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公开(公告)号：CN114325170B
公开(公告)日：2025-05-02
申请号：CN202111466686.X
申请日：2021-11-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种动态微带装置、测量系统、确定方法、装置和存储介质。所述动态微带装置包括：导体带；底座，所述底座上还设有间隔设置的支撑柱，间隔设置的所述支撑柱分别用于支撑所述导体带的两端；空气芯板，设于所述支撑柱之间，并位于所述导体带的下方，与所述导体带具有间距，并适于相对所述底座上下移动，以调节与所述导体带的间距。通过使动态微带装置的导体带与底座之间具有间隙，使得动态微带装置的传输模式为理想的TEM模式；同时，可通过调节空气芯座与导体带的间距，改变动态微带装置的阻抗，便于实现与信号源的动态阻抗匹配，从而使得探头可以进行准确的电场耦合表征，得到准确的校准因子。
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公开(公告)号：CN117828279B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410240011.0
申请日：2024-03-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种脉冲信号测量数据处理方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：对原始测量数据进行数据拓展处理，构造原始测量数据对应的奇次谐波信号数据；对奇次谐波信号数据进行快速傅里叶变换处理，得到频率域信号数据；基于频率域信号数据和预设双端口正向传播S参数，确定输出信号数据；对输出信号数据进行快速傅里叶逆变换处理，得到时域信号数据；对时域信号数据进行去噪处理，得到脉冲信号时域测量结果。本申请通过构造的奇次谐波信号数据再结合傅里叶算法来消除原始测量数据中的直流偏置，将频率响应的线性和非线性区域完美连接起来，结合噪声去噪，可以实现对脉冲信号的精准时域宽带波形测量。
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公开(公告)号：CN113900058B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202111083991.0
申请日：2021-09-14
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本公开涉及一种近场探头的校准方法、装置、系统、设备及存储介质，方法包括对所述近场探头施加近场，获取所述近场探头在第一角度条件下的所述近场的第一特征参数，以及所述近场探头的第一总输出信号和第二总输出信号；将所述第一总输出信号和第二总输出信号通过校准矩阵、所述第一特征参数进行表征，构建第一传递模型；获取所述近场探头在第二角度条件下的所述近场的第二特征参数，以及所述近场探头的第三总输出信号和第四总输出信号；构建第二传递模型；根据所述第一传递模型和第二传递模型计算获得所述校准矩阵的参数因子。本公开消除了第一传输链路和第二传输链路不对称产生的影响，提高了近场探头扫描的准确度。
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公开(公告)号：CN118011292A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410158778.9
申请日：2024-02-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R33/06
Abstract: 本申请涉及一种磁场检测装置及磁场分析方法、计算机设备、介质和产品，所述装置包括探测环路、第一导线、第二导线、SMA同轴连接器，所述探测环路包括寄生环路和驱动环路，所述寄生环路与所述驱动环路连接；所述第一导线的第一端与所述驱动环路的第一端连接，所述第一导线的第二端与所述SMA同轴连接器的第一端连接；所述第二导线的第一端与所述驱动环路的第二端连接，所述第二导线的第二端与所述SMA同轴连接器的第二端连接；所述探测环路，用于探测电子系统的内部组件之间的磁场信号，并基于所述磁场信号生成感应电流，并通过所述第一导线和所述第二导线向所述SMA同轴连接器传输所述感应电流。采用本装置能提高磁场检测的灵敏度。
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公开(公告)号：CN117434356A
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202311342343.1
申请日：2023-10-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R29/12 , G06F30/367 , G01R33/02
Abstract: 本申请涉及一种电磁参数确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：在探测系统处于非对称状态的情况下，获取探测系统对待测电磁环境进行测量得到的测量参数，根据电路模型和测量参数，模拟探测系统处于对称状态下对待测电磁环境进行测量得到的虚拟电压，根据测量电压和虚拟电压，确定待测电磁环境的目标电磁参数。采用本方法能够提高待测电磁环境测量的准确性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113792185B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202110874556.3
申请日：2021-07-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F16/901 , G06F16/903 , G06F17/16 , G06N3/02
Abstract: 本申请涉及一种估计缺失信号方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：接收发送端发送的待估计信号序列，待估计信号序列存在信号数据丢失，待估计信号序列中未丢失的信号数据表示为已知信号数据组；获取各待估计信号数据组，待估计信号数据组为对待估计信号序列中丢失的信号数据的估计实验数据；根据预先构建的目标函数和已知信号数据组，计算各待估计信号数据组和已知信号数据组之间的距离，将与已知信号数据组距离最小的待估计信号数据组确定作为估计信号数据组；估计信号数据组为待估计信号序列中丢失的信号数据的估计结果数据，目标函数表示待估计信号数据组，和已知信号数据组之间的最小距离。采用本方法能够能够提高信号估计准确性。
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公开(公告)号：CN116008779A
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202310005687.7
申请日：2023-01-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种集成电路检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；确定各电磁信号的信号类型；根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应检测结果；检测结果用于指示集成电路是否泄露有用信息。采用本方法能够全面地检测集成电路的信息泄露情况。
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公开(公告)号：CN115327454A
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202210957121.X
申请日：2022-08-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种磁场探头。包括依次层叠设置的第一接地层、第一信号层、第二信号层、第二接地层；第一信号层包括第一磁场线圈，第一磁场线圈围成第一磁场感应区域，第二信号层包括第一磁场导线，第一磁场导线沿第二方向延伸，第一磁场导线的第一端通过第一连接通孔与第一接地层和/或第二接地层连接；第一金属通孔，分别与第一磁场线圈沿第二方向的第一侧边和第一磁场导线的第二端连接，用于与第一磁场线圈的第一侧边和第一磁场导线共同围成第二磁场感应区域。从而本申请中的磁场探头放在空间中无需转动调整，即可同时探测两个正交方向的磁场，从而得到的磁场探测数据更加准确，探测也更加方便。
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公开(公告)号：CN115327453A
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202210955802.2
申请日：2022-08-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁场复合探头。包括依次层叠设置的第一接地层、第一信号层、第二信号层、第二接地层；第一信号层包括第一电磁场线圈；第二信号层包括第二电磁场线圈；探头还包括：第一金属通孔；第二金属通孔，分别与第一电磁场线圈沿第一方向的第二侧边和第二电磁场线圈沿第一方向的第二侧边连接，第一金属通孔、第二金属通孔用于与第一电磁场线圈沿第二方向的第三侧边和第二电磁场线圈沿第二方向的第三侧边共同围成电场感应区域，电场感应区域用于感应外界沿第一方向的电场产生的第一电信号。从而本申请中的探头由于电场感应区域的面积比传统的电场探针要大，从而能够准确的探测空间中的电场。
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公开(公告)号：CN113029348A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202110195899.7
申请日：2021-02-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及微纳器件测试技术领域，公开了一种表面温度场信息获取方法。将待测样品安装于实际应用环境中，测试获取待测样品在实际应用环境中的第一频率漂移特性曲线；将待测样品固定于红外成像设备上，测试获取待测样品在红外成像设备上的第二频率漂移特性曲线；根据第一频率漂移特性曲线获取待测样品在第一功率下所对应的第一频率漂移；根据第二频率漂移特性曲线获取待测样品的第一频率漂移所对应的第二功率；对固定于红外成像设备上的待测样品施加第二功率，利用红外成像设备获取待测样品的表面温度场信息。通过建立从实际工作环境到显微红外测试环境的映射，消除了由于显微红外测试环境相对于实际工作环境的热导率存在差异而产生的测试误差。
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