-
公开(公告)号:CN112526221A
公开(公告)日:2021-03-19
申请号:CN202011154645.2
申请日:2020-10-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明涉及电磁检测技术领域,公开了一种电磁场复合探头和探测系统。所述电磁场复合探头,包括设有若干屏蔽接地通孔的PCB板,所述PCB板包括信号探测部和信号传输部;所述信号探测部包括硅基探头,所述硅基探头上设置有一探测线圈,所述探测线圈与所述信号传输部相连接构成一探测环路,所述探测环路用于探测待测件的电磁场得到得到射频信号;所述信号传输部,与所述信号探测部相连接,用于将得到的所述射频信号以预设特性阻抗的形式传输出去。由于所述硅基探头上能够设计尺寸很小的探测环路,因而能够较好地提高所述电磁场复合探头的探测灵敏度,同时还能提高所述电磁场复合探头的空间分辨率。
-
公开(公告)号:CN109884407A
公开(公告)日:2019-06-14
申请号:CN201910243430.9
申请日:2019-03-28
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种电磁屏蔽效能测量系统及测量方法,测量系统包括电磁波分析设备、电磁波发射装置以及横电磁波室。电磁波发射装置设置在横电磁波室的输入窗中,用于向横电磁波室发送横电磁波。电磁波分析设备的第一输入端连接横电磁波室的第一输出端,电磁波分析设备的第二输入端连接横电磁波室的第二输出端,用于在设置待测屏蔽材料前,根据横电磁波室的第一输出端输出的信号和横电磁波室的第二输出端的输出信号确定电磁波发射装置与横电磁波室之间的第一耦合传输系数以及第二耦合传输系数。在设置待测屏蔽材料后,根据横电磁波室的第一输出端和第二输出端输出的信号确定电磁波发射装置与恒电磁波室之间的第三耦合传输系数和第四耦合传输系数。
-
公开(公告)号:CN109655770A
公开(公告)日:2019-04-19
申请号:CN201910092916.7
申请日:2019-01-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
CPC classification number: G01R33/10 , G01R33/0005 , G01R33/06
Abstract: 本申请涉及一种差分磁场探头,包括中层介质板、第一磁场探测部以及第二磁场探测部;中层介质板夹设于第一磁场探测部与第二磁场探测部之间,且第一磁场探测部中设有磁场探测线的端部、第二磁场探测部中设有磁场探测线的端部分别与中层介质板机械连接;其中,第一磁场探测部用于感应外界磁场产生第一电信号,并将第一电信号输出;第二磁场探测部用于感应外界磁场产生第二电信号,并将第二电信号输出;第一电信号和第二电信号组成差分信号,采用差分共模抑制设计,对应产生并输出组成差分信号的第一信号和第二信号,利用差分信号滤除在探测磁场过程中的干扰信号,从而提高了差分磁场探头的电场抑制比。
-
公开(公告)号:CN109596897A
公开(公告)日:2019-04-09
申请号:CN201811359615.8
申请日:2018-11-15
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请涉及一种电磁场复合无源探头,包括:设有若干屏蔽接地通孔的PCB板;PCB板包括磁场探测部、电场探测部以及信号传输部;信号传输部通过磁场探测部连接电场探测部;磁场探测部包括在相应布线层布线的磁场线圈;电场探测部包括在相应布线层布线的电场探针;信号传输部包括转换通孔,以及在相应布线层布线的带状线和CB-CPW传输线;带状线的第一端通过磁场线圈连接电场探针,第二端依次通过转换通孔和CB-CPW传输线连接外部信号分析接口。基于上述结构,探头具有较高的带宽,较高的隔离度,能够在较大动态范围内将被测物的近电场和近磁场分离出来,从而实现电场和磁场的探测。
-
公开(公告)号:CN109061320A
公开(公告)日:2018-12-21
申请号:CN201810844853.1
申请日:2018-07-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所(工业和信息化部电子第五研究所、中国赛宝实验室)
