公开(公告)号：CN119557928B

公开(公告)日：2025-05-02

申请号：CN202510112208.0

申请日：2025-01-24

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 曲晨冰 ,  江野 ,  黄中铠 ,  王力纬 ,  孙宸 ,  侯波 ,  罗永震

IPC: G06F21/71 ,  G06N20/00 ,  G06F18/213 ,  G06F18/243

Abstract: 本发明公开了一种芯片安全机制测评方法和计算机设备，所述方法包括：获取同系列历史型号芯片的测试数据；提取历史型号芯片的测试数据的特征变量，建立基于机器学习的预测模型，用于评估芯片安全机制有效性；获取与样本数据同样数据结构的新型号芯片的测试数据；将新型号芯片的测试数据输入所建立的预测模型进行预测，输出预测结果作为芯片安全机制有效性的指标。本发明能够针对同系列新型号芯片实现快速功能安全检测评估，显著提升新型号芯片在小样本场景下的功能安全检测效率与稳定性。

公开(公告)号：CN119557928A

公开(公告)日：2025-03-04

申请号：CN202510112208.0

申请日：2025-01-24

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 曲晨冰 ,  江野 ,  黄中铠 ,  王力纬 ,  孙宸 ,  侯波 ,  罗永震

IPC: G06F21/71 ,  G06N20/00 ,  G06F18/213 ,  G06F18/243

Abstract: 本发明公开了一种芯片安全机制测评方法和计算机设备，所述方法包括：获取同系列历史型号芯片的测试数据；提取历史型号芯片的测试数据的特征变量，建立基于机器学习的预测模型，用于评估芯片安全机制有效性；获取与样本数据同样数据结构的新型号芯片的测试数据；将新型号芯片的测试数据输入所建立的预测模型进行预测，输出预测结果作为芯片安全机制有效性的指标。本发明能够针对同系列新型号芯片实现快速功能安全检测评估，显著提升新型号芯片在小样本场景下的功能安全检测效率与稳定性。