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公开(公告)号：CN103076557B
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201210512499.5
申请日：2012-11-30
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/317
摘要： 一种Spacewire电路单粒子功能中断测试方法，步骤为：首先利用SPARCV8处理器和Spacewire电路分别建立两套测试系统，两套测试系统通过各自的Spacewire电路建立数据传输通道。然后将Spacewire电路B置于粒子辐照环境中。设定数据传输路径为测试系统A向测试系统B发送数据，测试系统B接收到数据后将接收到的数据再次转发给测试系统A；数据传输开始后，如果测试系统A无法向测试系统B发送数据或者测试系统A无法从测试系统B获取转发数据，则判断Spacewire电路B发生单粒子功能中断，根据回读的Spacewire电路B的控制寄存器的数据分析造成功能中断的原因。本发明方法可为开展单粒子效应与微电子器件相关研究提供依据。
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公开(公告)号：CN103001636A
公开(公告)日：2013-03-27
申请号：CN201210548033.0
申请日：2012-12-11
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： H03M1/10
摘要： 一种折叠内插式模数转换器件的单粒子效应检测方法，可以自动检测折叠内插式的高速模数转换器件在单粒子轰击条件下由单粒子轰击引起的单粒子错误及单粒子闩锁情况，并能够对单粒子错误的情况进行分类比较。本发明方法将被测模数转换器件设置在高频率工作的情况下，能够有效检测被测模数转换器件的输出变化。本发明方法充分利用了单粒子错误发生前后的内在逻辑关系，能够准确判定发生单粒子错误发生的数据位及单粒子错误引起的模数转换器件的输出的精度误差。
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公开(公告)号：CN103675638B
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201310676366.6
申请日：2013-12-11
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 本发明涉及一种新型的通用动态总剂量试验装置，包括位于辐照室外的上位机和信号传递系统，位于辐照室内的测试向量生成系统，上位机向信号传递系统发送随机向量的码型，控制试验电路板的电源，监控待测电路的动态偏置电流，监测整个装置的运行状况；信号传递系统收上位机发送的随机选择码，同时将随机选择码转换为电平信号传递给测试向量生成系统，还接收测试向量生成系统发回的反馈信号，用于监测测试向量生成系统的运行状况；测试向量生成系统接收来自信号传递系统的信号并生成测试向量发送给试验电路板；该装置能够实现待辐照电路在辐照过程中处于动态偏置，从而实现动态总剂量试验，全面的考核器件的抗总剂量性能。
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公开(公告)号：CN104009758A
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201410188432.X
申请日：2014-05-06
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
摘要： 本发明涉及数字模拟转换电路单粒子瞬态效应检测装置及其检测方法，本发明明确了不同类别单粒子瞬态效应需要捕获的特征参数，及其统计分析方法，开发相应的检测试验装置，可以连续不间断检测和捕获发生的单粒子瞬态效应及其特征参数，实时发回记录结果，并自动实现按效应类别的统计分析；该检测装置实现了单粒子瞬态效应信号的连续自动检测、捕获和数据分析，解决了目前单粒子瞬态效应试验装置人工记录导致试验暂停造成的人为误差，以及后续统计分析效率低下的问题，大大提高了试验结果的准确性，提高了测试效率并节约了人工成本，可以有效地考核评估器件抗单粒子瞬态效应能力。
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公开(公告)号：CN104009758B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201410188432.X
申请日：2014-05-06
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
摘要： 本发明涉及数字模拟转换电路单粒子瞬态效应检测装置及其检测方法，本发明明确了不同类别单粒子瞬态效应需要捕获的特征参数，及其统计分析方法，开发相应的检测试验装置，可以连续不间断检测和捕获发生的单粒子瞬态效应及其特征参数，实时发回记录结果，并自动实现按效应类别的统计分析；该检测装置实现了单粒子瞬态效应信号的连续自动检测、捕获和数据分析，解决了目前单粒子瞬态效应试验装置人工记录导致试验暂停造成的人为误差，以及后续统计分析效率低下的问题，大大提高了试验结果的准确性，提高了测试效率并节约了人工成本，可以有效地考核评估器件抗单粒子瞬态效应能力。
