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公开(公告)号：CN120067854A
公开(公告)日：2025-05-30
申请号：CN202510121966.9
申请日：2025-01-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Inventor： 孟苓辉
IPC: G06F18/2415 , G01R31/00 , G06F18/2131 , G06F18/25 , G06V10/764 , G06V10/80 , G06N3/0455 , G06F123/02
Abstract: 本发明公开了一种电力电子设备早期故障诊断方法和计算机设备，所述方法包括：采集电力电子设备的电流信号，通过快速傅里叶变换提取电流信号的频域特征，通过变分模态分解提取电流信号的时频域特征，与电流信号的原始数据一起构成多模态特征数据；对多模态特征数据的特征值求取反余弦值；将特征值对应的反余弦值代入欧拉差分公式得到多模态特征数据的欧拉差分特征值；将欧拉差分特征值通过热力图映射生成多模态下的特征图像，对多模态下的特征图像进行加权融合后作为Vision Transformer的输入特征图像；利用Vision Transformer对输入特征图像进行分类，得到图像类别作为电力电子设备不同类型早期故障的诊断结果。本发明能够实现对电力电子器件早期故障的精确诊断。
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公开(公告)号：CN120064831A
公开(公告)日：2025-05-30
申请号：CN202510214889.1
申请日：2025-02-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00 , G06F18/213 , G06F18/214 , G06F18/27
Abstract: 本发明公开了一种堆叠芯片垂直互连耦合电磁场提取方法和计算机设备，所述方法包括：确定堆叠芯片中TSV垂直互连耦合产生的电磁场的目标位置，运行仿真获得目标位置的电磁场强，将TSV耦合结构参数与提取的电磁场强存储为数据集；从数据集中加载数据并进行特征提取，利用所提取的特征构建特征矩阵，以电磁场强为目标变量，将数据集输入到每个回归模型中进行训练，得到电磁场强的最佳模型；将模型预测结果与仿真结果进行对比，计算误差是否达到要求，若不能达到要求，则重复进行特征提取和模型训练；向预测模型输入待测堆叠芯片的TSV耦合结构参数，得到目标位置的电磁场强。本发明能够快速预测由于TSV垂直互连电磁耦合引起的芯粒内部电路电磁场干扰。
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公开(公告)号：CN114332859B
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202111677451.5
申请日：2021-12-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06V20/69 , G06V10/26 , G06N3/0464 , G06N3/084 , G06V10/764 , G06V10/82
Abstract: 本申请涉及一种合金显微组织识别模型构建以及识别方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取不同应力和热处理状态的合金显微组织图像，通过图像分割，将获得的γ’相显微组织图像集输入至预置卷积神经网络模型进行训练，获得合金显微组织图像的卷积神经网络模型。在进行应用识别时，将获得的待测γ’相显微组织图像集输入至合金显微组织图像的卷积神经网络模型，获得待测合金显微组织图像对应的应力和热处理状态线性分类结果。采用本方法能够提高合金显微组织识别效率。
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公开(公告)号：CN114201856B
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202111355046.1
申请日：2021-11-16
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种设备安全性分析方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：基于目标设备的物理结构构建对应的仿真模型；获取仿真类型，基于仿真类型确定相匹配的仿真工具及仿真方法；确定异常事件所对应的异常取值范围，将异常取值范围中的至少一个边界值输入到仿真模型中进行仿真，得到边界仿真结果；对仿真模型的模型有效性、仿真数据的数据有效性和仿真结果的运行有效性进行检验；若有效性检验通过，则对异常取值范围进行多次抽样，得到多个目标异常参数；将多个目标异常参数分别输入到仿真模型中进行仿真，得到抽样仿真结果，并基于抽样仿真结果确定目标设备的安全性分析结果。采用本方法能够提高设备安全性预测准确率。
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公开(公告)号：CN119961001A
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202510431301.8
申请日：2025-04-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) , 巢湖学院
IPC: G06F9/50
Abstract: 本申请涉及一种实时任务调度方法、装置、计算机设备和可读存储介质。该方法包括：获取当前批次的至少一个待调度实时任务的任务属性信息；根据各待调度实时任务的任务属性信息，从各待调度实时任务中选取当前待调度任务，并对当前待调度任务进行处理；在不存在待调度实时任务的情况下，将各处理完成的待调度实时任务发送至任务接收方，以供任务接收方对各处理完成的待调度实时任务进行任务调度；其中，任务接收方包括任务执行端和任务处理器级联的后一处理器中的至少一种。采用本方法能够提高多处理器下实时任务调度的可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118190317B
