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公开(公告)号：CN107167725B
公开(公告)日：2019-10-25
申请号：CN201710201165.9
申请日：2017-03-30
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Inventor： 赵元富 , 郑宏超 , 李哲 , 岳素格 , 王亮 , 李建成 , 陈茂鑫 , 喻贤坤 , 姜柯 , 于春青 , 王汉宁 , 刘琳 , 毕潇 , 杜守刚 , 王煌伟 , 赵旭 , 穆里隆 , 李继华 , 简贵胄 , 初飞 , 祝长民 , 王思聪 , 李月
IPC: G01R31/3183
Abstract: 本发明公开了一种快速低开销全自动数字集成电路单粒子故障注入系统，包括人机操作界面、故障注入器，其中故障注入器包括：故障电路网表代码生成模块、功能向量和故障随机信号产生模块、仿真统计和计算输出模块。本发明实现了单粒子故障注入的全自动进行，同时对过程文件进行了实时处理，避免了存储量过大造成的内存爆炸对仿真性能造成影响，降低了用于仿真的计算器的开销。
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公开(公告)号：CN107167725A
公开(公告)日：2017-09-15
申请号：CN201710201165.9
申请日：2017-03-30
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Inventor： 赵元富 , 郑宏超 , 李哲 , 岳素格 , 王亮 , 李建成 , 陈茂鑫 , 喻贤坤 , 姜柯 , 于春青 , 王汉宁 , 刘琳 , 毕潇 , 杜守刚 , 王煌伟 , 赵旭 , 穆里隆 , 李继华 , 简贵胄 , 初飞 , 祝长民 , 王思聪 , 李月
IPC: G01R31/3183
Abstract: 本发明公开了一种快速低开销全自动数字集成电路单粒子故障注入系统，包括人机操作界面、故障注入器，其中故障注入器包括：故障电路网表代码生成模块、功能向量和故障随机信号产生模块、仿真统计和计算输出模块。本发明实现了单粒子故障注入的全自动进行，同时对过程文件进行了实时处理，避免了存储量过大造成的内存爆炸对仿真性能造成影响，降低了用于仿真的计算器的开销。
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公开(公告)号：CN103675638B
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201310676366.6
申请日：2013-12-11
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明涉及一种新型的通用动态总剂量试验装置，包括位于辐照室外的上位机和信号传递系统，位于辐照室内的测试向量生成系统，上位机向信号传递系统发送随机向量的码型，控制试验电路板的电源，监控待测电路的动态偏置电流，监测整个装置的运行状况；信号传递系统收上位机发送的随机选择码，同时将随机选择码转换为电平信号传递给测试向量生成系统，还接收测试向量生成系统发回的反馈信号，用于监测测试向量生成系统的运行状况；测试向量生成系统接收来自信号传递系统的信号并生成测试向量发送给试验电路板；该装置能够实现待辐照电路在辐照过程中处于动态偏置，从而实现动态总剂量试验，全面的考核器件的抗总剂量性能。
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公开(公告)号：CN104009758A
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201410188432.X
申请日：2014-05-06
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明涉及数字模拟转换电路单粒子瞬态效应检测装置及其检测方法，本发明明确了不同类别单粒子瞬态效应需要捕获的特征参数，及其统计分析方法，开发相应的检测试验装置，可以连续不间断检测和捕获发生的单粒子瞬态效应及其特征参数，实时发回记录结果，并自动实现按效应类别的统计分析；该检测装置实现了单粒子瞬态效应信号的连续自动检测、捕获和数据分析，解决了目前单粒子瞬态效应试验装置人工记录导致试验暂停造成的人为误差，以及后续统计分析效率低下的问题，大大提高了试验结果的准确性，提高了测试效率并节约了人工成本，可以有效地考核评估器件抗单粒子瞬态效应能力。
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公开(公告)号：CN110083081B
公开(公告)日：2020-08-04
申请号：CN201910178186.2
申请日：2019-03-11
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G05B19/042 , G01R31/265 , G01R31/308
Abstract: 本发明涉及一种自动化单粒子辐照测试控制系统及方法，包括实验仪器程控模块、注量率监测模块、错误数统计模块、计时检测模块。本发明通过预设辐照条件阈值，实现了芯片辐照测试自动的开启和关闭，有效的提高了集成电路单粒子辐照试验的自动化程度，减小了单粒子辐照试验机时的浪费和实验人员的工作量；同时生成的数据文件包含了全部的试验数据(粒子注量率、粒子总注量、测试电流、单粒子错误数、测试波形)，提高了单粒子试验准确度，便于后续人员对试验结果的分析。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105445640B
