量基准面、左夹钳、右夹钳、左压头、右压头、夹块放置台阶面、夹块放置圆弧面和柱块，底板与测量基准块通过内六角螺栓连接，测量基准块上顶面设有测量基准面，测量基准面上设有测量基准孔，底板与柱块通过内六角螺栓连接，左夹钳、右夹钳通过内六角螺栓与柱块连接；左夹钳上设有左压头，右夹钳上设有右压头，柱块上顶面设有夹块放置台阶面和夹块放置圆弧面，夹块放置台阶面和夹块放置圆弧面一端相连。本发明在产品较为单一和小批量生产的情况下，保证了测量方案的可靠性，缩短了安装固定以及测量时间，提高了检测的效率，大大降低了成本。
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公开(公告)号：CN108895941A
公开(公告)日：2018-11-27
申请号：CN201810436074.8
申请日：2018-05-09
申请人： 上海航天精密机械研究所
摘要： 本发明提供了一种内挡块类零件测量方法及其测量装置，装置包括倒置的T型块主体、第一柱销、第二柱销、带表高度尺和千分表；倒置的T型块主体的两个肩共面且设为基准面；第一柱销通过过盈配合与倒置的T型块主体连接；第一柱销与内挡块类零件的一个空间孔相匹配；第二柱销与内挡块类零件的另一个空间孔相匹配；测量时，第二柱销搁置在倒置的T型块主体的肩上，第一柱销的中轴线和第二柱销的中轴线共面，且该面与基准面平行；千分表安装在带表高度尺上。本发明解决了内挡块类零件测量时安装定位问题，将被测零件的三维尺寸的计量转换为一个测量平面度的问题，大大降低了测量难度，以基准面为测量基准，提高了测量可靠性。
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