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公开(公告)号：CN109841240B
公开(公告)日：2020-10-16
申请号：CN201811573607.3
申请日：2018-12-21
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G11C7/06
摘要： 本发明涉及一种SRAM型存储器高速灵敏放大器电路，在读取“1”存储单元时，通过电容C1的电荷保持特性，通过正反馈加快锁存放大器的整体响应速度，使放大器对输入电压差的要求大大降低，加快了SRAM型存储器读取“1”的速度；在读取“0”存储单元时，通过读取使能信号S的跳变对与非门I1的控制，依靠晶体管MP5快速上拉作用，读出存储数据，对输入电压差的要求大大降低，加快灵敏放大器的读出速度，加快了SRAM型存储器读取“0”的速度。本发明降低了灵敏放大器对输入压差的要求，提高了灵敏放大器的反应速度和处理能力。
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公开(公告)号：CN107167725B
公开(公告)日：2019-10-25
申请号：CN201710201165.9
申请日：2017-03-30
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
发明人： 赵元富 , 郑宏超 , 李哲 , 岳素格 , 王亮 , 李建成 , 陈茂鑫 , 喻贤坤 , 姜柯 , 于春青 , 王汉宁 , 刘琳 , 毕潇 , 杜守刚 , 王煌伟 , 赵旭 , 穆里隆 , 李继华 , 简贵胄 , 初飞 , 祝长民 , 王思聪 , 李月
IPC分类号： G01R31/3183
摘要： 本发明公开了一种快速低开销全自动数字集成电路单粒子故障注入系统，包括人机操作界面、故障注入器，其中故障注入器包括：故障电路网表代码生成模块、功能向量和故障随机信号产生模块、仿真统计和计算输出模块。本发明实现了单粒子故障注入的全自动进行，同时对过程文件进行了实时处理，避免了存储量过大造成的内存爆炸对仿真性能造成影响，降低了用于仿真的计算器的开销。
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公开(公告)号：CN107167725A
公开(公告)日：2017-09-15
申请号：CN201710201165.9
申请日：2017-03-30
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
发明人： 赵元富 , 郑宏超 , 李哲 , 岳素格 , 王亮 , 李建成 , 陈茂鑫 , 喻贤坤 , 姜柯 , 于春青 , 王汉宁 , 刘琳 , 毕潇 , 杜守刚 , 王煌伟 , 赵旭 , 穆里隆 , 李继华 , 简贵胄 , 初飞 , 祝长民 , 王思聪 , 李月
IPC分类号： G01R31/3183
摘要： 本发明公开了一种快速低开销全自动数字集成电路单粒子故障注入系统，包括人机操作界面、故障注入器，其中故障注入器包括：故障电路网表代码生成模块、功能向量和故障随机信号产生模块、仿真统计和计算输出模块。本发明实现了单粒子故障注入的全自动进行，同时对过程文件进行了实时处理，避免了存储量过大造成的内存爆炸对仿真性能造成影响，降低了用于仿真的计算器的开销。
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公开(公告)号：CN103675638B
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201310676366.6
申请日：2013-12-11
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 本发明涉及一种新型的通用动态总剂量试验装置，包括位于辐照室外的上位机和信号传递系统，位于辐照室内的测试向量生成系统，上位机向信号传递系统发送随机向量的码型，控制试验电路板的电源，监控待测电路的动态偏置电流，监测整个装置的运行状况；信号传递系统收上位机发送的随机选择码，同时将随机选择码转换为电平信号传递给测试向量生成系统，还接收测试向量生成系统发回的反馈信号，用于监测测试向量生成系统的运行状况；测试向量生成系统接收来自信号传递系统的信号并生成测试向量发送给试验电路板；该装置能够实现待辐照电路在辐照过程中处于动态偏置，从而实现动态总剂量试验，全面的考核器件的抗总剂量性能。
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公开(公告)号：CN104009758A
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201410188432.X
申请日：2014-05-06
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
摘要： 本发明涉及数字模拟转换电路单粒子瞬态效应检测装置及其检测方法，本发明明确了不同类别单粒子瞬态效应需要捕获的特征参数，及其统计分析方法，开发相应的检测试验装置，可以连续不间断检测和捕获发生的单粒子瞬态效应及其特征参数，实时发回记录结果，并自动实现按效应类别的统计分析；该检测装置实现了单粒子瞬态效应信号的连续自动检测、捕获和数据分析，解决了目前单粒子瞬态效应试验装置人工记录导致试验暂停造成的人为误差，以及后续统计分析效率低下的问题，大大提高了试验结果的准确性，提高了测试效率并节约了人工成本，可以有效地考核评估器件抗单粒子瞬态效应能力。
