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公开(公告)号：CN107025331B
公开(公告)日：2020-07-03
申请号：CN201710119527.X
申请日：2017-03-02
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
发明人： 赵元富 , 郑宏超 , 李哲 , 岳素格 , 王亮 , 李建成 , 陈茂鑫 , 喻贤坤 , 姜柯 , 于春青 , 王汉宁 , 刘琳 , 毕潇 , 杜守刚 , 王煌伟 , 赵旭 , 穆里隆 , 李继华 , 简贵胄 , 初飞 , 祝长民 , 王思聪 , 李月
IPC分类号： G06F30/398
摘要： 本发明公开了一种存储单元单粒子翻转功能传播率的计算方法及装置。该方法包括：获取仿真输入向量的仿真时间，并统计数字集成电路中预选单一种类的存储单元的数量；统计每个存储单元的单粒子翻转有效生存时间；根据所述单粒子翻转有效生存时间和所述仿真时间，计算每个存储单元的单粒子翻转功能传播率，所述单粒子翻转功能传播率为发生单粒子翻转的存储单元被捕获且传播的概率；利用每个存储单元的单粒子翻转功能传播率和所述数量，计算所述预选单一种类的存储单元的单粒子翻转功能传播率。本发明实现了区分和模拟单粒子翻转效应在不同种类存储单元中的产生、捕获、掩蔽及传导过程，提高集成电路级单粒子翻转效应的仿真准确度的目的。
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公开(公告)号：CN107085178A
公开(公告)日：2017-08-22
申请号：CN201710104221.7
申请日：2017-02-24
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
发明人： 赵元富 , 于春青 , 蔡一茂 , 范隆 , 郑宏超 , 陈茂鑫 , 岳素格 , 王亮 , 李建成 , 王煌伟 , 杜守刚 , 李哲 , 毕潇 , 姜柯 , 赵旭 , 穆里隆 , 关龙舟 , 李继华 , 简贵胄 , 初飞 , 喻贤坤 , 庄伟 , 刘亚丽 , 祝长民 , 王思聪 , 李月
IPC分类号： G01R31/311 , G01J11/00
摘要： 一种获取器件功能模块单粒子本征错误截面的方法，首先对器件功能模块进行划分，然后直接利用脉冲激光试验获取结构规则功能模块的本征错误截面，编制测试程序，获取每种测试程序下器件的应用错误截面以及各个功能模块的占空因子，根据各种测试程序下器件的应用错误截面公式进行方程组联立求解，得到各个结构不规则功能模块的本征错误截面。本发明方法能够获取集成电路中所有功能模块的本征错误截面，以直观反应每个功能模块的单粒子敏感性。
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公开(公告)号：CN111209246B
公开(公告)日：2023-10-10
申请号：CN201911360795.6
申请日：2019-12-25
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所 , 中国航天时代电子有限公司
摘要： 一种基于多芯片封装技术的微型可编程片上计算机，包括核心处理器、SRAM、SDRAM、FLASH、FPGA、多层有机基板和塑封体。FLASH内存储事先编写好或调试好的程序，在系统上电后，由自主引导程序读入到SRAM或SDRAM中；核心处理器进行计算和处理，并通过接口与外部通信；FPGA实现定制化或特殊的需求；核心处理器、SRAM、SDRAM、FLASH和FPGA都是集成电路裸芯，集成电路裸芯与多层有机基板通过引线键合方式或倒装焊方式连接，各个集成电路裸芯根据功能设计互连关系，互连关系在多层有机基板上通过布线实现，最后用塑封体灌封。本发明将原有单板级嵌入式计算机缩减至一个传统芯片的大小实现，大大减小了体积和重量，降低了功耗，提高了集成度和通用性。
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公开(公告)号：CN111209246A
公开(公告)日：2020-05-29
申请号：CN201911360795.6
申请日：2019-12-25
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所 , 中国航天时代电子有限公司
摘要： 一种基于多芯片封装技术的微型可编程片上计算机，包括核心处理器、SRAM、SDRAM、FLASH、FPGA、多层有机基板和塑封体。FLASH内存储事先编写好或调试好的程序，在系统上电后，由自主引导程序读入到SRAM或SDRAM中；核心处理器进行计算和处理，并通过接口与外部通信；FPGA实现定制化或特殊的需求；核心处理器、SRAM、SDRAM、FLASH和FPGA都是集成电路裸芯，集成电路裸芯与多层有机基板通过引线键合方式或倒装焊方式连接，各个集成电路裸芯根据功能设计互连关系，互连关系在多层有机基板上通过布线实现，最后用塑封体灌封。本发明将原有单板级嵌入式计算机缩减至一个传统芯片的大小实现，大大减小了体积和重量，降低了功耗，提高了集成度和通用性。
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公开(公告)号：CN107422254A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201710619528.0
申请日：2017-07-26
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/317 , G01R19/25
CPC分类号： G01R31/31702 , G01R19/2509 , G01R31/31704 , G01R31/31726
摘要： 本发明涉及一种面向集成微系统的内建芯片健康状态自监测方法，在集成微系统内设置电压采集电路、电流采集电路、实时时钟电路；集成微系统包括处理器、状态显示电路、通信电路、存储电路；将采集的电源电压、工作电流进行健康分析，如果数据在正确的阈值范围内，则在状态标记数组中进行正确信息记录，记录运行时间；如果数据不在正确的阈值范围内，表明错误发生，在状态标记数组中进行错误信息记录；驱动状态显示电路进行显示。本发明在集成微系统内部，构建了健康状态自检测方法，使得集成微系统在装机后，仍然能够对电特性的检测，实现对自身健康状态的分析和预测，解决了集成微系统在应用后，工作电流无法精确测试的问题。
