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公开(公告)号：CN111008514A
公开(公告)日：2020-04-14
申请号：CN201911033483.4
申请日：2019-10-28
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F30/398
Abstract: 一种抗辐射加固模块级电路的仿真测试方法，将现有的商用软件仿真工具和自定义开发技术相结合，最大程度利用已有的辐射试验数据信息，统计区分具有相同库单元结构但功能不同电路的单粒子结果，定义关键因素和影响因子，运用数学统计的方法进行单粒子估计，以模型变量的形式反馈到商用软件仿真工具中，从而增加现有仿真工具的准确度。本发明方法在原有设计流程基础上，增加了抗辐射加固模块级电路单粒子敏感性分析、版图辐射加固设计规则检查、模块级电路单粒子软错误仿真验证环节，为抗辐射加固模块级电路的仿真验证提供参考。
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公开(公告)号：CN108055031A
公开(公告)日：2018-05-18
申请号：CN201711341286.X
申请日：2017-12-14
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H03K19/003
Abstract: 本发明公开了一种自恢复抗单粒子软错误累积的三模冗余结构，通过增加单粒子软错误检测电路和数据选择电路对电路进行优化设计，基于这种结构的设计能够在三模冗余结构中单路信号翻转后自行恢复，能够有效解决三模冗余结构可能由错误累积导致单粒子加固失效的问题。
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公开(公告)号：CN107068674A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201611244566.4
申请日：2016-12-29
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H01L27/02 , H01L27/092
CPC classification number: H01L27/0207 , H01L27/0296 , H01L27/0925
Abstract: 本发明公开了一种面积高效的抗单粒子闩锁加固版图结构，通过优化版图结构的设计，基于这种单元形成的集成电路，能够使用较小的面积开销解决单粒子效应引起的闩锁问题。N型MOS晶体管和P型MOS晶体管间形成叉指交错的阱、衬底结构，并通过阱上形成的阱接触、衬底上形成的衬底接触进行电荷收集，使得N型MOS晶体管和P型MOS晶体管间寄生的PNPN结构不被高能粒子撞击所触发形成正反馈通路。以较小的面积开销解决了单粒子效应引起的闩锁问题。
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公开(公告)号：CN107025331A
公开(公告)日：2017-08-08
申请号：CN201710119527.X
申请日：2017-03-02
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Inventor： 赵元富 , 郑宏超 , 李哲 , 岳素格 , 王亮 , 李建成 , 陈茂鑫 , 喻贤坤 , 姜柯 , 于春青 , 王汉宁 , 刘琳 , 毕潇 , 杜守刚 , 王煌伟 , 赵旭 , 穆里隆 , 李继华 , 简贵胄 , 初飞 , 祝长民 , 王思聪 , 李月
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种存储单元单粒子翻转功能传播率的计算方法及装置。该方法包括：获取仿真输入向量的仿真时间，并统计数字集成电路中预选单一种类的存储单元的数量；统计每个存储单元的单粒子翻转有效生存时间；根据所述单粒子翻转有效生存时间和所述仿真时间，计算每个存储单元的单粒子翻转功能传播率，所述单粒子翻转功能传播率为发生单粒子翻转的存储单元被捕获且传播的概率；利用每个存储单元的单粒子翻转功能传播率和所述数量，计算所述预选单一种类的存储单元的单粒子翻转功能传播率。本发明实现了区分和模拟单粒子翻转效应在不同种类存储单元中的产生、捕获、掩蔽及传导过程，提高集成电路级单粒子翻转效应的仿真准确度的目的。
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公开(公告)号：CN106936426A
公开(公告)日：2017-07-07
申请号：CN201611244530.6
申请日：2016-12-29
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H03L7/07 , H03K19/003
CPC classification number: H03L7/07 , H03K19/0033
Abstract: 本发明公开了一种基于锁相环的三模冗余抗辐射加固时钟生成电路，包括锁相环、投票表决单元和数字滤波单元，锁相环有三个，三个独立的锁相环并联连接；当CK1、CK2、CK3中至少两个电平相同时，经投票表决将至少两个电平相同的信号CK传输给数字滤波单元，数字滤波单元对表决得到的信号CK进行处理，如果存在毛刺，则将毛刺滤除后输出信号；如果不存在毛刺，则直接输出信号。本发明采用的锁相环系统三模冗余结构，三个锁相环中任何一路发生异常，系统的最终输出均不会受到任何影响，对单粒子瞬态具有很强的免疫力，抗单粒子瞬态的能力优于仅对锁相环内部敏感节点加固的方式。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106656156A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611008894.4
