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公开(公告)号：CN109655770B
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN201910092916.7
申请日：2019-01-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种差分磁场探头，包括中层介质板、第一磁场探测部以及第二磁场探测部；中层介质板夹设于第一磁场探测部与第二磁场探测部之间，且第一磁场探测部中设有磁场探测线的端部、第二磁场探测部中设有磁场探测线的端部分别与中层介质板机械连接；其中，第一磁场探测部用于感应外界磁场产生第一电信号，并将第一电信号输出；第二磁场探测部用于感应外界磁场产生第二电信号，并将第二电信号输出；第一电信号和第二电信号组成差分信号，采用差分共模抑制设计，对应产生并输出组成差分信号的第一信号和第二信号，利用差分信号滤除在探测磁场过程中的干扰信号，从而提高了差分磁场探头的电场抑制比。
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公开(公告)号：CN109061320B
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN201810844853.1
申请日：2018-07-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所(工业和信息化部电子第五研究所、中国赛宝实验室)
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请涉及一种电磁场复合探头和探测系统。电磁场复合探头包括第一SMA接头、第二SMA接头和PCB板，PCB板包括信号传输部和电磁场探针；电磁场探针通过信号传输部电连接第一SMA接头一端和第二SMA接头一端，第一SMA接头另一端和第二SMA接头另一端用于连接分析设备；电磁场探针探测待测电路板的电磁场得到射频信号，并分别依次通过信号传输部和第一SMA接头、以及依次通过信号传输部和第二SMA接头，将射频信号传输至分析设备进行分析得到电场参数和磁场参数。采用本申请，可以实现同点的电场和磁场的测量，探测效率高，且可避免因采用不同探测结构而出现的双物理量探测互扰问题，准确性高。
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公开(公告)号：CN109655770A
公开(公告)日：2019-04-19
申请号：CN201910092916.7
申请日：2019-01-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
CPC classification number: G01R33/10 , G01R33/0005 , G01R33/06
Abstract: 本申请涉及一种差分磁场探头，包括中层介质板、第一磁场探测部以及第二磁场探测部；中层介质板夹设于第一磁场探测部与第二磁场探测部之间，且第一磁场探测部中设有磁场探测线的端部、第二磁场探测部中设有磁场探测线的端部分别与中层介质板机械连接；其中，第一磁场探测部用于感应外界磁场产生第一电信号，并将第一电信号输出；第二磁场探测部用于感应外界磁场产生第二电信号，并将第二电信号输出；第一电信号和第二电信号组成差分信号，采用差分共模抑制设计，对应产生并输出组成差分信号的第一信号和第二信号，利用差分信号滤除在探测磁场过程中的干扰信号，从而提高了差分磁场探头的电场抑制比。
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公开(公告)号：CN109061320A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201810844853.1
申请日：2018-07-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所(工业和信息化部电子第五研究所、中国赛宝实验室)
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请涉及一种电磁场复合探头和探测系统。电磁场复合探头包括第一SMA接头、第二SMA接头和PCB板，PCB板包括信号传输部和电磁场探针；电磁场探针通过信号传输部电连接第一SMA接头一端和第二SMA接头一端，第一SMA接头另一端和第二SMA接头另一端用于连接分析设备；电磁场探针探测待测电路板的电磁场得到射频信号，并分别依次通过信号传输部和第一SMA接头、以及依次通过信号传输部和第二SMA接头，将射频信号传输至分析设备进行分析得到电场参数和磁场参数。采用本申请，可以实现同点的电场和磁场的测量，探测效率高，且可避免因采用不同探测结构而出现的双物理量探测互扰问题，准确性高。
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