-
公开(公告)号：CN109884407B
公开(公告)日：2021-02-23
申请号：CN201910243430.9
申请日：2019-03-28
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种电磁屏蔽效能测量系统及测量方法，测量系统包括电磁波分析设备、电磁波发射装置以及横电磁波室。电磁波发射装置设置在横电磁波室的输入窗中，用于向横电磁波室发送横电磁波。电磁波分析设备的第一输入端连接横电磁波室的第一输出端，电磁波分析设备的第二输入端连接横电磁波室的第二输出端,用于在设置待测屏蔽材料前，根据横电磁波室的第一输出端输出的信号和横电磁波室的第二输出端的输出信号确定电磁波发射装置与横电磁波室之间的第一耦合传输系数以及第二耦合传输系数。在设置待测屏蔽材料后，根据横电磁波室的第一输出端和第二输出端输出的信号确定电磁波发射装置与恒电磁波室之间的第三耦合传输系数和第四耦合传输系数。
-
公开(公告)号：CN109884406B
公开(公告)日：2021-02-23
申请号：CN201910242921.1
申请日：2019-03-28
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种高频电磁屏蔽效能测量系统、测量方法及装置，测量系统包括电磁波分析设备、微带线以及千兆赫兹横电磁波小室。千兆赫兹横电磁波小室的输入端连接电磁波分析设备的信号输出端。微带线设置在千兆赫兹横电磁波小室的输出窗内接收横电磁波。电磁波分析设备的第一输入端连接微带线的第一端，第二输入端连接微带线的第二端。电磁波分析设备用于在设置待测屏蔽材料前，根据微带线的第一端的输出信号确定千兆赫兹横电磁波小室与微带线之间的第一耦合传输系数，根据微带线的第二端的输出信号确定第二耦合传输系数；在设置待测屏蔽材料后，确定千兆赫兹横电磁波小室与微带线之间的第三耦合传输系数以及第四耦合传输系数。
-
公开(公告)号：CN109884406A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910242921.1
申请日：2019-03-28
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种高频电磁屏蔽效能测量系统、测量方法及装置，测量系统包括电磁波分析设备、微带线以及千兆赫兹横电磁波小室。千兆赫兹横电磁波小室的输入端连接电磁波分析设备的信号输出端。微带线设置在千兆赫兹横电磁波小室的输出窗内接收横电磁波。电磁波分析设备的第一输入端连接微带线的第一端，第二输入端连接微带线的第二端。电磁波分析设备用于在设置待测屏蔽材料前，根据微带线的第一端的输出信号确定千兆赫兹横电磁波小室与微带线之间的第一耦合传输系数，根据微带线的第二端的输出信号确定第二耦合传输系数；在设置待测屏蔽材料后，确定千兆赫兹横电磁波小室与微带线之间的第三耦合传输系数以及第四耦合传输系数。
-
公开(公告)号：CN109884407A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910243430.9
申请日：2019-03-28
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种电磁屏蔽效能测量系统及测量方法，测量系统包括电磁波分析设备、电磁波发射装置以及横电磁波室。电磁波发射装置设置在横电磁波室的输入窗中，用于向横电磁波室发送横电磁波。电磁波分析设备的第一输入端连接横电磁波室的第一输出端，电磁波分析设备的第二输入端连接横电磁波室的第二输出端,用于在设置待测屏蔽材料前，根据横电磁波室的第一输出端输出的信号和横电磁波室的第二输出端的输出信号确定电磁波发射装置与横电磁波室之间的第一耦合传输系数以及第二耦合传输系数。在设置待测屏蔽材料后，根据横电磁波室的第一输出端和第二输出端输出的信号确定电磁波发射装置与恒电磁波室之间的第三耦合传输系数和第四耦合传输系数。
-
-
-
Search Results
4
records
(took 0.047 seconds)