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公开(公告)号：CN109714040B
公开(公告)日：2023-04-18
申请号：CN201811573572.3
申请日：2018-12-21
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： H03K19/003
摘要： 本发明公开了一种带反馈控制的CMOS输出驱动电路，包括CMOS驱动电路、反馈控制电路；反馈电路包含一个用于器件保护的处于常导通的MOS管、一个控制反馈回路开启或者关断的MOS管、一个辅助驱动MOS管、一个由电阻与辅助驱动MOS管栅电容构成的RC冲(放)电电路；本发明用于CMOS器件输出驱动电路中，其特点是通过反馈回路控制器件输出信号的斜率，在减小输出信号斜率的同时尽可能保证器件的传输延迟不受影响。
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公开(公告)号：CN113128156A
公开(公告)日：2021-07-16
申请号：CN202110432103.5
申请日：2021-04-21
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G06F30/367
摘要： 本发明公开了一种QDR SRAM应用验证系统，包括PC机、QDRSRAM应用验证板和程控电源，该系统实现了对被测QDR SRAM电路各种功能的全面验证。本发明同时公开了一种基于该系统的验证方法，该方法首先确定上电顺序，然后进行读写功能应用验证、JTAG功能应用验证和I/O电流特性应用验证。本发明验证功能全面、通用性强，对QDR SRAM的应用验证具有重要意义。
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公开(公告)号：CN105445640B
公开(公告)日：2018-05-08
申请号：CN201510825255.6
申请日：2015-11-24
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/265
摘要： 基于脉冲激光设备的不同测试指令集的单粒子敏感性判定方法，考虑器件不同测试测试指令集之间的差异性以及应用环境的多样性，通过在不同测试指令集下进行脉冲激光单粒子试验，可以得到不同测试指令集之间的单粒子敏感系数，然后只需要在重离子加速器下进行某一测试指令集的单粒子辐照试验，通过计算就可以判定其他测试指令集下的单粒子辐照试验结果。这一方法解决了重离子机时紧张等不足，利用脉冲激光的机时灵活，操作简便，获取数据方便的优点，能够较好的解决单粒子敏感性判定中遇到的难题。
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公开(公告)号：CN103076557B
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201210512499.5
申请日：2012-11-30
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/317
摘要： 一种Spacewire电路单粒子功能中断测试方法，步骤为：首先利用SPARCV8处理器和Spacewire电路分别建立两套测试系统，两套测试系统通过各自的Spacewire电路建立数据传输通道。然后将Spacewire电路B置于粒子辐照环境中。设定数据传输路径为测试系统A向测试系统B发送数据，测试系统B接收到数据后将接收到的数据再次转发给测试系统A；数据传输开始后，如果测试系统A无法向测试系统B发送数据或者测试系统A无法从测试系统B获取转发数据，则判断Spacewire电路B发生单粒子功能中断，根据回读的Spacewire电路B的控制寄存器的数据分析造成功能中断的原因。本发明方法可为开展单粒子效应与微电子器件相关研究提供依据。
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公开(公告)号：CN103001636A
公开(公告)日：2013-03-27
申请号：CN201210548033.0
申请日：2012-12-11
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： H03M1/10
摘要： 一种折叠内插式模数转换器件的单粒子效应检测方法，可以自动检测折叠内插式的高速模数转换器件在单粒子轰击条件下由单粒子轰击引起的单粒子错误及单粒子闩锁情况，并能够对单粒子错误的情况进行分类比较。本发明方法将被测模数转换器件设置在高频率工作的情况下，能够有效检测被测模数转换器件的输出变化。本发明方法充分利用了单粒子错误发生前后的内在逻辑关系，能够准确判定发生单粒子错误发生的数据位及单粒子错误引起的模数转换器件的输出的精度误差。
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