接收装置
    83.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101635802A

    公开(公告)日:2010-01-27

    申请号:CN200910140234.5

    申请日:2009-07-09

    Inventor: 平正明

    CPC classification number: H04B1/26 H03D7/18

    Abstract: 本发明提供一种接收装置。其中该接收装置具有:输出具有作为接收信号及第一局部振荡信号的频率差的第一频率且相位大致相互正交的第一及第二混频信号的第一混频部;输出具有第二频率且具有与所述第一及第二混频信号的相位差相对应的相位差的第二及第三局部振荡信号的相位控制部;和将对所述第一混频信号及所述第二局部振荡信号进行混频后的信号与对所述第二混频信号及所述第三局部振荡信号进行混频后的信号进行相加,输出具有作为所述第一及第二频率之差的中间频率的中频信号的第二混频部。因此,无需按照每台接收装置事先进行调整,也能防止混信并接收具有所期望的频率的信号。

    绝缘栅型半导体装置
    85.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101577276A

    公开(公告)日:2009-11-11

    申请号:CN200910132741.4

    申请日:2009-04-16

    Inventor: 矢岛学

    Abstract: 本发明提供一种绝缘栅型半导体装置。现有的保护二极管为由直径不同的多个pn结形成同心圆状的一个圆形,以与栅极焊盘电极大致相同的大小配置在其下方。作为提高MOSFET的ESD容量的方法,公知有增加构成保护二极管的pn结的总面积的方法,但在增加形成同心圆状的多个pn结的结面积的局部或全部时,存在保护二极管在芯片上的占有面积增加的问题。在该绝缘栅型半导体装置中,将多个保护二极管设为并联连接的保护二极管组,并将保护二极管组的总计结面积平均值设为能确保所希望的静电放电容量的值。通过使总计结面积平均值与现有结构的结面积平均值相等,能维持与现有技术相同的ESD容量,并可减少保护二极管组在芯片上的占有面积。

    声音信号处理电路
    87.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101540617A

    公开(公告)日:2009-09-23

    申请号:CN200810173696.2

    申请日:2008-11-07

    Abstract: 提供一种能够对被输入的声音信号的处理进行设定的、安装面积较小的声音信号处理电路。该声音信号处理电路的特征在于,具备:保持电路,其被输入时钟信号以及与时钟信号相应的设定数据,并保持设定数据;处理电路,其对并列输入的第一声音信号和第二声音信号实施基于保持电路的设定数据的处理;以及设定数据输出电路,其根据与时钟信号相应的第一声音信号,将时钟信号输出到保持电路,并且根据与设定数据相应的第二声音信号,将设定数据输出到保持电路。

    电荷泵电路
    88.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100544175C

    公开(公告)日:2009-09-23

    申请号:CN200710167829.0

    申请日:2007-10-26

    CPC classification number: H02M3/073 G11C5/145

    Abstract: 本发明的目的在于,解决因残留电荷使得构成电荷泵电路的元件(电容元件或电荷传输元件)发生劣化的问题和因残留电荷引起的误动作的问题。使栅极与漏极短路的N沟道型电荷传输MOS晶体管(To~TM)串联连接在输入端子(IN)与输出端子(OUT)之间。各电荷传输MOS晶体管的连接点(节点A~X)与电容元件(C1~CM)的一方端子连接。而且,节点(A~X)经由栅极与源极短路的N沟道型MOS晶体管(N1~NM)与降压电路(30)连接。即,在使电荷泵电路的升压动作结束之际,形成了用于使残留电荷从节点(A~X)向外部有效逃逸的路径。

    集成电路及其制造方法

    公开(公告)号:CN101527296A

    公开(公告)日:2009-09-09

    申请号:CN200910118577.1

    申请日:2009-03-04

    Inventor: 松田克志

    CPC classification number: H01L23/528 H01L21/7682 H01L2924/0002 H01L2924/00

    Abstract: 本发明涉及一种集成电路及其制造方法,当在配线层之上堆积层间绝缘膜的集成电路中实施热处理时,在配线间狭窄的间隙部和与其相连的开口部的连接部分,难以产生形成于层间绝缘膜的空洞的破裂。将位于间隙部(10)和开口部(12)的连接部分的配线(4b)的角部倒角,使间隙部(10)的端部(62)形成朝向开口部(12)末端变宽的形状。这样,在构图了的配线层之上堆积层间绝缘膜。通过设置端部(62),对于层间绝缘膜的堆积,可缓和间隙部(10)和开口部(12)的连接部分的不连续性。由此,形成于间隙部(10)的空洞的端部难以被层间绝缘膜密封,从而能够抑制伴随热处理中的空洞的气压上升导致的层间绝缘膜的破裂。

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