申请日：2016-11-14
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H03K19/0175
Abstract: 本发明涉及一种减小输出信号下降时间的PECL发送器接口电路，第一MOS管、第二MOS管和已有PECL发送器接口电路；第一MOS管的漏极连接已有PECL发送器接口电路的负输出端和第二MOS管的栅极；第一MOS管的源极连接已有PECL发送器接口电路的偏置电压端；第二MOS管的漏极连接已有PECL发送器接口电路的正输出端和第一MOS管的栅极；第二MOS管的源极连接已有PECL发送器接口电路的偏置电压端。本发明利用交叉耦合对管为输出节点等效负载电容提供了一条额外的放电通路，减小了输出信号的下降时间，能够适用于高频率场合，驱动大电容负载。
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公开(公告)号：CN119298901A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202411211963.6
申请日：2024-08-30
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
IPC: H03K19/094 , H03K19/20 , H03K19/003
Abstract: 本发明公开了一种更少敏感节点的抗单粒子翻转锁存器电路结构，包括：时钟滤波电路、延时滤波电路、锁存电路和堆叠反相器电路。时钟滤波电路用于过滤时钟端的单粒子瞬态脉冲并向所述的锁存电路提供时钟信号。延时滤波电路用于过滤数据端单粒子瞬态脉冲并向所述的锁存电路提供输入信号。锁存电路用于实现数据传输与锁存，并维持锁存状态下单粒子辐射后输出信号正确状态与电平纠正。堆叠反相器电路用于提供反相信号。设计的锁存器电路可实现单粒子瞬态加固与单粒子瞬态脉冲过滤，电路敏感节点少，加固效果好且简单易实现。
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公开(公告)号：CN119210404A
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202411202455.1
申请日：2024-08-29
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
IPC: H03K3/013 , H03K3/356 , H03K19/003
Abstract: 本发明公开了一种自恢复的抗单粒子多位翻转锁存器电路结构，包括：时钟控制反相器电路、锁存单元、SEU监控单元、输出控制单元和反相器电路。第一时钟控制反相器电路的输出端接第一锁存单元的输入端和SEU监控单元的输入端；第二时钟控制反相器电路的输出端接第一锁存单元的输入端和SEU监控单元的输入端；第一锁存单元的输出端接SEU监控单元的输入端和输出控制单元的输入端；第三时钟控制反相器电路和第四时钟控制反相器电路的输出端分别接第二锁存单元的两个输入端；第二锁存单元的输出端接输出控制单元的输入端；SEU监控单元的输出端接输出控制单元的输入端。本发明具有良好的单粒子加固能力，可实现抗单粒子多位翻转加固。
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公开(公告)号：CN119067053A
公开(公告)日：2024-12-03
申请号：CN202411293616.2
申请日：2024-09-14
Applicant: 北京卓芯半导体科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F30/392 , G06F119/08 , G06F113/18
Abstract: 本发明公开了一种基于热分析的电路设计规则检查的方法。本发明将温度层和电路层放在一个版图中，便于直接进行关于热的DRC检查。本发明包括如下步骤：步骤1、确认热模拟工具的输入，得出热分布数据；步骤2、设计基于热分析的电路规则的，将温度、温度变化率、分差信息转化为温度层，将温度层和电路层一起保存在一个布局识别的文件，便于直接进行关于热的DRC检查。本发明不仅在布局阶段提出了一种对电路版图进行温度相关检查的方法，同时将该方法和传统的DRC流程融合在一起，设计人员能够迅速上手，同时也没有增加额外的检查流程。
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公开(公告)号：CN113868043B
公开(公告)日：2024-11-29
申请号：CN202111015116.9
申请日：2021-08-31
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种动态可重构芯片的单粒子功能错误测试方法，针对不同功能模块编写对应的测试程序，并按照设计的测试方案进行辐射试验，得到不同测试程序下单粒子功能错误截面联立解得各个独立功能模块的单粒子功能错误截面，为动态可重构芯片的单粒子辐射性能评估提供参考，为动态可重构芯片的抗辐射加固设计提供方向，本发明还公开了一种动态可重构芯片的单粒子功能错误测试系统，包括程控电源模块、上位机控制中心模块和控制区模块，为动态可重构芯片的单粒子功能错误测试方法的实现提供了稳定的测试环境。
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