公开(公告)日：2025-05-06
申请号：CN202410358898.3
申请日：2024-03-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种振动应力极值的检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：根据多个振动应力参数对目标焊点施加振动应力；其中，多个振动应力参数中的目标振动应力参数与施加振动应力的时间正相关，目标焊点为电子元器件的镀金引脚与印刷电路板之间焊接形成的质量合格的焊点；对目标焊点施加检测电信号，并获取目标焊点输出的反馈电信号；在根据反馈电信号确定目标焊点开裂失效的情况下，获取目标焊点的振动应力极值；其中，振动应力极值为目标焊点开裂失效时，目标振动应力参数的值。采用本方法能够对目标焊点焊接状态进行实时监测，提高了检测效率，还实现了对于目标焊点的振动应力极值的检测。
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公开(公告)号：CN118486928B
公开(公告)日：2025-04-25
申请号：CN202410745084.5
申请日：2024-06-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: H01M10/42 , H01M10/48 , H01M50/251 , H01M50/204
Abstract: 本申请涉及一种储能电池被动安全防护装置、方法、设备、存储介质和程序产品。所述装置包括电池仓，用于放置储能电池；惰性气体发生器，与所述电池仓相连通，用于向所述电池仓中充入惰性气体，其中，所述惰性气体用于调控所述电池仓中的环境参数；环境参数检测器，用于在监测到所述电池仓中的环境参数值，超出预设的环境参数值范围的情况下，发出安全警报。采用本方法能够降低储能电池安全风险。
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公开(公告)号：CN119830711A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411834618.8
申请日：2024-12-13
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/27 , G06N7/01 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种数控机床可靠性评估方法、装置、设备和存储介质。该方法包括：根据数控机床中各组件的故障逻辑关系确定数控机床对应的贝叶斯网络模型，贝叶斯网络模型中包括一个叶节点、多个中间节点、多个根节点、各根节点的状态转移概率分布以及各节点之间的条件概率分布；若根节点受外部因素影响时，根据根节点和外部因素确定对应的比例风险模型，以根据比例风险模型更新贝叶斯网络模型中根节点的状态转移概率分布；根据更新后的贝叶斯网络模型预测目标时刻叶节点的概率分布，概率分布包括各节点的故障概率和正常概率；根据叶节点的概率分布评估数控机床的可靠性。采用本方法能够提高评估结果准确性。
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公开(公告)号：CN119827952A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202510031862.9
申请日：2025-01-09
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Inventor： 陈思
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及失效评估技术领域，公开一种TSV‑RDL晶圆级封装的电致失效可靠性评价系统，包括上位机、精密电源、可编辑控制器、直流电压计以及继电器阵列；上位机通过通信总线与精密电源、可编程控制器和直流电压计连接；可编程控制器与直流电压计以及继电器阵列连接，可编程控制器响应于控制指令，通过继电器阵列控制TSV样品连接端电流通路的开关状态，TSV样品接收电流和电压并实时响应；直流电压计用于测量TSV样品的电压变化；可编程控制器基于直流电压计实时反馈的数据，判断是否达到设定条件，进而控制继电器的开关状态。本发明可以全面记录TSV样品的电流‑电压‑电阻特性，提高试验自动化水平，以满足TSV电迁移失效试验的需求。
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公开(公告)号：CN119827113A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411860530.3
申请日：2024-12-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01M11/02 , G01M11/04 , G06F30/20 , G06F119/04
Abstract: 本申请涉及一种振镜寿命评估方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品，应用于振镜试验系统。所述方法包括：获取多个试验条件下振镜试验系统中振镜的试验寿命；根据试验寿命、试验温度和试验转速，构建振镜加速模型；根据振镜加速模型、各试验条件和正常工作条件，确定振镜在正常工作条件下的振镜寿命；试验条件包括试验温度和试验转速。上述方法通过振镜的试验寿命、振镜的试验温度和试验转速，先构建振镜加速模型，再基于振镜加速模型、各试验条件和正常工作条件，确定振镜在正常工作条件下的振镜寿命，为确定正常工作条件下的振镜寿命提供了一种方法，填补了无法评估振镜寿命的空白。
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