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公开(公告)号：CN119438752A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202411477723.0
申请日：2024-10-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种近场扫描方法、装置、设备和存储介质。方法包括：获取二维网格中各第一扫描点的电磁场信息，二维网格根据目标扫描区域确定，第一扫描点的个数小于二维网格中的总网格点数；根据各电磁场信息确定各第一扫描点的梯度信息和扫描概率，梯度信息用于表示目标扫描区域中电磁场变化满足预设阈值的方向；根据各梯度信息和扫描概率确定下一次扫描的多个第二扫描点，直至扫描次数满足预设条件；根据二维网格中各扫描点的电磁场信息确定目标扫描区域的电磁场分布。采用本方法能够提高近场扫描的效率。
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公开(公告)号：CN114019276B
公开(公告)日：2024-11-19
申请号：CN202111275341.6
申请日：2021-10-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本公开关于一种近场探头空间分辨率的表征方法、计算机设备及校准件。该方法包括：用磁场探头扫描被测物的zi平面，得到所述被测物磁场探头输出的第一场强数据；用磁场探头扫描微带线校准件的Zj平面，得到所述微带线校准件磁场探头输出的第二场强数据；根据平面波谱变换方式，将所述第一场强数据和第二场强数据变换到平面波谱域；对所述微带线校准件进行仿真得到Zj平面的参考场强数据；根据所述第一波谱域数据、第二波谱域数据和参考场数据计算得到被测物的场强数据；基于所述被测物的场强数据的值表征空间分辨率的场强值。利用本公开方案可以精确的表征出近场探头空间分辨率的值。
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公开(公告)号：CN118604467A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410726246.0
申请日：2024-06-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请涉及一种电磁场复合探头。所述电磁场复合探头的探测部分包括：驱动环路和至少两对寄生环路，驱动环路两侧各设置至少两对寄生环路中的至少一对寄生环路，通过利用驱动环路和至少两对寄生环路来探测电磁场信号，通过增加寄生环路数量探测更多的电磁耦合能量，以实现提高电磁场复合探头的灵敏度。
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公开(公告)号：CN118534380A
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202410620890.X
申请日：2024-05-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁场检测探头、系统、方法和相关产品。探头包括探测环路、多个连接过孔和多层电路板；探测环路和多个连接过孔均设置于多层电路板中的非接地层；且探测环路中的不同信号线之间通过多个连接过孔连接；探测环路，用于检测电子系统的电磁场形成的射频信号，并将射频信号通过信号线传输到频谱分析设备，以进行电子系统的电磁场测量。采用该探头可提高电磁场检测的灵敏度。
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公开(公告)号：CN118033502A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410158474.2
申请日：2024-02-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及磁场探测技术领域，特别是涉及一种磁场测量探头和系统。磁场测量探头包括目标测量线圈和测量增强电路；目标测量线圈与增强电路连接；目标测量线圈，用于探测干扰源的第一磁场信号和第二磁场信号；测量增强电路，用于配合目标测量线圈探测干扰源的第一磁场信号和第二磁场信号；其中，第一磁场信号用于生成干扰源的电场分量；第二磁场信号用于生成干扰源的磁场分量。本申请相比起现有技术中控制磁场测量探头进行多次测量，实现分别获取干扰源的电场分量和磁场分量的过程，能够有效的提高获取电场分量和磁场分量的效率，防止在对干扰源进行多次测量时引入机械位置误差，从而导致测量结果出现偏差。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118033498A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410156445.2
申请日：2024-02-02
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种磁场测量探头、方法、装置和系统。属于磁场探测技术领域，所述方法包括：包括第一探测电路、第二探测电路和连接器；第一探测电路包括第一差分环路和第一寄生环路。第二探测电路包括第二差分环路和第二寄生环路。其中，第一探测电路用于探测干扰源发射的第一磁场信号；第二探测电路用于探测干扰源发射的第二磁场信号。通过连接器，将第一磁场信号和第二磁场信号传输至外部设备，以供外部设备根据第一磁场信号和第二磁场信号确定干扰源的磁场信息。本申请的磁场测量探头基于第一探测电路和第二探测电路有效提升了干扰源探测时的磁场测量灵敏度和测量精度。
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公开(公告)号：CN115754838A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202211456007.5
申请日：2022-11-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种磁场探头和磁场探测方法。所述方法包括：上述磁场探头和磁场探测方法，磁场探头包括第一端口和第二端口；第一端口与接地端之间形成有第一探测回路，第二端口与接地端之间形成有第二探测回路，第一探测回路与第二探测回路正交；第一端口输出第一探测回路和第二探测回路在探测区域感应的第一电压；第二端口输出第一探测回路和第二探测回路在探测区域感应的第二电压；第一电压和第二电压用于确定探测区域中x方向的磁场强度和y方向的磁场强度。采用本方法能够一次性探测两个磁场分量，场景适应性强。
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公开(公告)号：CN115631101A
公开(公告)日：2023-01-20
申请号：CN202211149884.8
申请日：2022-09-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种数据降噪方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：获取芯片表面的目标区域在各频点下进行扫描后生成的数据矩阵，从各频点下的数据矩阵对应的电磁图像中确定待处理电磁图像，将待处理电磁图像的各像素划分至预设个数的像素值区间，根据各像素值区间对应的中位数和频数确定待处理电磁图像的直方图噪声方差估计，根据直方图噪声方差估计，对待处理电磁图像进行变换域协同降噪处理，得到目标电磁图像。本申请通过多个像素值区间对应的中位数和频数计算出直方图噪声方差估计，并通过变换域协同降噪处理，对整个频率分布的噪声进行降噪，通过此方法进行数据降噪能够更好地提取出较弱的电磁信号，提高电磁图像的效果。
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公开(公告)号：CN113900008A
公开(公告)日：2022-01-07
申请号：CN202111079609.9
申请日：2021-09-15
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明提供一种测试结构及测试方法，测试结构包括：多条射频链路，各所述射频链路均包括多个焊点以及位于相邻焊点之间与焊点相连接的传输线；不同所述射频链路中至少一处对应的所述传输线的长度不同。对测试结构中的各射频链路进行阻抗测试，以得到各射频链路的阻抗‑时间曲线，根据阻抗‑时间曲线和各射频链路的结构可以识别出长度不同的传输线，从而识别出各射频链路中的焊点和传输线，如果此时有射频链路中存在失效点，由于焊点和传输线已经识别出来，就可以实现对失效点的精确定位，准确分析器件失效位置，满足新型射频器件研制以及应用可靠性研究需求。
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公开(公告)号：CN113781332A
公开(公告)日：2021-12-10
申请号：CN202110977531.6
申请日：2021-08-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁数据的降噪方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括：基于获取得到与目标频点对应的待处理的数据矩阵中各元素的扫描顺序，得到具有时间顺序的待处理序列。基于预设时间窗口长度和预设步长，对待处理序列进行提取并转换得到提取矩阵。这样，对时域的提取矩阵的协方差矩阵进行特征分解，并基于特征分解结果进行主成分分析，能够在确保信息量的情况下去除噪声，得到降噪后的主成分矩阵。将由对主成分矩阵中的各列数据进行特征空间映射得到的多个列映射结果进行融合，得到降噪后的时域中的目标序列，将目标序列构造回经降噪得到的目标矩阵。这样，能够在不需要获取大量电磁数据样本的情况下，大大提高对电磁数据的降噪效果。
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