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公开(公告)号：CN107045464A
公开(公告)日：2017-08-15
申请号：CN201710218603.2
申请日：2017-04-05
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
摘要： 一种SPARC架构空间处理器中子效应试验测试系统，包括上位计算机、外部供电电源、示波器、监测控制板、信号连接排线以及被测空间处理器，上位计算机、外部供电电源、示波器以及监测控制板放置在监控室中，被测空间处理器放置在电路板上，与电路板一起放置在中子试验堆中的辐照区域内。监测控制板上的程序包括初始化程序、寄存器堆测试程序、数学计算测试程序、指令和数据Cache测试程序，用于实现对被测空间处理器的初始化、寄存器堆测试、数学计算测试、指令和数据Cache测试。本发明实现对SPARC架构空间处理器进行中子效应性能的评估。
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公开(公告)号：CN103076557B
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201210512499.5
申请日：2012-11-30
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/317
摘要： 一种Spacewire电路单粒子功能中断测试方法，步骤为：首先利用SPARCV8处理器和Spacewire电路分别建立两套测试系统，两套测试系统通过各自的Spacewire电路建立数据传输通道。然后将Spacewire电路B置于粒子辐照环境中。设定数据传输路径为测试系统A向测试系统B发送数据，测试系统B接收到数据后将接收到的数据再次转发给测试系统A；数据传输开始后，如果测试系统A无法向测试系统B发送数据或者测试系统A无法从测试系统B获取转发数据，则判断Spacewire电路B发生单粒子功能中断，根据回读的Spacewire电路B的控制寄存器的数据分析造成功能中断的原因。本发明方法可为开展单粒子效应与微电子器件相关研究提供依据。
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公开(公告)号：CN107167725B
公开(公告)日：2019-10-25
申请号：CN201710201165.9
申请日：2017-03-30
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
发明人： 赵元富 , 郑宏超 , 李哲 , 岳素格 , 王亮 , 李建成 , 陈茂鑫 , 喻贤坤 , 姜柯 , 于春青 , 王汉宁 , 刘琳 , 毕潇 , 杜守刚 , 王煌伟 , 赵旭 , 穆里隆 , 李继华 , 简贵胄 , 初飞 , 祝长民 , 王思聪 , 李月
IPC分类号： G01R31/3183
摘要： 本发明公开了一种快速低开销全自动数字集成电路单粒子故障注入系统，包括人机操作界面、故障注入器，其中故障注入器包括：故障电路网表代码生成模块、功能向量和故障随机信号产生模块、仿真统计和计算输出模块。本发明实现了单粒子故障注入的全自动进行，同时对过程文件进行了实时处理，避免了存储量过大造成的内存爆炸对仿真性能造成影响，降低了用于仿真的计算器的开销。
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公开(公告)号：CN107422254B
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：CN201710619528.0
申请日：2017-07-26
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/317 , G01R19/25
摘要： 本发明涉及一种面向集成微系统的内建芯片健康状态自监测方法，在集成微系统内设置电压采集电路、电流采集电路、实时时钟电路；集成微系统包括处理器、状态显示电路、通信电路、存储电路；将采集的电源电压、工作电流进行健康分析，如果数据在正确的阈值范围内，则在状态标记数组中进行正确信息记录，记录运行时间；如果数据不在正确的阈值范围内，表明错误发生，在状态标记数组中进行错误信息记录；驱动状态显示电路进行显示。本发明在集成微系统内部，构建了健康状态自检测方法，使得集成微系统在装机后，仍然能够对电特性的检测，实现对自身健康状态的分析和预测，解决了集成微系统在应用后，工作电流无法精确测试的问题。
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公开(公告)号：CN107423397A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201710619530.8
申请日：2017-07-26
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G06F17/30
摘要： 本发明涉及一种面向多任务微系统的自适应压缩存储及解压提取方法，压缩过程中对读入的原始任务文件的数据，进行稀疏性分析，当数组的稀疏性大于等于90％时，采用改进三元法对原始任务文件的数据进行压缩；当数组的稀疏性小于90％时，采用改进Huffman方法进行压缩；解压缩过程中，读取待解压缩文件的第一个字节，如果标识为1，则执行改进三元法解压算法进行解压操作，如果标识为2，不为1，则执行改进的Huffman解压算法进行解压操作。本发明最大限度地节省了存储空间，多任务文件压缩过程中需要更大的存储空间，对于存储空间要求的降低，使的文件存储数量增加，能够执行多任务存储，解决了多个任务的任务文件存储受限的问题。
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