公开(公告)日：2018-05-08
申请号：CN201510825255.6
申请日：2015-11-24
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G01R31/265
Abstract: 基于脉冲激光设备的不同测试指令集的单粒子敏感性判定方法，考虑器件不同测试测试指令集之间的差异性以及应用环境的多样性，通过在不同测试指令集下进行脉冲激光单粒子试验，可以得到不同测试指令集之间的单粒子敏感系数，然后只需要在重离子加速器下进行某一测试指令集的单粒子辐照试验，通过计算就可以判定其他测试指令集下的单粒子辐照试验结果。这一方法解决了重离子机时紧张等不足，利用脉冲激光的机时灵活，操作简便，获取数据方便的优点，能够较好的解决单粒子敏感性判定中遇到的难题。
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公开(公告)号：CN103076557B
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201210512499.5
申请日：2012-11-30
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G01R31/317
Abstract: 一种Spacewire电路单粒子功能中断测试方法，步骤为：首先利用SPARCV8处理器和Spacewire电路分别建立两套测试系统，两套测试系统通过各自的Spacewire电路建立数据传输通道。然后将Spacewire电路B置于粒子辐照环境中。设定数据传输路径为测试系统A向测试系统B发送数据，测试系统B接收到数据后将接收到的数据再次转发给测试系统A；数据传输开始后，如果测试系统A无法向测试系统B发送数据或者测试系统A无法从测试系统B获取转发数据，则判断Spacewire电路B发生单粒子功能中断，根据回读的Spacewire电路B的控制寄存器的数据分析造成功能中断的原因。本发明方法可为开展单粒子效应与微电子器件相关研究提供依据。
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公开(公告)号：CN103001636A
公开(公告)日：2013-03-27
申请号：CN201210548033.0
申请日：2012-12-11
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H03M1/10
Abstract: 一种折叠内插式模数转换器件的单粒子效应检测方法，可以自动检测折叠内插式的高速模数转换器件在单粒子轰击条件下由单粒子轰击引起的单粒子错误及单粒子闩锁情况，并能够对单粒子错误的情况进行分类比较。本发明方法将被测模数转换器件设置在高频率工作的情况下，能够有效检测被测模数转换器件的输出变化。本发明方法充分利用了单粒子错误发生前后的内在逻辑关系，能够准确判定发生单粒子错误发生的数据位及单粒子错误引起的模数转换器件的输出的精度误差。
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公开(公告)号：CN109639457B
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN201811368413.X
申请日：2018-11-16
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 一种JESD204B协议高速发送器单粒子错误率的测试系统及方法，将高速发送器和可编程逻辑器件搭建成测试系统，可编程逻辑器件产生并行数据给高速发送器的并行端，同时配置高速发送器；高速发送器产生的串行数据发送给可编程逻辑器件并进行串并转换，然后可编程逻辑器件对低速的数据进行解析，检测高速发送器的单粒子错误率。本发明有效的提高了单粒子机时利用率，且数据链路完整，利用可编程逻辑器件将高速串行数据解串为低速的并行数据进行处理，而不是利用误码仪和高速示波器等昂贵的仪器进行监测，提升高速信号测试稳定性，并且降低了试验成本；按照不同错误类型自动分类进行统计，提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN107025331B
公开(公告)日：2020-07-03
申请号：CN201710119527.X
申请日：2017-03-02
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Inventor： 赵元富 , 郑宏超 , 李哲 , 岳素格 , 王亮 , 李建成 , 陈茂鑫 , 喻贤坤 , 姜柯 , 于春青 , 王汉宁 , 刘琳 , 毕潇 , 杜守刚 , 王煌伟 , 赵旭 , 穆里隆 , 李继华 , 简贵胄 , 初飞 , 祝长民 , 王思聪 , 李月
IPC: G06F30/398
Abstract: 本发明公开了一种存储单元单粒子翻转功能传播率的计算方法及装置。该方法包括：获取仿真输入向量的仿真时间，并统计数字集成电路中预选单一种类的存储单元的数量；统计每个存储单元的单粒子翻转有效生存时间；根据所述单粒子翻转有效生存时间和所述仿真时间，计算每个存储单元的单粒子翻转功能传播率，所述单粒子翻转功能传播率为发生单粒子翻转的存储单元被捕获且传播的概率；利用每个存储单元的单粒子翻转功能传播率和所述数量，计算所述预选单一种类的存储单元的单粒子翻转功能传播率。本发明实现了区分和模拟单粒子翻转效应在不同种类存储单元中的产生、捕获、掩蔽及传导过程，提高集成电路级单粒子翻转效应的仿真准确度的目的。
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