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公开(公告)号：CN103076557A
公开(公告)日：2013-05-01
申请号：CN201210512499.5
申请日：2012-11-30
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/317
摘要： 一种Spacewire电路单粒子功能中断测试方法，步骤为：首先利用SPARCV8处理器和Spacewire电路分别建立两套测试系统，两套测试系统通过各自的Spacewire电路建立数据传输通道。然后将Spacewire电路B置于粒子辐照环境中。设定数据传输路径为测试系统A向测试系统B发送数据，测试系统B接收到数据后将接收到的数据再次转发给测试系统A；数据传输开始后，如果测试系统A无法向测试系统B发送数据或者测试系统A无法从测试系统B获取转发数据，则判断Spacewire电路B发生单粒子功能中断，根据回读的Spacewire电路B的控制寄存器的数据分析造成功能中断的原因。本发明方法可为开展单粒子效应与微电子器件相关研究提供依据。
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公开(公告)号：CN103021469A
公开(公告)日：2013-04-03
申请号：CN201210512620.4
申请日：2012-11-30
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G11C29/44
摘要： 一种存储器电路的通用单粒子效应检测方法，步骤为：(1)配置待测存储器为写状态并写入测试向量，然后将待测存储器置于辐照环境中；(2)若进行动态测试，则将待测存储器配置为读状态，将各地址单元存储的数据读出并与写入数据比较，将比较结果不一致的地址单元的数量作为总错误计数，并进一步分析各地址单元发生2位或以上数据翻转的情况；(3)若是静态测试，则将待测存储器配置为不读不写状态，当辐照过程中的累计辐照粒子达到标准后，顺序读出各地址单元内的数据并与写入数据比较，将比较结果不一致的地址单元的数量作为总错误计数。在辐照过程中，实时监测待测存储器的工作电流，当工作电流超过正常工作电流的1.5倍时判定发生闩锁。
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公开(公告)号：CN103675546B
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201310675184.7
申请日：2013-12-11
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/00
摘要： 本发明涉及图像传感器的单粒子效应检测装置，该检测装置包括图像处理模块、电源、程控电源和试验电路板，其中试验电路板上设置有成像电子系统和待检测图像传感器，采用的图像处理模块能够识别粒子轰击产生的白斑，统计出白斑的个数及所占的像素大小，便于分析粒子轰击产生的单粒子瞬态对于图像传感器的像素的影响，能够有效的检测并评估图像传感器的单粒子效应敏感性，本发明单粒子效应检测装置实现了有效全面的检测粒子辐照过程中产生的单粒子效应，能够有效的考核器件的抗单粒子效应性能指标。
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公开(公告)号：CN103001636B
公开(公告)日：2015-07-08
申请号：CN201210548033.0
申请日：2012-12-11
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： H03M1/10
摘要： 一种折叠内插式模数转换器件的单粒子效应检测方法，可以自动检测折叠内插式的高速模数转换器件在单粒子轰击条件下由单粒子轰击引起的单粒子错误及单粒子闩锁情况，并能够对单粒子错误的情况进行分类比较。本发明方法将被测模数转换器件设置在高频率工作的情况下，能够有效检测被测模数转换器件的输出变化。本发明方法充分利用了单粒子错误发生前后的内在逻辑关系，能够准确判定发生单粒子错误发生的数据位及单粒子错误引起的模数转换器件的输出的精度误差。
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公开(公告)号：CN103675546A
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：CN201310675184.7
申请日：2013-12-11
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/00
摘要： 本发明涉及图像传感器的单粒子效应检测装置，该检测装置包括图像处理模块、电源、程控电源和试验电路板，其中试验电路板上设置有成像电子系统和待检测图像传感器，采用的图像处理模块能够识别粒子轰击产生的白斑，统计出白斑的个数及所占的像素大小，便于分析粒子轰击产生的单粒子瞬态对于图像传感器的像素的影响，能够有效的检测并评估图像传感器的单粒子效应敏感性，本发明单粒子效应检测装置实现了有效全面的检测粒子辐照过程中产生的单粒子效应，能够有效的考核器件的抗单粒子效应性能指标。
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