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请涉及一种电磁场复合探头和探测系统。电磁场复合探头包括第一SMA接头、第二SMA接头和PCB板,PCB板包括信号传输部和电磁场探针;电磁场探针通过信号传输部电连接第一SMA接头一端和第二SMA接头一端,第一SMA接头另一端和第二SMA接头另一端用于连接分析设备;电磁场探针探测待测电路板的电磁场得到射频信号,并分别依次通过信号传输部和第一SMA接头、以及依次通过信号传输部和第二SMA接头,将射频信号传输至分析设备进行分析得到电场参数和磁场参数。采用本申请,可以实现同点的电场和磁场的测量,探测效率高,且可避免因采用不同探测结构而出现的双物理量探测互扰问题,准确性高。
-
公开(公告)号:CN115754424B
公开(公告)日:2025-05-06
申请号:CN202211303345.5
申请日:2022-10-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种远场电压的确定方法、装置、设备、介质和程序产品。所述方法包括:对待扫描对象进行近场扫描,获取近场电磁场数据,进一步根据近场电磁场数据,获取目标近场电压,根据目标近场电压、近场电压和远场电压之间的映射关系,确定目标远场电压。采用本方法能够提高远场电压确定的准确性,进而提高远场电磁场对器件的耦合作用的准确性。
-
公开(公告)号:CN113900008B
公开(公告)日:2025-03-07
申请号:CN202111079609.9
申请日:2021-09-15
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明提供一种测试结构及测试方法,测试结构包括:多条射频链路,各所述射频链路均包括多个焊点以及位于相邻焊点之间与焊点相连接的传输线;不同所述射频链路中至少一处对应的所述传输线的长度不同。对测试结构中的各射频链路进行阻抗测试,以得到各射频链路的阻抗‑时间曲线,根据阻抗‑时间曲线和各射频链路的结构可以识别出长度不同的传输线,从而识别出各射频链路中的焊点和传输线,如果此时有射频链路中存在失效点,由于焊点和传输线已经识别出来,就可以实现对失效点的精确定位,准确分析器件失效位置,满足新型射频器件研制以及应用可靠性研究需求。
-
公开(公告)号:CN119438751A
公开(公告)日:2025-02-14
申请号:CN202411477711.8
申请日:2024-10-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种近场扫描方法、装置、设备、存储介质和程序产品。方法包括:获取二维网格中各第一扫描点的电磁场信息,二维网格根据目标扫描区域确定,第一扫描点的个数小于二维网格中的总网格点数;根据各电磁场信息确定各第一扫描点的梯度信息和注意力值,梯度信息用于表示目标扫描区域中电磁场变化满足预设阈值的方向,注意力值用于聚焦电磁场强度满足预设阈值的区域;根据各梯度信息和注意力值确定下一次扫描的多个第二扫描点,直至扫描次数满足预设条件;根据二维网格中各扫描点的电磁场信息确定目标扫描区域的电磁场分布。采用本方法能够提高近场扫描的效率。
-
公开(公告)号:CN118534382A
公开(公告)日:2024-08-23
申请号:CN202410623271.6
申请日:2024-05-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁检测组件和系统。电磁检测组件包括:信号传输部和检测部;其中,检测部包括与信号传输部电性连接的第一检测组件和与第一检测组件连接的第二检测组件;第一检测组件所在的检测平面与第二检测组件所在的检测平面相交。其中,第一检测组件用于检测待测组件的待测电磁场,以生成第一射频信号;第二检测组件用于检测待测组件的待测电磁场,以生成第二射频信号;其中,第二射频信号所属的频段带宽大于第一射频信号所属的频段带宽;信号传输部用于将第一射频信号和第二射频信号传输给分析设备。采用本申请,可以提高电场检测的灵敏度。
-
公开(公告)号:CN118534381A
公开(公告)日:2024-08-23
申请号:CN202410622877.8
申请日:2024-05-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁检测组件和系统。电磁检测组件包括:信号传输部和检测部;其中,检测部包括与信号传输部电性连接的主检测环路和与主检测环路电性连接的至少一个辅检测环路;其中,主检测环路用于检测待测组件的待测电磁场,以生成第一射频信号;辅检测环路用于检测所述待测电磁场,以生成第二射频信号;信号传输部用于将第一射频信号和各辅检测环路的第二射频信号传输给分析设备。采用本申请,可以提高电磁场检测的灵敏度。
-
-
-
-
-
-
-
-
-